Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения: ..для измерения толщины – G01B 11/06

Изобретение относится к вакуумной технике, а именно к установкам для напыления многослойных покрытий нанометровой толщины, используемых, например, в качестве спектральных фильтров для оптических приборов в приборостроении, и может быть использовано для напыления покрытий со строго заданной толщиной и полосой пропускания оптического спектра. Заявляется способ измерения толщин нанометровых слоев многослойного покрытия, проводимого в процессе его напыления, включающий измерение спектра пропускания нанесенного на контрольную подложку покрытия в широком спектральном диапазоне и вычисление толщины напыляемого слоя. Новым является то, что в качестве контрольной подложки используют подложку с предварительно нанесенным слоем достаточной толщины, чтобы в спектральной зависимости отражения и/или пропускания от подложки с предварительно нанесенным слоем появился хотя бы один локальный экстремум или хотя бы одна точка перегиба, при этом само измерение толщины слоя может быть проведено как в режиме измерения спектра отражения, так и в режиме измерения спектра пропускания. 4 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к области бесконтактного измерения плотности пористого материала с использованием измерения коэффициента преломления материала посредством оптической когерентной томографии. При помощи метода оптической когерентной томографии определяют оптический путь, соответствующий прохождению через объект, выполненный из пористого материала и который является сферическим и полым, светового луча, используемого для осуществления указанного метода, определяют толщину объекта, определяют коэффициент преломления пористого материала на основании оптического пути и толщины и определяют плотность пористого материала на основании определенного коэффициента преломления. Изобретение обеспечивает повышение точности вычисления плотности. 2 з.п. ф-лы, 7 ил., 1 табл.

Способ может быть использован для бесконтактных, непрерывных измерений толщин прозрачной пленки. Способ включает направленное воздействие лучей света на пленку, их полное внутреннее отражение на границе раздела сред и последующую обработку отраженного света. Источник света помещают над пленкой или под пленкой, от которого образуются лучи света, направленные под углами - меньшими предельного угла отражения на границе пленка - воздух и большими предельного угла отражения на границе пленка - воздух. Фиксируют изображение искаженного светового пятна, образованного на твердой поверхности под пленкой в результате полного внутреннего отражения света на границе раздела пленка - воздух, на видеокамеру в течение всего времени измерения, обрабатывают на компьютере, измеряют геометрические размеры светового пятна и определяют толщину пленки по формуле: h=(D-d)/[4tg arcsin (n₂/n₁)], где h - толщина пленки, D - длина главной диагонали эллипса, аппроксимирующего область светового кольца, d - размер источника света на поверхности, n₂ - коэффициент преломления воздуха, n₁ - коэффициент преломления материала пленки. Технический результат - создание простого способа, обладающего несложной калибровкой и обеспечивающего возможность прямых непрерывных измерений меняющегося во времени поля толщин прозрачной пленки с малой погрешностью измерения. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к способу отслеживания и возможного регулирования добавления одной или более поверхностных добавок в бумагоделательный процесс. Способ включает стадии: а) добавления известного количества одной или более поверхностных добавок в бумагоделательный процесс в известной пропорции с известным количеством одного или более инертных флуоресцентных маркеров, при этом инертные флуоресцентные маркеры выбраны из группы, состоящей из флуоресцеина или производных флуоресцеина и родамина или производных родамина; б) измерения флуоресцентности одного или более инертных флуоресцентных маркеров в точке после добавления поверхностных добавок и после формирования полотна, при этом флуоресценцию измеряют с помощью флуорометра отражательного типа; в) установление корреляции между величиной флуоресценции инертных флуоресцентных маркеров на полотне и концентрацией поверхностных добавок в покрытии на полотне и/или толщиной покрытия на полотне. Использование предложенного способа позволяет бумагоделательной машине управлять скоростью добавления на очень низких уровнях, имея возможность быстро оценивать и регулировать статически скорости добавления за пределами технических условий. 16 з.п. ф-лы, 2 ил., 1 пр.

