Устройства, отличающиеся оптическими средствами измерения: ...устройств с двукратной экспозицией – G01B 9/025

Способ реализуют посредством двухлучевого интерферометра с оптической системой для формирования опорного и объектного пучков, системой зеркал, установленных вдоль опорной и объектной ветвей, рабочей зоной, проекционным объективом и узлом регистрации голограммы. Голограмму регистрируют двухэкспозиционным методом. При первой экспозиции исследуемое движущееся тело в рабочей зоне отсутствует. Рабочую зону образовывают при помощи первой и второй плоскопараллельных пластин-зеркал, образующих с оптической осью равные углы, но противоположные по знаку. При второй экспозиции в рабочую зону сквозь отверстие, выполненное во второй плоскопараллельной пластине-зеркале, направляют тело, движущееся со сверхзвуковой скоростью, газодинамическое течение около которого исследуется, причем в это время в рабочей зоне распространяют объектный пучок, вектор которого параллелен вектору скорости исследуемого движущегося тела, но противоположен по направлению. Технический результат - расширение технологической возможности способа голографической визуализации обтекания движущихся тел за счет получения распределении плотности в радиальном направлении путем фронтального просвечивания газодинамического течения. 1 ил.

Изобретение может быть использовано при измерении малых разностей хода (менее 0,1 длины волны) слабых оптических неоднородностей в прозрачных средах, например, при обтекании тел в потоках малой плотности, распыливании топлива из форсунок в разреженное пространство, изучении процессов смешения, воспламенения и горения топлив, обнаружении диффузных пограничных слоев. Способ включает последовательную запись на регистрирующей среде опорного пучка и объектного пучка, прошедшего сквозь фазовый объект. Объектный пучок перед записью разлагают с помощью дифракционного элемента на дифрагированные пучки нулевого и высших порядков дифракции и используют нулевой порядок дифракции, который пропускают сквозь фазовый объект как в прямом, так и в обратном ходе дифрагированных световых пучков на дифракционном элементе. Пучки N-х порядков дифракции, образованные в обратном ходе лучей через дифракционный элемент, возвращают одновременно в плоскость дифракционного элемента. Для регистрации объектного и опорного пучков регистрирующую среду устанавливают в одном из N сопряженных обратных пучков N-го порядка дифракции противоположного знака обратного хода лучей. Коэффициент чувствительности измерения определяют по формуле Ч=(N+1)·2, где N - (0, +1; +2; +3, +4 ) - порядок дифракции. Технический результат - повышение коэффициента чувствительности измерения. 3 ил.

Способ включает исследование остаточных напряжений на участке в пределах исследуемой зоны объекта с помощью технологии спекл-интерферометрии. Облучение спекл-интерферометром сварной точки с зоной термического влияния и сбор интерферограмм производят в процессе образования сварного соединения, используя перепад температуры в период охлаждения сварной точки после ее получения, путем двукратной экспозиции за цикл изготовления следующей точки сварного соединения. Устройство содержит источник излучения - одночастотный лазер, спекл-интерферометр, аппарат для контактной сварки и регистрирующее устройство с пультом управления. Спекл-интерферометр и источник излучения выполнены в виде модуля, который работает согласованно с электродами контактной сварки в цикле изготовления сварных точек. Технический результат - расширение технологических возможностей, улучшение качества и уменьшение времени на проведение неразрушающего экспресс-контроля и снижение энергетических затрат на его осуществление. 2 н.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение может быть использовано для измерения деформаций плоских поверхностей элементов твердотельной электроники. Голографический интерферометр содержит источник излучения с коллиматором, объектив, исследуемый объект, фотопластину и промежуточную оптическую среду, размещенную между фотопластинкой и исследуемым объектом. Промежуточная оптическая среда выполнена в виде периодической структуры из выступов и впадин, которая может быть выполнена с периодом от 200 до 5000 мкм и с отношением стороны выступа к расстоянию между выступами 1:10. Технический результат - повышение точности измерения деформаций плоской поверхности элементов твердотельной электроники. 2 з.п. ф-лы, 8 ил.