Измерительные устройства, отличающиеся использованием электрических или магнитных средств: .для измерения шероховатости или неровностей поверхностей – G01B 7/34
Патенты в данной категории
УСТРОЙСТВО АВТОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ СВАРНЫХ СТЫКОВ РЕЛЬСОВ И СПОСОБ ЕГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ
Изобретение относится к измерительной технике. Устройство используют для контроля отклонения от прямолинейности поверхности боковой рабочей грани головки рельса в горизонтальной плоскости и поверхности катания головки рельса в вертикальной плоскости бесконтактным методом. Устройство автоматического контроля прямолинейности сварных стыков рельсов содержит корпус, механическую часть, торцевые панели, бесконтактные датчики базирования, датчики бесконтактного измерения расстояния до поверхности рельса и электронный блок. Механическая часть состоит из базирующих призм, закрытых с внешней стороны торцевыми панелями, которые имеют вырезы, соответствующие поверхностям, ответным контролируемым, между которыми установлены встроенные магниты. Каждая призма имеет опорные наконечники, контактирующие с контролируемыми поверхностями. Рядом с наконечниками расположены бесконтактные датчики базирования, сопряженные с электронным блоком. В центральной части корпуса между вспомогательными призмами расположены датчики бесконтактного измерения расстояния до поверхности рельса, сопряженные с электронным блоком, осуществляющим отображение отклонений от прямолинейности на аналоговых индикаторах и на графическом дисплее и хранение результатов отклонения в блоке памяти. Изобретение касается также способа использования этого устройства. В результате обеспечивается возможность получить наглядную и достоверную информацию, сокращается время, необходимое для контроля прямолинейности сварных стыков рельсов. 2 н.п. ф-лы, 10 ил. |
2520884 патент выдан: опубликован: 27.06.2014 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КИНЕТИКИ ИЗНОСА ПОВЕРХНОСТЕЙ ДЕТАЛЕЙ МАШИН
Изобретение относится к машиностроению, в частности к способам изучения процесса износа поверхностей деталей машин. Сущность: подают ток на контактирующие детали, нагруженные в соответствии с реальными условиями эксплуатации. Регистрируют изменение силы тока в цепи во времени. Рассчитывают текущее значение общего сопротивления электрической цепи, используя зависимость для текущего изменения опорной контактной площади микронеровности, являющейся функцией изменения величины контактного сближения поверхностей. Определяют текущее значение силы тока по высоте микрорельефа. Задаются рядом значений моментов времени и определяют изменение величины контактного сближения поверхностей от времени (эксплуатационного износа) и изменение опорной контактной площади микронеровности от времени. Технический результат: расширение возможности исследования микрогеометрии поверхностей, возможность прогнозировать кинетику изменения микрорельефа в реальных условиях эксплуатации и сделать выводы о предпочтительности применения того или иного микрорельефа в реальных условиях эксплуатации. 6 ил. |
2494342 патент выдан: опубликован: 27.09.2013 |
|
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ КАТАНИЯ КОЛЕС ЖЕЛЕЗНОДОРОЖНЫХ ТРАНСПОРТНЫХ СРЕДСТВ В ДВИЖЕНИИ
Изобретение относится к технической диагностике и может быть использовано для обнаружения дефектов поверхности катания колес железнодорожных транспортных средств в движении. Технический результат: повышение достоверности обнаружения дефектов. Сущность: тензодатчики устанавливают симметрично парами на рельс. По сигналам с тензодатчиков определяют симметричные и асимметричные деформации шейки рельса. По превышению симметричными деформациями порога селекции, устанавливаемого в 3-4 раза выше уровня собственных шумов измерительной аппаратуры, задают номер колесной пары, равный единице. На измерительном участке длиной не менее двух длин окружности круга катания нового колеса определяют скорость движения поезда для определения полосы частот, в которой проводят частотную фильтрацию симметричных деформаций. При каждом последующем превышении фильтрованными симметричными деформациями порога селекции регистрируют следующую колесную пару. Затем проводят частотную фильтрацию асимметричных деформаций в полосе частот, определяемой частотой свободных колебаний рельса. Регистрируют максимумы асимметричных деформаций на каждой паре тензодатчиков. При совпадении максимумов на соседних парах тензодатчиков их сравнивают с порогом регистрации дефекта, определяемым по максимальной глубине допускаемого дефекта, диаметру колеса и скорости поезда. При превышении этого порога бракуют регистрируемую колесную пару. 1 табл., 4 ил. |