Изобретение относится к диагностике состояния контактной сети. Способ измерения износа проводов контактной сети электрифицированных железных дорог заключается в подсвечивании проводов двумя лазерными веерными излучателями, диаграммы направленности которых сведены в параллельные плоскости, расположенные симметрично по обе стороны оптической оси приемной телевизионной камеры. Далее фиксируют телевизионной камерой линии пересечения поверхности провода и плоскостей веерных лучей и по форме линий пересечения посредством компьютера вычисляют степень износа контактного провода. Для получения изображения используют диффузную составляющую отраженного сигнала, причем осветительное и приемное телевизионное оборудование располагают на отдельном измерительном полозе токоприемника. Решение направлено на повышение точности и достоверности определения износа контактного провода. 4 з.п. ф-лы, 5 ил.

Способ аутентификации полимерной пленки, содержащий этап, на котором измеряют толщину слоя внутри этой пленки путем интерферометрии с белым светом. Способ, а также устройства для реализации этого способа, могут использоваться в приложениях защиты, например, для испытания поддельных банкнот. 6 н. и 12 з.п. ф-лы, 5 ил.

Устройство для определения высоты слоя вещества, протекающего по аэрожелобу, содержит источник излучения, соединенный выходом с элементом ввода излучения, элемент вывода излучения, подключенный ко входу измерителя угла поворота плоскости поляризации, и обмотку. В устройство введены преобразователь, усилитель, исполнительный механизм и блок питания. Выход измерителя угла поворота плоскости поляризации соединен со входом преобразователя, выход которого подключен ко входу усилителя. Выход усилителя соединен с первым плечом исполнительного механизма, второе плечо исполнительного механизма подключено к первому плечу блока питания, второе плечо которого соединено с началом обмотки, конец обмотки подключен к третьему плечу исполнительного механизма. Технический результат - уменьшение потребляемой мощности. 1 ил.

Способ включает нанесение слоя на подложку, способную направлять поверхностную электромагнитную волну (ПЭВ), воздействие зондирующим излучением на подложку, преобразование излучения в ПЭВ, регистрацию изменений ПЭВ в результате пробега ей макроскопического расстояния х, расчет толщины слоя по результатам измерений и значениям оптических постоянных вещества слоя и материала подложки. ПЭВ преобразуют в объемную волну, совмещают пучок зондирующего излучения и объемную волну, регистрируют результирующую интенсивность интерферирующих волн до и после пробега ПЭВ расстояния х и рассчитывают толщину нанослоя с учетом приращения фазы ПЭВ на расстоянии х. Технический результат изобретения заключается в повышении точности определения толщины однородного нанослоя в ИК-излучении. 2 ил.

Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения толщины тонких прозрачных пленок. Способ заключается в измерении эллипсометрических параметров и с последующим фиксированием результатов измерения в плоскости в виде кривой, при этом у предварительно спрессованного металлического порошка определяют эллипсометрические параметры и , результаты измерений которых наносят на плоскость, в которой расположены кривые, содержащие фиксированные результаты измерения эллипсометрических параметров и порошка соответствующего металла, предварительно спрессованного, с заранее заданными оптическими параметрами, полученные с использованием ряда значений заданных оптических параметров упомянутого порошка, задаваемых изменением величины объемной доли активного металла с определенным шагом. Изобретение позволяет определять оксидной пленки, образующейся на поверхности порошка металла, а также объемную долю активного металла. 4 ил.

