способ, устройство и система для подтверждения подлинности изделий электронной техники

Формула изобретения

1. Способ подтверждения подлинности изделия, которое содержит, по меньшей мере, один разъем для подачи входного сигнала и один разъем для снятия выходного сигнала, характеризующийся тем, что в качестве входного воздействия используется сигнал с частотой в диапазоне от f₁ до f₂, выбранный таким образом, что характерные резонансные частоты внутреннего объема корпуса , где с - скорость света, L_i - характерные размеры - высота, ширина, глубина корпуса исследуемого изделия, меньше частоты f₂, снимаются электрические характеристики выходного сигнала, которые сравнивается с аналогичными характеристиками эталонного сигнала, полученными при использовании образца из той же партии изделий с предварительно детально исследованной внутренней структурой, выбранного в качестве эталонного образца.

2. Способ по п. 1, в котором в качестве входного сигнала используется сигнал с "качанием" частоты и анализируется спектр выходного сигнала.

3. Способ по п. 1, в котором входной сигнал подается непосредственно на один из разъемов изделия, а выходной сигнал анализируется непосредственно на другом разъеме.

4. Способ по п. 1, в котором входной сигнал подается непосредственно на входной разъем изделия, а выходной сигнал анализируется через антенну, расположенную вблизи выходного разъема изделия.

5. Способ по п. 1, при котором питающее постоянное напряжение на изделие не подается.

Описание изобретения к патенту

Область техники, к которой относится изобретение

Настоящее изобретение относится к области электронной техники, а именно к способу подтверждения подлинности изделий электронной техники (корпусированных приборов, блоков, модулей).

Уровень техники

Стандартным путем исследования партии приборов является разборка и полный анализ одного или нескольких образцов из партии и попытка сравнить остальные образцы с уже исследованными изделиями, принимаемыми за эталон. Методы являются, как правило, разрушающими, по крайней мере, нарушается пломбировка корпуса. На настоящее время единственным методом, который позволяет исследовать внутреннее строение радиоэлектронного изделия без вскрытия корпуса, является рентгеновская томография [1]. Этому методу присущи два основных недостатка: во-первых, дорогостоящее громоздкое оборудование, требующее защиты персонала от рентгеновского излучения, во-вторых, возможность с помощью специальных «закладок» в приборе устанавливать факт такого высокоэнергетического исследования и осуществлять соответствующее программное противодействие самому исследовательскому процессу. Естественно возникает задача поиска альтернативных методов исследования приборов в корпусе. Кроме того, использование рассеивающих материалов в конструкции изделия позволяет маскировать внедренные элементы, и, в случае невозможности разборки блока, обнаружить данные элементы (с помощью рентгеновской томографии) затруднительно.

Из существующего уровня техники также известно высокочастотное навязывание или интермодуляционное излучение с выходным сигналом в узком диапазоне около одной фиксированной частоты и выделение в анализируемом сигнале полезной информации, как правило, речевой информации [2]. Недостатком данного подхода является ограниченная функциональность, т.к. система настроена на заранее определенный вид информации.

Известна система доступа с "проксимити" - картой, система идентификации пользователя с входящим воздействием в виде импульса при анализе "отраженного" сигнала во временной области для определения кода, хранящегося в карте доступа [3]. Недостатками данного подхода являются трудность обработки сигнала во временной области, обнаружение только одного специфического свойства.

Наиболее близким к заявленному техническому решению является американский патент US 2009/0184719 [4], в котором описывается метод исследования среды работающей микросхемы и устройство для его реализации. Устройство, реализующее способ, состоит из загрузочной платы, розетки и антенны. Загрузочная плата снабжена креплением для тестируемого элемента, например интегральной схемы, и электрически соединена с питающим разъемом. Антенна расположена за загрузочной платой и закрыта для сокета. С помощью такого расположения антенна способна снимать беспроводной сигнал и производить его мониторинг в среде тестирования, фиксируя превышение шумовых значений в среде тестирования интегральной схемы. Недостатками данного технического решения является отсутствие возможности получения информации о внутреннем устройстве исследуемого изделия, а также отсутствие контроля характера беспроводного сигнала, что не позволяет говорить о подлинности тестируемого изделия, а позволяет всего лишь узнать попадание внешнего беспроводного сигнала в интервал допустимых для исследуемого элемента по техническим условиям.

Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является устранение недостатков прототипа, а именно подтверждение подлинности (контроль однородности) партии изделий электронной техники (корпусированных приборов, блоков, модулей) неразрушающим низкоэнергетическим методом, позволяющим осуществлять поиск закладок путем сравнения характеристик исследуемых изделий с характеристиками эталонного изделия, детально исследованного разрушающими методами.

Данная задача решается за счет того, что заявленный способ подтверждения подлинности изделия, которое содержит, по меньшей мере, один разъем для подачи входного сигнала и один разъем для снятия выходного сигнала, характеризующийся тем, что в качестве входного воздействия используется сигнал с частотой в диапазоне от f₁ до f₂, выбранный таким образом, что характерные резонансные частоты внутреннего объема корпуса , где с - скорость света, L_i - характерные размеры - высота, ширина, глубина корпуса исследуемого изделия, меньше частоты f₂, снимаются электрические характеристики выходного сигнала, которые сравнивается с аналогичными характеристиками эталонного сигнала, полученными при использовании образца из той же партии изделий с предварительно детально исследованной внутренней структурой, выбранного в качестве эталонного образца.

Раскрытие изобретения

Варианты осуществления настоящего изобретения предусматривают способ для эффективного подтверждения подлинности изделий электронной техники (корпусированных приборов, блоков, модулей) в рамках одной партии.

Вариант осуществления настоящего изобретения предусматривает способ подтверждения подлинности изделий электронной техники с помощью внутреннего радиопортрета (под термином «внутренний радиопортрет» мы понимаем совокупность амплитудно-частотных, фазо-частотных и временных (импульсный отклик) характеристик, полученных с различных выводов изделия, который включает:

выбор эталонного изделия из партии и снятие его внутреннего радиопортрета, который в дальнейшем рассматривается как эталонный радиопортрет);

детальное изучение внутренней структуры исследованного эталонного изделия с помощью разрушающих методов исследования, подтверждение его подлинности на основе полученных характеристик и сравнения их с техническим описанием;

получение внутренних радиопортретов для других изделий из партии;

сравнение эталонного радиопортрета с радиопортретами других изделий из партии.

Техническим результатом, обеспечиваемым приведенной совокупностью признаков, является подтверждение подлинности партии изделий электронной техники без разрушения (как минимум сохраняются все пломбировочные элементы, на основании которых определяется гарантия партии заводом-изготовителем) всех изделий партии, причем время на исследование значительно меньше времени исследования электрических параметров или функционального контроля изделия электронной техники.

Сущность изобретения поясняется чертежами, на которых изображено:

Фиг. 1 - Блок-схема, частично иллюстрирующая способ подтверждения подлинности электронных изделий с помощью сравнения их радиопортретов.

Фиг. 2 - График амплитудно-частотной характеристики между входом и выходом тестового усилителя с закладным устройством и без него.

Фиг. 3 - Схематичное изображение стенда для контроля подлинности партии изделий с помощью измерения внутреннего радиопортрета.

Фиг. 4 - Блок схема варианта 1 осуществления блока измерения стенда, реализующего описываемое изобретение.