2480711 патент выдан: опубликован: 27.04.2013 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ В ПРОЦЕССЕ ЭЛЕКТРОЛИТНО-ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Сущность: прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом. Измеряют значения плотности тока j и высоковольтного напряжения U. Шероховатость поверхности в ходе обработки определяют по формуле: |
2475700 патент выдан: опубликован: 20.02.2013 |
|
ПРОФИЛОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ МИКРОГЕОМЕТРИИ КОЛЛЕКТОРОВ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАШИН
Изобретение относится к измерительной технике. Технический результат: упрощение процесса измерения микрогеометрии коллекторов электрических машин. Сущность: профилометр содержит вихретоковый преобразователь, устанавливаемый над рабочей поверхностью контролируемого коллектора и состоящий из дифференциального усилителя и моста. Одно плечо моста образовано измерительной и компенсирующей катушкой, а другое - активными сопротивлениями. Средние точки плеч моста подключены к входам дифференциального усилителя. К выходу дифференциального усилителя подключен буферный усилитель, который связан с первым амплитудным детектором и схемой преобразования фазового отклика в амплитудный. Схема преобразования фазового отклика в амплитудный состоит из последовательно соединенных детектора нуля, токоограничивающего резистора, полосового фильтра и второго дифференциального усилителя и подключена ко второму амплитудному детектору. Первый и второй амплитудные детекторы соединены с первым и вторым выходными дифференциальными усилителями соответственно. Выходные дифференциальные усилители соединены с регистратором и микроконтроллером, который через преобразователь уровней связан с персональным компьютером. Микроконтроллер также соединен с буферированным по выходу вторым полосовым фильтром, соединенным с вихретоковым преобразователем и схемой преобразования фазового отклика в амплитудный. 5 ил. |
2422767 патент выдан: опубликован: 27.06.2011 |
|
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С УСТРОЙСТВОМ ИЗМЕРЕНИЯ МАССЫ И ДИССИПАТИВНЫХ СВОЙСТВ
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа. Также в предложенном устройстве предусмотрена возможность измерения массы тонкопленочного образца и диссипативных свойств тонкопленочного образца или жидкой среды измерения посредством пьезокварцевых микровесов, и возможна модификация поверхности объекта. Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств, содержащий блок управления пьезокварцевых микровесов, сканирующее устройство с держателем зонда, зонд, систему регистрации, камеру и помещенный в камеру кварцевый резонатор, содержащий кварцевый диск, верхний и нижний электроды, введены оптическая система, XYZ позиционер и устройство для подачи напряжения между зондом и верхним электродом. Технический результат - расширение функциональных возможностей устройства. 13 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2407021 патент выдан: опубликован: 20.12.2010 |
|
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С КОНТРОЛИРУЕМОЙ СРЕДОЙ ИЗМЕРЕНИЯ
Изобретение относится к зондовой микроскопии, а именно к устройствам, обеспечивающим комплексные исследования сложных объектов при контроле и создании требуемой среды измерения. В сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения введены модульный блок откачки, сопряженный с платформой, герметичный кожух с, по меньшей мере, одним оптически прозрачным окном, имеющим возможность вакуумно-плотной установки на платформу и герметизации измерительного модуля, а также блок визуализации, установленный на платформе с возможностью подвижки и оптически сопряженный, по меньшей мере, посредством одного оптически-прозрачного окна с зондом. Платформа имеет замкнутую вакуумно-плотную полость, в которой расположены подвижный элемент с держателем образца. Захват зонда снабжен пьезомодулем, а на платформе установлен ориентатор, сопряженный с герметичным кожухом. Технический результат - расширение функциональных возможностей устройства. 8 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2401983 патент выдан: опубликован: 20.10.2010 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛИ (ВАРИАНТЫ)