Устройство содержит массивное неподвижное основание с зоной измерений, оптоэлектронные головки, размещенные по разные стороны от листового проката, продольный электропривод с валками для подачи проката в зону измерений, поперечный электропривод для перемещения оптоэлек-тронных головок перпендикулярно направлению подачи листового проката и персональную электронную вычислительную машину (ПЭВМ). Каждая из оптоэлектронных головок содержит источник излучения, позиционно-чувствительный фотоприемник и фокусирующий и приемный объективы. Входы ПЭВМ подключены к выходам фотоприемников, а выходы - к входам электроприводов. Устройство содержит каретку с П-образным держателем, на противоположных концах которого установлены оптоэлектронные головки, вентиляторы с воздушными фильтрами, встроенные в корпус оптоэлектронных головок. Основание выполнено в виде портала, вдоль горизонтальной балки которого размещены направляющие для перемещения каретки, и снабжено зонами парковки для оптоэлектронных головок, образованными П-образными защитными экранами, прикрепленными к основанию. Источники излучения имеют длину волны излучения менее 0,63 мкм. Каждая из оптоэлектронных головок снабжена светофильтром, размещенным перед приемным объективом и настроенным на диапазон длин волн излучения источника излучения данной оптоэлектронной головки. Технический результат - обеспечение контроля толщины горячего листового проката в условиях производства без остановки технологического процесса. 5 з.п. ф-лы, 8 ил.

Способ определения толщины покрытия при плазменно-электролитическом оксидировании включает измерение лучистой энергии в процессе получения покрытия. Излучение детали в диапазоне спектра 380 740 нм фокусируют на светочувствительную матрицу и периодически регистрируют через интервалы времени t_n с выдержкой 1/2 1/2000 с. Затем определяют отношение суммарной площади участков A_n, засвеченных изображениями микроразрядов более чем на пороговое значение 30 99%, к общей площади изображения детали А₀ и интегрируют отношение по времени. Толщину покрытия h определяют по формуле , где k - эмпирический коэффициент пропорциональности, зависящий от природы обрабатываемого материала и состава электролита, n - номер интервала времени, N - число интервалов в отрезке времени Т. Технический результат заключается в обеспечении возможности определения толщины покрытия в процессе плазменно-электролитического оксидирования за счет использования информативного диапазона излучения, расположенного в области видимого света, а также в снижении энергопотребления вследствие исключения передержки. 8 ил., 1 табл.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины листового стекла. Бесконтактный измеритель толщины листового стекла содержит задающий генератор, подающий импульсы на вход коммутатора, от которого разделенные импульсы подаются на лазерные диоды. Сигнал от трех приемников оптического излучения поступает в блок обработки фотоэлектрического сигнала, а затем - в усилитель. Из усилителя сигнал, пропорциональный величине толщины, подается на измерительный прибор. Излучение от первого лазерного диода падает под малым углом на верхнюю поверхность листового стекла, преломляется и попадает на второй приемник оптического излучения. Одновременно под таким же углом излучение от первого лазерного диода попадает на первый приемник оптического излучения, установленный перед листовым стеклом. Излучение от второго лазерного диода падает перпендикулярно к поверхности листового стекла и попадает на третий приемник оптического излучения, установленный после листового стекла. Технический результат - упрощение конструкции и повышение точности. 2 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения по методу оптической триангуляции геометрических размеров, в частности толщины стенки труб в трубосварочном производстве. Способ измерения толщины заключается в том, что пучки излучения направляют с двух сторон перпендикулярно плоскости перемещения контролируемого изделия. Предварительно, в режиме калибрования устройства для измерения толщины, задают диапазон измерений толщины, измеряя координаты световых пятен, соответствующих эталонам максимального и минимального значения измеряемой толщины. Затем, в режиме измерения толщины, измеряют координаты световых пятен, проводя интегральную оценку расположения и размеров световых пятен на каждом фотоприемнике. Источники излучения, фотоприемники и оптические системы жестко зафиксированы на общем основании. Привод выполнен с возможностью непрерывного перемещения контролируемого изделия. Блок обработки и управления содержит синхрогенератор, задатчик режимов с возможностью выбора режима измерения толщины или режима калибрования устройства для измерения толщины, вычислитель результатов измерений, блок интегральной оценки расположения и размеров световых пятен на фотоприемниках, табло отображения результатов измерений. Технический результат - повышение точности измерения толщины при наличии дестабилизирующих факторов производственного процесса и обеспечение возможности измерять толщину контролируемых изделий без замедления производственного процесса. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 9 ил.