Подробное описание изобретения

Фиг. 1 частично иллюстрирует последовательность действий, необходимых для проведения проверки подлинности изделия электронной техники. И включает в себя следующие этапы:

Этап 101: выбор эталона, получение эталонного внутреннего радиопортрета изделия с помощью варианта оборудования для получения внутреннего радиопортета;

Этап 102: разрушающее исследование эталонного образца, подтверждение выбора эталона;

Этап 103: с помощью того же оборудования, реализующего способ, в тех же режимах измерения происходит получение внутреннего радиопортрета всех остальных изделий из партии;

Этап 104: сравнение эталонного радиопортрета с радиопортретами других изделий из партии;

Этап 105: при совпадениях радиопортретов делается вывод о принадлежности изделия к группе подлинников; при различных радиопортретах делается вывод о принадлежности изделия к группе подделок.

Фиг. 2 иллюстрирует различные радипортреты для эталонного изделия (без закладки) (1 на фиг. 2) и тестируемого изделия (с закладкой) (2 на фиг. 2).

На фиг. 3 представлена схема стенда, реализующего описываемое изобретение. Стенд состоит из блока программирования режима измерений, который позволяет настроить режим измерения внутреннего радиопортрета исходя из особенностей контролируемых изделий (1 на фиг. 3), блока измерения, который отвечает за получение внутреннего радиопортрета всех контролируемых изделий партии (2 на фиг. 3), объекта испытания (испытуемого изделия) (3, на фиг. 3), блока преобразования, который переводит полученные радиопортреты в удобную для обработки и хранения форму (4 на фиг. 3), базы эталонов, которая служит для хранения эталонных радиопортретов, названия изделия, режима измерения, используемого для получения радиопортрета (5 на фиг. 3), блока решателя, который служит для автоматического или автоматизированного сравнения радиопортретов тестируемых изделий с эталоном и принятия решения об отнесения тестируемого изделия к группе подлинников или к группе подделок (6 на фиг. 3). Опционально стенд может быть снабжен блоком отчетов для автоматической генерации отчетов о результатах проверки подлинности изделий в рамках одной партии (7 на фиг. 3).

Далее описаны варианты реализации блока измерения как составной части стенда, схематично изображенного на фиг. 3.

Вариант осуществления 1

В этом варианте блок измерения состоит из генератора фиксированной частоты (401 на фиг. 4), тестируемого изделия (402 на фиг. 4) и селективного вольтметра (403 на фиг. 4) или иного регистрирующего прибора, который способен выделять отдельные гармонические составляющие сигнала сложной формы и определять среднеквадратичное значение их напряжения (например, супергетеродинный радиоприемник). В этом варианте для получения радиопортрета используется ручная перестройка частоты.

Вариант осуществления 2

В этом варианте генератор качающейся частоты и автоматически перестраиваемый приемник-анализатор, например измеритель панорамный АЧХ и ФЧХ.

Из вышеописанных вариантов осуществления специалисты в данной области техники могут легко понять, что изобретение можно реализовать в виде оборудования или в виде сочетания программного обеспечения и необходимой аппаратной общей платформы.

Выше описаны лишь некоторые иллюстративные варианты осуществления настоящего изобретения, которые не призваны как-либо ограничивать объем изобретения. Любые модификации, эквиваленты и усовершенствования, отвечающие принципам изобретения, подлежат включению в объем изобретения.

ИСТОЧНИКИ ИНФОРМАЦИИ

1. Вайнберг И.А., Вайнберг Э.И. Компьютерные томографы для неразрушающего контроля и количественной диагностики изделий аэрокосмической промышленности. - Двигатель. - № 2 (56). - 2008 г. доступно на http://engine.aviaport.ru/issues/56/page19.html.

2. Каторин Ю.Ф. и др. Большая энциклопедия промышленного шпионажа. - С. Петербург: ООО «Издательство Полигон», 2000. - 512 с.

3. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕРМОДУЛЯЦИОННЫХ ПАРАМЕТРОВ СЛУЧАЙНОЙ АНТЕННЫ. Патент RU 2429495 С2, МПК G01R 29/08, опубл. 10.09.2011.

4. IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATIVE DEVICE AND METHOD. Патент US 2009/0184719, МПК G01R 29/08, G01R 31/01, H01Q 9/04, опубл. 9.01.2008.