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости наружной сферической поверхности детали. Техническим результатом является создание универсального быстро переналаживаемого устройства для использования его в процессе контроля шероховатости сферической поверхности детали. Устройство для измерения шероховатости наружной сферической поверхности детали содержит датчик, фиксирующий элемент для удержания датчика относительно контролируемой поверхности, профилограф-профилометр, опору для контролируемой детали. Причем опора выполнена в виде плоского основания, на которой установлены и закреплены, по меньшей мере, три разнесенных друг от друга опорных ролика, один из которых, горизонтальный, соединен с основанием с возможностью поступательного движения в направлении к другим роликам и обратно, расположен под прямым углом к траектории своего поступательного движения и снабжен приводом его вращения, а два других ролика объединены между собой с образованием V-образной формы разведенными концами кверху. 2 н.п. ф-лы, 8 ил. |
2392583 патент выдан: опубликован: 20.06.2010 |
|
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТРУБОПРОВОДНОЙ АРМАТУРЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, используемой при послеремонтном контроле поверхностей крупногабаритной трубопроводной арматуры /ТПА/. Технический результат - повышение достоверности. Сущность: проводят измерения двух параметров пары "измерительный электрод - участок контролируемой поверхности": емкости и напряжения пробоя, или индуктивности измерительного электрода, выполненного в виде прямоугольной плоской спиральной катушки, и напряжения пробоя, или резонансной частоты LC-резонатора, образованного электродом, выполненным в виде прямоугольной плоской спиральной катушки, и напряжения пробоя. Результаты измерений совместно обрабатывают с учетом опорных значений этих параметров, полученных от датчиков опорных значений. Устройство содержит соответствующие измерители двух параметров пары "измерительный электрод - участок контролируемой поверхности", два коммутатора, датчики опорных значений, компьютер. 2 н. и 6 з.п ф-лы, 10 ил. |
2386104 патент выдан: опубликован: 10.04.2010 |
|
НУТРОМЕР
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в качестве устройства измерения линейных величин неровностей профиля поверхности внутренней полости трубы. Сущность: нутромер содержит корпус в виде трубы с отметками глубины погружения, на котором установлен, с возможностью перемещения вдоль трубы, центрирующий конус с элементом крепежа, заглушку с распаянными проводниками и измерительный зонд. Измерительный зонд состоит из трубы большего диаметра, один конец которого соединен с корпусом с помощью переходной втулки с хвостовиком, расположенным в полости измерительного зонда, а другой ограничен сферическим донышком. При этом хвостовик снабжен двумя эквидистантно расположенными упругими пластинами вдоль оси измерительного зонда таким образом, что укрепленные на концах пластин плоские сегменты имеют возможность выхода через продольные окна последнего. На поверхностях упругих пластин расположены тензорезисторы, соединенные посредством проводников через заглушку с прибором, преобразующим сигналы изменения сопротивления последнего. Технический результат: конструкция нутромера предлагаемого вида позволяет оперативно проводить измерение отложений на внутренней поверхности теплообменной трубы и получить достаточно объективную картину ее состояния. 3 ил. |
2381440 патент выдан: опубликован: 10.02.2010 |
|