Настоящее изобретение касается способа измерения толщины и показателя преломления тонких прозрачных покрытий на подложке. Заявленный способ включает облучение контролируемого покрытия оптическим излучением. При этом перестраивают в узком спектральном диапазоне длину волны падающего на контролируемое покрытие излучения. Далее регистрируют отраженные от покрытия потоки излучения, определяют зависимость отраженного потока излучения от длины волны и определяют на основе этой зависимости зависимость коэффициента отражения от длины волны и первую производную коэффициента отражения трехслойной системы «воздух-покрытие-подложка» и по ним определяют толщину и показатель преломления покрытия. Данный способ позволяет повысить оперативность измерений. 3 ил.

Способ включает формирование лазерного излучения, направляемого с помощью зеркала на объект измерения. Диффузное отражение от передней и задней стенок объекта «собирается» конденсором, один фокус которого располагается внутри «тела» объекта, а другой - на чувствительной площадке фотодиода (pin-фотодиода). Период запуска лазера первоначально устанавливают равным его начальному периоду плюс время задержки фронта нарастания сигнала с фотодиода, отсчитанное от фронта нарастания сигнала запуска лазера. Затем производят измерение этого периода методом его умножения и заполнения образованного временного интервала импульсами генератора стандартной частоты. Затем таким же методом измеряют начальный период запуска лазера, рассчитывают разность измеренных периодов, этим определяют время задержки фронта нарастания сигнала с фотодиода, отсчитанное от фронта нарастания сигнала запуска лазера. Таким же методом рассчитывают время задержки фронта спада сигнала с фотодиода, отсчитанное от фронта спада сигнала запуска лазера. Разность во времени задержки этих двух фронтов пропорциональна толщине измеряемого объекта. Коэффициент пропорциональности между разностью времен задержек двух фронтов и толщиной измеряемого объекта определяется измерением объекта калиброванной толщины. Технический результат заключается в расширении области использования бесконтактных оптических методов измерения физических параметров прозрачных объектов. 2 ил.

Устройство содержит источник монохроматического излучения, держатель образца, вращающееся плоское зеркало и приемник излучения, который подсоединен к регистрирующему устройству. Ось вращения плоского зеркала расположена на его отражающей поверхности. В устройство введены первое сферическое зеркало и второе сферическое зеркало. Первое сферическое зеркало установлено так, что точка, оптически сопряженная с точкой образца, в которой производятся измерения, находится на оси вращения плоского зеркала в месте падения на него излучения источника. Второе сферическое зеркало установлено с возможностью оптического сопряжения точки образца, в которой производятся измерения, и приемной площадки приемника при различных угловых положениях плоского зеркала. Технический результат заключается в обеспечении возможности использования в качестве зондирующего излучения инфракрасного или ультрафиолетового излучения. 1 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для оперативного контроля толщины тонких пленок нефтепродуктов в очистных сооружениях, на внутренних водоемах, акваториях портов и т.п. Технический результат направлен на повышение точности измерений. Неконтактный способ измерения толщины пленки на поверхности материала подложки заключается в облучении поверхности оптическим излучением на разных длинах волн зондирования, регистрации отраженного от поверхности сигнала и определения толщины пленки по результатам анализа зависимости интенсивности отраженного сигнала на длинах волн зондирования, при этом используют плавно или дискретно (от шести длин волн зондирования) перестраиваемый по длине волн в узком диапазоне лазерный источник излучения, по данным измерений отраженного сигнала дополнительно определяют первую R'_ref( , d) и вторую R _ref( , d) производные коэффициента R_ref( , d) отражения трехслойной системы «воздух-пленка-подложка» и вычисляют толщину пленки d по формуле:

где n₂ - показатель преломления материала пленки; r₁₂, r₂₃ - коэффициенты отражения на границе сред «воздух-пленка» и «пленка-подложка» соответственно. 2 ил.

