Измерительные устройства, отличающиеся использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц: .для измерения шероховатости или неровности поверхностей – G01B 15/08

Изобретение относится к использованию мягкого рентгеновского излучения для исследования сверхгладких оптических поверхностей и многослойных элементов, в частности для аттестации оптических элементов дифракционного качества. Устройство содержит установленные на плите трехкоординатный прецизионный стол с размещенными на нем рентгеновской трубкой, излучающей в мягком рентгеновском диапазоне, и ионным источником для чистки мишени, камеру монохроматора с установленными в ней монохроматором и монитором интенсивности зондирующего пучка, и камеру для исследуемых образцов с размещенным в ней пятиосным гониометром. Камера монохроматора и камера для исследуемых образцов соединены между собой через первый шибер, в качестве монохроматора использован сферический объектив Шварцшильда, камера монохроматора соединена с магниторазрядным насосом, а камера для исследуемых образцов через второй шибер последовательно соединена с турбомолекулярным и форвакуумным безмасляным насосами, соответственно. Технический результат - повышение интенсивности квазипараллельного пучка мягкого рентгеновского излучения на исследуемом образце и возможность изучения шероховатости образцов с криволинейной формой поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретения относится к способу оценки поверхности холоднокатаной стали. Способ включает вырезку образца для испытаний, зачистку предполагаемого дефекта и осмотр поверхности образца. При этом образец вырезают по всей ширине листа и помещают на контрольном столе выпуклостью вверх. Зачистку дефекта осуществляют наждачным бруском на ширине 200-500 мм и поперек расположения дефекта. Зона зачистки должна быть однородной, без явно выраженных участков разной шероховатости, а зачищаемую поверхность рассматривают под разными углами к ней при освещенности не менее 300 люкс. Достигаемый при этом технический результат заключается в обеспечении своевременного выявления дефектов и повышения выхода качественного проката потребителям.

Изобретение относится к способам измерения геометрических свойств твердых тел, в частности оценки их шероховатости. Способ определения фрактальной размерности шероховатой поверхности твердых тел включает в себя измерение ее площади с помощью мер различной величины, построение зависимости площади поверхности от площади использованных мер и определение наклона полученной зависимости, по величине которого судят о фрактальной размерности. При этом для определения площади поверхности, измеренной мерой заданной величины, на исследуемую поверхность направляют пучок электронов, устанавливают размер его поперечного сечения, обеспечивающий требуемую площадь меры. Далее разворачивают пучок в растр, измеряют ток истинно вторичных электронов, находят его среднее и минимальное значения и определяют произведение площади растра на отношение среднего к минимальному значению тока истинно вторичных электронов, по которому судят о площади шероховатой поверхности, измеренной заданной мерой. Технический результат - повышение точности определения фрактальной размерности, достоверности измерений, экспрессности. 4 ил.

Использование: для контроля формирования микрорельефа поверхностного слоя в процессе абразивной обработки. Сущность заключается в том, что рентгенопрофилограф активного контроля содержит источник рентгеновского излучения, пучок от которого пропускается через кристаллический резонатор для получения монохроматического рентгеновского излучения, после чего направляется на кристаллическое зеркало, с помощью которого получают два пучка - объектный и опорный, опорный пучок направляется системой элементов дифракционной оптики: кристаллическое зеркало, коллиматор, непосредственно на регистрирующую среду - кристалл-анализатор, а объектный пучок, пройдя через коллиматор, попадает на движущийся объект, проходит через коллиматор, отражательный рентгеновский микроскоп, осуществляющий увеличение трехмерной интерференционной картины при регистрации голографического изображения исследуемого объекта, попадает на кристалл-анализатор, в результате интерференции волн опорного и объектного пучков за кристаллом-анализатором можно получить голографическое, изменяющееся во времени, изображение движущегося объекта, при этом коллиматор, через который проходит объектный пучок и далее попадает на движущийся объект, основан на восьмилучевой дифракции, а микрогеометрия исследуемого объекта визуализируется при помощи трехмерной матрицы. Технический результат: обеспечение возможности осуществления контроля за формированием микрорельефа поверхностного слоя детали в процессе абразивной обработки и исследования механизма процессов, сопутствующих формированию микрорельефа. 1 ил.

Использование: для неразрушающего контроля пористой структуры связки абразивного инструмента. Сущность изобретения заключается в том, что рентгенопрофилограф содержит источник рентгеновского излучения, кристаллический резонатор для получения монохроматического рентгеновского излучения, кристаллические зеркала для разделения и изменения направления распространения рентгеновского излучения, фокусирующие кристаллические системы - коллиматоры, регистрирующую среду - кристалл-анализатор для получения интерференции волн, прошедших различные пути, при этом один из двух полученных пучков рентгеновского излучения, имеющих различные направления, являющийся опорным, направляется системой элементов дифракционной оптики: кристаллическое зеркало, коллиматор непосредственно на регистрирующую среду - кристалл-анализатор, а другой пучок рентгеновского излучения, являющийся объектным, проходя по другому пути через коллиматор, падает на объект, голограмму которого регистрируют, далее вновь проходит через еще один коллиматор, отражательный рентгеновский микроскоп, после чего также попадает на кристалл-анализатор, для измерений используется электронно-оптический преобразователь, при этом увеличение трехмерной интерференционной картины осуществляется отражательным рентгеновским микроскопом при регистрации голографического изображения микрорельефа пористой структуры связки абразивного инструмента. Технический результат: увеличение точности измерений, снижение оперативного времени регистрации профиля микрорельефа. 1 ил.