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СТУПЕНЧАТОГО ВЫСОТНОГО КАЛИБРОВОЧНОГО СТАНДАРТА ДЛЯ ПРОФИЛОМЕТРИИ И СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для усовершенствования работы инструментов, измеряющих высоту рельефа поверхности, и для сертификации высотных стандартов. Сущность изобретения: в способе изготовления ступенчатого высотного калибровочного стандарта для профилометрии и сканирующей зондовой микроскопии полупроводниковую пластину кремния с вицинальной поверхностью помещают в вакуум, проводят термоэлектрический отжиг, пропуская через пластину постоянный электрический ток величиной, вызывающей резистивный нагрев до температуры активируемой сублимации атомов верхнего слоя с передвижением по поверхности моноатомных ступеней. Ток пропускают параллельно вицинальной поверхности между верхней и нижней террасами, в направлении от нижней террасы к верхней или в сочетании, сначала в направлении от верхней террасы к нижней, а затем от нижней террасы к верхней. При этом формируют области на поверхности пластины с высокой плотностью ступеней и обеспечивают появление равномерно распределенных по поверхности одиночных ступеней, разделенных террасами. За счет этого стандартом достигают воспроизводимости измерений, повышают точность определения высоты особенностей рельефа и снижают погрешность измерений. 9 з.п. ф-лы, 5 ил. |
2371674 патент выдан: опубликован: 27.10.2009 |
|
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ КОНТРОЛИРУЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ В ДИНАМИЧЕСКИХ РЕЖИМАХ
Изобретение относится к машиностроению, а именно к области создания средств и методов бесконтактного измерения неровностей поверхностей, геометрических размеров, эксцентриситета и перемещений деталей машин и механизмов. Технический результат: повышение точности измерений профилей, микрогеометрии и эксцентричности контролируемых поверхностей вращающихся элементов машин и механизмов в динамических режимах работы. Сущность: процесс измерения зазора между измерительным преобразователем измерительного устройства и контролируемой областью объекта контроля включает выполнение опорного измерения, изменение зазора на величину не менее образцовой, осуществление дополнительного измерения измененного зазора и корректировку значений измеряемых зазоров с учетом результатов опорного и дополнительного измерений, а также величины образцового изменения зазора. Результаты опорного, дополнительного и других серий измерений зазоров определяют как средние значения ряда последовательных измерений с заданной точностью приближения к предельному значению. Минимальную величину образцового изменения зазора находят на основе погрешности определения результатов опорного и дополнительного измерений, заданной допустимой точности измерений зазоров, погрешности изменения зазора на образцовую величину, а также значения зазора, подвергаемого коррекции. Профиль поверхности определяется на основе откорректированных средних значений зазоров в какой-либо серии последовательных измерений, в которой максимальная величина зазора не превышает значения, используемого для выбора величины образцового изменения зазора. 12 ил. |
2331043 патент выдан: опубликован: 10.08.2008 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. Способ включает первое сканирование поверхности объекта с регистрацией сигнала вертикальных перемещений сканера и сигнала взаимодействия зонда с объектом, второе сканирование поверхности объекта в обратном направлении с регистрацией сигнала вертикальных перемещений сканера и сигнала взаимодействия зонда с объектом, вычитание из сигнала вертикальных перемещений сканера, зарегистрированного при сканировании в прямом направлении, сигнала вертикальных перемещений сканера, зарегистрированного при сканировании в обратном направлении, вычитание из сигнала взаимодействия зонда с объектом, зарегистрированного при сканировании в прямом направлении, сигнала взаимодействия зонда с объектом, зарегистрированного при сканировании в обратном направлении, определение коэффициента, на который нужно умножить разность сигналов вертикальных перемещений сканера, чтобы при ее последующем сложении с разностью сигналов взаимодействия зонда с объектом получить максимально близкую к постоянной величину, умножение на найденный коэффициент сигнала вертикальных перемещений сканера, зарегистрированного при сканировании в одном из направлений, и суммирование его с сигналом взаимодействия зонда с объектом, зарегистрированным при сканировании в том же направлении, после чего суммарный сигнал используют в качестве сигнала рельефа поверхности исследуемого объекта. 4 з.п. ф-лы, 5 ил. |
2329465 патент выдан: опубликован: 20.07.2008 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОСКОСТНОСТИ ДВИЖУЩЕГОСЯ ЛИСТА МАТЕРИАЛА