Дистанционный способ измерения толщины тонких пленок на поверхности материала заключается в облучении поверхности материала оптическим излучением на длинах волн зондирования ₁, ₂, ₃, ₄, регистрации отраженного от поверхности сигнала и определении толщины пленки d по результатам анализа зависимости интенсивности отраженного сигнала на длинах волн зондирования ₁, ₂, ₃, ₄, причем длины волн зондирования ₁, ₂, ₃ выбираются так, чтобы ₁= ₂- , ₃= ₂+ , выбирается таким образом, чтобы обеспечить выполнение неравенства где n₂ - показатель преломления тонкой пленки, а длина волны зондирования ₄ выбирается из условия Технический результат - обеспечение устойчивой работы способа измерения толщины тонких пленок в реальных условиях, когда шум измерения составляет единицы процентов. 3 ил.

Способ измерения толщины одного или более слоев оптического диска, включающего разделительный слой и покровный слой, путем использования эффекта интерференции слоя оптического диска, содержит операции: определения силы отраженного света в соответствии с множеством длин волн в качестве спектральных данных; преобразования полученных спектральных данных для каждой длины волны в спектральные значения с использованием показателя преломления, причем указанное спектральное значение является функцией длины волны и показателя преломления; преобразования спектральных значений с использованием быстрого преобразования Фурье; и определения одного или более из упомянутых слоев - разделительного и покровного, соответственно, - на основании максимума преобразованных спектральных значений для каждого слоя. Устройство для реализации способа содержит спектрограф, сконфигурированный для измерения силы отраженного света в соответствии с множеством длин волн и обеспечения спектральных данных по силе отраженного света, которые изменяются как функция длины волны; компьютер, сконфигурированный для преобразования спектральных данных в спектральное значение силы отраженного света, которое изменяется как функция показателя преломления и длины волны, для применения быстрого преобразования Фурье к спектральным значениям и для определения толщины одного или более слоев оптического диска на основании преобразованных спектральных значений. Технический результат - обеспечение способа высокоточного и быстрого измерения толщины оптического диска с использованием положения максимального значения отраженного света в области интерференции; создание усовершенствованного способа высокоточного измерения толщины оптического диска путем точного определения положения максимума, а также предотвращения увеличения ширины максимума при преобразовании Фурье; обеспечение способа точного измерения толщины оптического диска, применимого не только со спектром коэффициента отражения, но и любого другого спектра колебаний, возникающих вследствие интерференции в большой по толщине тонкой пленке. 2 н. и 10 з.п. ф-лы, 11 ил.

Изобретение относится к оптическому зонду и к устройству, содержащему множество таких оптических зондов, предназначенному для измерения толщины нароста инея на аэродинамической поверхности летательного аппарата.

Техническим результатом заявленного изобретения является расширение функциональных возможностей и повышение точности измерения значительной толщины инея (например, несколько десятков сантиметров). Зонд содержит множество измерительных каскадов (с El no En), которые расположены последовательно один над другим, по меньшей мере, по существу ортогонально к основанию зонда, и каждый измерительный каскад содержит, по меньшей мере, один излучатель, который может излучать световой пучок, который является, по меньшей мере, по существу параллельным указанному основанию, и, по меньшей мере, один приемник, который может принимать световой пучок после отражения от инея. 2 н. и 11 з.п.ф-лы, 9 ил.

Способ и устройство неконтактного измерения параметров экструдируемого материала заключается в том, что осуществляют просвечивание экструдируемого материала в виде рукава импульсным излучением источника, который располагают стационарно внутри рукава на его центральной оси, преобразуют прошедший через экструдируемый материал световой поток в электрические сигналы посредством фотодетекторов, установленных снаружи рукава по кольцу. Величину электрических сигналов измеряют и по измеренным значениям определяют параметр экструдируемого материала по интегрированному или пиковому сигналу фотодетекторов и/или распределение параметра по площади материала по соотношению сигналов фотодетекторов. В качестве указанного параметра экструдируемого материала определяют его толщину и/или массу единицы площади. Прошедший через материал световой поток предварительно разделен на, по меньшей мере, один опорный и, по меньшей мере, один измерительный потоки, а их преобразование осуществляют фотодетекторами, оснащенными светофильтрами с разными спектральными характеристиками. Устройство также содержит сенсоры, предназначенные для неподвижного размещения снаружи рукава по кольцу на расстоянии от него и на уровне источника излучения, при этом каждый сенсор включает оптически связанные с источником излучения светофильтр, фотодетектор, последовательно с которым включены блок обработки электрического сигнала, аналогово-цифровой преобразователь и вычислитель. Источник импульсного излучения представляет собой газоразрядную импульсную лампу. Технический результат - повышение скорости измерений и их достоверности, а также упрощение процесса измерения параметров экструдируемого материала. 2 н. и 17 з.п. ф-лы, 4 ил.