Изобретение относится к областям металлургии, производства материалов и может быть использовано преимущественно в листопрокатных технологиях. Технический результат заключается в повышении точности измерения. Способ определения плоскостности движущегося листа материала основан на измерении углов наклона элементов поверхности листа в каждом из ленточных продольных участков полосы, выделяемых измерительным устройством. При этом измеряют угол, образованный линиями пересечения плоскости, касательной к поверхности листа в точке измерения, и плоскости, касательной к опорным элементам, по которым перемещается лист, с плоскостью, проходящей через точку измерения и расположенной вдоль направления перемещения листа, перпендикулярно к плоскости, касательной к опорным элементам, по которым перемещается лист. Новым в способе является то, что дополнительно учитывается скорость движения листа, а плоскостность листа определяется в виде формы ленточных продольных участков полосы, выделяемых измерительным устройством в соответствии с математическим выражением. |
2311613 патент выдан: опубликован: 27.11.2007 |
|
СПЛОШНОЙ РОЛИК ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПЛОСКОСТНОСТИ
Изобретение предназначено для определения отклонений от плоскостности при обработке полосового материала, например при прокатке металлической полосы. Технический результат - повышение надежности измерений. Распределение напряжений измеряют по ширине полосы с помощью пьезоэлектрических датчиков, которые расположены в продольных выемках сплошного ролика на расстоянии от его боковой поверхности и заклинены в них. 13 з.п. ф-лы, 12 ил. |
2311244 патент выдан: опубликован: 27.11.2007 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПОРНОЙ ПЛОЩАДИ НЕРОВНОСТЕЙ
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для определения и контроля опорной площади неровностей поверхности электропроводных изделий. Сущность: на базовую поверхность (плиту), имеющую минимальную шероховатость и максимальную плоскостность, кладут исследуемый образец и пускают ток через образец и плиту. В зависимости от площади контакта будет определенное сопротивление тока. По виду материала образца и по тарированному прибору, определяющему сопротивление, измеряют опорную площадь неровностей. 1 ил. |
2301967 патент выдан: опубликован: 27.06.2007 |
|
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПРОФИЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА
Изобретение относится к измерительной технике. Сущность: изобретение предусматривает использование зонда, содержащего передающее и принимающее устройство для индуцирования переходных вихревых токов в объекте и для выдачи сигнала. На поверхности объекта выбирают калибровочную точку и некоторое количество калибровочных положений передающего и принимающего устройства. Определяют набор калибровочных значений путем определения характеристического значения, связанного с амплитудой сигнала, генерируемого в приемнике в ответ на переходные вихревые токи, индуцируемые в объекте. Определяют калибровочную функцию. Выбирают набор контрольных точек на поверхности объекта и набор соответствующих контрольных положений передающего и принимающего устройства. Определяют набор контрольных значений путем характеристического значения сигнала, генерируемого в приемнике в ответ на переходные вихревые токи, индуцируемые в объекте передатчиком. Определяют профиль поверхности путем интерпретации набора контрольных значений с использованием калибровочной функции, и при этом получают относительное расположение контрольных точек и соответствующих контрольных положений. 13 з.п. ф-лы, 6 ил. |
2299399 патент выдан: опубликован: 20.05.2007 |
|
ЗОНДОВЫЙ ДАТЧИК НА ОСНОВЕ КВАРЦЕВОГО РЕЗОНАТОРА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
Изобретение относится к нанотехнологии, более конкретно к устройствам, обеспечивающим получение информации о состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в зондовом датчике на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа, содержащем платформу с закрепленным на ней кварцевым резонатором с основанием, на платформе последовательно закреплены плоская пьезокерамическая пластина с первым и вторым электродами, изолятор и экран, а также установлен захват, при этом кварцевый резонатор электрическими выводами закреплен в захвате с возможностью разъединения с ним и силового взаимодействия основанием с экраном. Технический результат - повышение разрешения устройства, расширение функциональных возможностей. 8 з.п. ф-лы, 7 ил. |
2297053 патент выдан: опубликован: 10.04.2007 |