Интерферометрическое измерительное устройство содержит низкокогерентный и высококогерентный источники света, оптически связанные посредством светоделителя с входом двухлучевого интерферометра, который выполнен с возможностью периодической модуляции оптической разности хода своих лучей. Выход двухлучевого интерферометра посредством другого светоделителя оптически связан с первым фотоприемником и с волоконным светоделителем, имеющим М выходов. К М-1 выходам волоконного светоделителя подсоединены М-1 волоконно-оптических передающих линий, каждая из которых выполнена с измерительной оптической головкой на одном конце и с волоконным распределителем Y-образного вида на другом конце, при этом одно из плеч волоконного распределителя Y-образного вида оптически связано с соответствующим фотоприемником, а другое его плечо соединено с соответствующим выходом волоконного светоделителя. Кроме того, устройство содержит блок формирования сигналов, соответствующих границам диапазона измерений толщины прозрачных изделий, который подключен к М-ому выходу волоконного светоделителя и выполнен в виде двух эталонов Фабри-Перо, расположенных последовательно по оси перед соответствующим фотоприемником. Технический результат - расширение области использования интерферометрического измерительного устройства за счет обеспечения длительного, непрерывного многопозиционного контроля физических параметров прозрачных материалов и изделий на различных стадиях их производства. 2 н.п. ф-лы, 7 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения и контроля толщины тонких пленок нефтепродуктов в очистных сооружениях, на внутренних водоемах, акваториях портов и т.п. Дистанционный трехволновой способ измерения толщины тонких пленок на поверхности материала путем облучения поверхности оптическим излучением на трех длинах волн зондирования ₁, ₂, ₃, регистрации отраженного от поверхности сигнала и определения толщины пленки d по результатам анализа зависимости интенсивности отраженного сигнала от длины волны, отличающийся тем, что указанные длины волн ₁, ₂, ₃ выбирают так, чтобы ₁= ₂- , ₃= ₂+ , причем выбирается таким образом, чтобы обеспечить выполнение неравенства , где n₂ - показатель преломления тонкой пленки. Технический результат заключается в уменьшении числа волн зондирования и в увеличении диапазона измеряемых величин толщины пленки. 2 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения оптической толщины слоев прозрачных материалов и зазоров между плоскопараллельными поверхностями элементов, один из которых должен быть прозрачным. Устройство содержит источник света, линию задержки и фотоприемник. Между источником света и измеряемым объектом установлен поляризатор света. Перед фотоприемником установлен анализатор. Линия задержки выполнена в виде фазовой пластинки, разность фаз нормальных волн которой может перестраиваться. Фазовая пластинка установлена так, что плоскость поляризации ее нормальных волн составляет угол 45° относительно направления оси поляризатора. Анализатор и фотоприемник выполнены с возможностью визуализации и регистрации интерференционной картины, предназначенной для определения оптической толщины измеряемого объекта. Технический результат - повышение точности и чувствительности измерений оптической толщины. 3 з.п. ф-лы, 5 ил.

Дистанционный способ измерения толщины толстых пленок нефтепродуктов на поверхности воды включает облучение поверхности воды оптическим излучением на трех специальным образом выбранных длинах волн зондирования, регистрацию отраженного от поверхности сигнала и последующее определение толщины пленки по результатам измерения отраженного от поверхности сигнала на трех длинах волн зондирования. Для определения толщины пленки d длины волн зондирования ₁, ₂, ₃ выбирают из условий:

где n₂( ₁), n₂( ₂) - показатели преломления нефтепродукта на длинах волн ₁, ₂; ₃ равна длине волны максимума поглощения нефтепродукта. Технический результат - определение толщин пленок более 4-5 мкм. 2 ил.