|
КАНТИЛЕВЕР С ВИСКЕРНЫМ ЗОНДОМ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ
Использование: в микроскопах. Сущность: предлагается создавать зонды для зондовой микроскопии из кремниевых вискеров, выращенных по механизму пар-жидкость-кристалл на кантилеверах с кристаллографической ориентацией (111). Такие кантилеверы изготовляют из структур кремния-на-изоляторе, которые создают сплавлением кремниевых пластин, причем одна из пластин имеет ориентацию (111). Выращенные таким путем вискеры могут иметь ступенчатую форму, идеальную для зондов, обеспечивая высокую разрешающую способность при высокой антивибрационной стабильности. 4 н. и 32 з.п. ф-лы, 17 ил. |
2275591 патент выдан: опубликован: 27.04.2006 |
|
СИЛОВОЙ ЗОНД НА ОСНОВЕ КВАРЦЕВОГО РЕЗОНАТОРА
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о поверхности образцов и модификацию поверхности образцов в туннельном и атомно-силовом режимах в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ). Силовой зонд на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа содержит кварцевый резонатор с иглой, закрепленной на плоскости одного из плеч кварцевого резонатора, за счет сил химической связи между иглой и плоскостью. Существуют варианты, в которых в качестве иглы используют нитевидные кристаллы из углерода, металла, полупроводника и изолятора, а также нанотрубки. Кроме этого возможно закрепление игл на внешнюю плоскость плеча кварцевого резонатора, а также торцевую и боковую его плоскости. При этом иглы могут располагаться как параллельно оси симметрии кварцевого резонатора, так и перпендикулярно его оси. Существует также вариант, в котором игла закреплена под произвольным углом к оси плоскости одного из плеч кварцевого резонатора. В отдельных случаях целесообразно закрепление на плоскости одного из плеч кварцевого резонатора нескольких игл различной длины. Подобное выполнение повышает чувствительность зонда и расширяет его функциональные возможности. 12 з.п. ф-лы, 6 ил.
|
2251071 патент выдан: опубликован: 27.04.2005 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ
Способ относится к контрольно-измерительной технике и может быть использован в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом прикладывают высоковольтное напряжение. С измерительного резистора снимают переменную составляющую тока. Переменную составляющую тока подают на полосовой фильтр с граничными частотами 500-700 и 1300-1500 Гц. Измеряют действующее значение напряжения u на выходе полосового фильтра. Рассчитывают начальное значение напряжения u0 путем усреднения значения u в течение 20-40 с от начала процесса. Шероховатость определяют по формуле Ra=(u/u0)·Ra0 , где Ra0 - начальное значение шероховатости обрабатываемой поверхности. Способ позволяет определять шероховатость поверхности непосредственно в процессе ее обработки. 1 ил., 1 табл.
|
2240500 патент выдан: опубликован: 20.11.2004 |
|
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов в жидкостной среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. В сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу с пьезосканером с держателем образца, плиту с кантилевером, первое уплотнение, соединенное с плитой, оптический блок слежения за кантилевером, включающий лазер и фотоприемник с системами юстировочной подвижки, оптически сопряженные с кантилевером, и блок предварительного сближения образца с кантилевером, введены корпус и второе уплотнение, выполненное в виде двухслойной упругой мембраны, один слой которой состоит из фторопласта, а второй - из упругого материала, причем упругая мембрана закреплена между корпусом и держателем образца, который представляет собой столик с зубом, соединенный с фланцем с пластичной прокладкой, при этом упругая мембрана расположена между зубом и пластичной прокладкой, плита содержит подвижную заливную трубку и газоотвод и закреплена быстросъемно на корпусе, оптический блок слежения за кантилевером установлен на плите, первое уплотнение закреплено между плитой и корпусом, а блок предварительного сближения образца с кантилевером установлен между платформой и пьезосканером. Подобное выполнение СЗМ позволяет упростить эксплуатацию и расширить функциональные возможности. 2 з.п.ф-лы, 3 ил. | 2210818 патент выдан: опубликован: 20.08.2003 |
|
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов с использованием жидкостных ячеек методом сканирующей зондовой микроскопии. Сущность: в сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу, держатель кантилевера, кантилевер, держатель образца с образцом, магнитный захват, оптический блок слежения за кантилевером, пьезосканер, систему предварительного сближения зонда и образца, резервуар с жидкостью и блок управления, введена плита, установленная на платформе. Держатель кантилевера включает промежуточный фланец с магнитными и немагнитными участками, при этом держатель кантилевера содержит призму с n-поверхностями для закрепления кантилевера. При этом резервуар с жидкостью открыт сверху и установлен на платформе, держатель образца расположен в резервуаре с жидкостью, оптический блок слежения за кантилевером закреплен на плите, а система предварительного сближения зонда и образца размещена между пьезосканером и плитой. Подобное выполнение СЗМ позволяет расширить функциональные возможности прибора и повысить его разрешение. 3 ил. | 2210731 патент выдан: опубликован: 20.08.2003 |
|
ЗОНД НА ОСНОВЕ КВАРЦЕВОГО РЕЗОНАТОРА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно - к устройствам, обеспечивающим получение информации о магнитном состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. Сущность: в зонд на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа, содержащий кварцевый резонатор с первой иглой, закрепленной на первом плече, введена вторая игла, изготовленная из магнитно-твердого материала в виде постоянного магнита и закрепленная на втором плече, а первая игла изготовлена из магнитно-мягкого материала. Технический результат: улучшение работы кварцевого резонатора, увеличение чувствительности зонда, упрощение процесса изготовления зонда, расширение диапазона измерений. 2 ил. | 2208763 патент выдан: опубликован: 20.07.2003 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля состояния и класса обработки поверхности изделий. Сущность изобретения: предварительно на поверхность наносят слой материала таким образом, чтобы не происходило образования диффузионного слоя с материалом поверхности. Облучают поверхность потоком протонов или дейтронов. В качестве контролируемого параметра регистрируют поток обратно рассеянных протонов или дейтронов, на основании которого определяют толщину слоя переменного состава из материала нанесенного слоя и материала поверхности, соответствующую степени шероховатости. Технический результат заключается в упрощении способа, повышении точности и диапазона измерений. 2 з.п. ф-лы. | 2199111 патент выдан: опубликован: 20.02.2003 |
|
ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ АКСЕЛЕРОМЕТР Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем. Устройство содержит чувствительный пьезоэлемент, RC-фильтр низкой частоты, потенциалозадающий резистор, включенный параллельно конденсатору RC-фильтра, операционный усилитель, подключенный к выходу RC-фильтра, источник опорного напряжения, соответствующий полюс которого соединен с общим выводом чувствительного пьезоэлемента, конденсатора RC-фильтра и потенциалозадающего резистора. Между соответствующими выводами чувствительного пьезоэлемента и резистора RC-фильтра включен термостабильный компенсирующий конденсатор. Принятое включение конденсатора, имеющего практически нулевой температурный коэффициент емкости, позволяет уменьшить относительную погрешность измерения, обусловленную изменением собственной емкости чувствительного пьезоэлемента в заданном диапазоне температур. Упрощается также настройка акселерометра, так как снижается чувствительность электрической схемы к разбросу собственной емкости чувствительного пьезоэлемента. 1 з.п.ф-лы, 1 ил. | 2196997 патент выдан: опубликован: 20.01.2003 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ПРИПОВЕРХНОСТНОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА Способ включает использование магниточувствительного проводящего зонда. При первом сканировании возбуждают колебания зонда на первой частоте и сближают его с поверхностью образца до достижения амплитуды его колебаний предустановленного значения и поддерживают системой обратной связи амплитуду колебаний зонда путем взаимного относительного вертикального позиционирования зонда и поверхности образца. Запоминают сигнал относительного вертикального позиционирования в каждой точке сканирования. Прекращают колебательное механическое воздействие на зонд и осуществляют второе