Устройство содержит источник света, фотоэлектрический преобразователь, блок обработки сигналов, индикатор, которые размещены в корпусе и соединены с источником постоянного напряжения. Блок обработки сигналов выполнен в виде первого, второго и третьего элементов задержки, первой, второй, третьей, четвертой, пятой и шестой схем И, первой, второй схем ИЛИ, первого, второго, третьего, четвертого, пятого, шестого счетчиков, первого, второго и третьего триггеров, генератора, преобразователя прямого кода в дополнительный, блока деления, постоянного запоминающего устройства (ПЗУ) и регистра. Технический результат - уменьшение погрешности измерения. 2 з.п. ф-лы, 4 ил.

В способе используется явление термокапиллярного течения, которое возбуждают в слое жидкости пучком лазера. Это течение приводит к динамической деформации свободной поверхности жидкости в виде углубления. Толщину слоя определяют по интервалу времени между моментом включение пучка лазера и моментом начала изменения диаметра или распределения интенсивности пятна света, наблюдаемого на экране, помещенном в поперечном сечении отраженного от углубления пучка лазера. Для конкретной жидкости получают экспериментальную зависимость указанного интервала времени от толщины слоя, которую используют как калибровочную при измерении толщины слоя. Технический результат - уменьшение времени измерений и упрощение процедуры измерений. 3 ил.

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к тактильным датчикам оптического типа. Устройство содержит тактильную часть и средство формирования изображения, причем тактильная часть содержит прозрачный гибкий корпус и множество групп маркеров, расположенных внутри гибкого корпуса. Каждая группа маркеров составляется из множества окрашенных маркеров, при этом маркеры, составляющие различные группы, имеют различную окраску в каждой группе, поведение окрашенных маркеров в том случае, когда объект касается гибкого корпуса, фотографируется с помощью средства формирования изображения. Предпочтительно разные группы маркеров имеют различное пространственное расположение. Измерение осуществляется путем многоканального считывания, которое использует цветной или оптический спектр для оптического тактильного датчика для получения информации для множества степеней свободы в каждой точке на поверхности. 3 н. и 29 з.п. ф-лы, 21 ил.

Изобретение относится к деревообрабатывающей промышленности. Устройство контролирования толщины доски содержит устройство конвейерной подачи древесного материала, подлежащего регулированию до заданной величины толщины доски, устройство измерения толщины доски и блок обработки для определения, является ли древесный материал материалом с недостаточной толщиной, и устройство для его отличия от других древесных материалов. Устройство измерения толщины доски служит для определения толщины доски в нескольких точках древесного материала как объекта измерения по мере конвейерной подачи на основе выходных сигналов датчиков перемещения. Датчики перемещения расположены в нескольких различных местах по ширине древесного материала. Древесный материал является материалом с недостаточной толщиной, если будет определено, что имеется заданное количество частей заданной длины, имеющих толщину доски, отклоняющуюся от полей допуска на указанную заданную величину, в направлении конвейерной подачи. Изобретение позволяет обеспечить быстрый и качественный контроль толщины доски. 4 з.п. ф-лы, 8 ил.

Способ и устройство измерения толщины стенки изготовленного горячим способом стеклянного контейнера, имеющего внутренние и внешние поверхности стенок. Способ содержит этапы измерения интенсивности излучения, испускаемого на первой длине волны, на которой интенсивность зависит от температуры поверхностей и толщины стенок между поверхностями, и на второй длине волны, на которой интенсивность зависит только от температуры поверхности и не зависит от толщины стенок между поверхностями. Толщина стенок определяется исходя из объединенной функции первой и второй интенсивностей. Технический результат - измерение абсолютной толщины стенки контейнера в горячем конце производственного процесса. 3 н. и 18 з.п. ф-лы, 9 ил.