сканирование, при этом колебания возбуждают за счет приложения на зонд и образец разности потенциалов, содержащей постоянную и переменную во времени составляющие. Постоянную составляющую выбирают такой величины, чтобы свести к минимуму амплитуду колебаний на первой гармонике второй частоты, и запоминают эту величину. Второе сканирование проводят с использованием запомненного сигнала относительного вертикального позиционирования. Затем проводят дополнительное сканирование с использованием запомненного сигнала относительного вертикального позиционирования и одновременно прикладывают постоянную составляющую разности потенциалов такой величины, которая была запомнена на предыдущем сканировании, а переменную составляющую выбирают равной нулю, обеспечивая компенсацию поверхностного электрического потенциала. Затем регистрируют отклонение зонда в этих точках сканирования, получая характеристики магнитного поля. Обеспечиваются исключение влияния фазовой неоднородности поверхности и повышение точности измерений. 5 з.п.ф-лы, 2 ил. | 2193769 патент выдан: опубликован: 27.11.2002 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОГЕОМЕТРИИ ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛИ И АБРАЗИВНОГО ИНСТРУМЕНТА Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента. Способ определения микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента заключается в том, что осуществляют профилометрирование исследуемой поверхности по прямолинейной трассе в направлении, перпендикулярном следам обработки, фиксируют при этом отклонения профиля поверхности, параллельно через шаг x измерения повторяют, для образования топографической базовой площадки дополнительно исследуют поверхность по прямолинейной трассе в направлении, перпендикулярном предыдущим измерениям, с шагом y, по полученным отклонениям профиля выделяют координаты узлов каркаса площадки, определяют естественную кривизну топографии исследуемой площадки в смысле Римана-Кристоффеля и аналитическое задание модулей геометрической модели. Технический результат: повышение точности описания микрогеометрии поверхности и восстановление естественной кривизны в узлах каркаса топографической поверхности. 7 ил. | 2187070 патент выдан: опубликован: 10.08.2002 |
|
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С ИНВЕРТИРОВАННЫМ ОПТИЧЕСКИМ МИКРОСКОПОМ Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете. Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с инвертированным оптическим микроскопом, содержащий основание, пьезосканер, держатель объекта с объектом, расположенный с возможностью взаимодействия с зондом, сопряженным с блоком анализа и оптической системой наблюдения с осветителем, оптически сопряженной с объектом и осветителем, а также блок сближения зонда с объектом, находящийся во взаимодействии с основанием, введены первое зеркало, оптически сопряженное с объектом и закрепленное на блоке анализа, установленном на блоке сближения зонда с объектом с возможностью съема, второе зеркало, оптически сопряженное с объектом посредством первого зеркала и установленное на блоке сближения зонда с объектом, осветитель состоит из источника света и конденсора, оптически сопряженных с объектом, при этом держатель объекта с объектом установлены на основании, зонд закреплен на пьезосканере, расположенном на блоке сближения зонда с объектом, а оптическая система наблюдения расположена с противоположной стороны объекта относительно зонда. Технический результат: подобное выполнение СЗМ повышает разрешение СЗМ, расширяет функциональные возможности и улучшает качество наблюдения. 2 з.п. ф-лы, 3 ил. | 2180726 патент выдан: опубликован: 20.03.2002 |
|
СПОСОБ КАЛИБРОВКИ ПЬЕЗОСКАНЕРА АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА Использование: в материаловедении для исследования поверхностной структуры кристаллов и пленок. Сущность: сканируют зондом ступенчатую поверхность эталонного образца. По сравнению результатов сканирования со значениями параметров эталонного образца в управляющую программу микроскопа вводится поправочный коэффициент. В качестве эталонного образца используют кристалл триглицинсульфата (ТГС), сколотый по плоскости спайности (010). Технический результат: повышение точности, снижение трудоемкости и обеспечение высокой воспроизводимости тестовых структур. 3 ил. | 2179704 патент выдан: опубликован: 20.02.2002 |
|