Фотометрия, например фотографические экспозиметры: .действующие по принципу сравнения с эталонным световым излучением или электрической величиной – G01J 1/10
Патенты в данной категории
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ИСТОЧНИКОВ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
Изобретение относится к инфракрасной технике и может быть использовано для обнаружения слабых сигналов инфракрасного излучения. Способ заключается в последовательной фиксации поступающего инфракрасного излучения и его преобразовании фотоприемником в электрический сигнал с последующим его усилением и нормализацией маскирующих сигнал шумов и детектированием при возрастающем уровне амплитудной селекции полученной смеси сигнала и нормального шума. Полученные результаты усредняют, сравнивают полученную частоту превысивших заданный уровень селекции импульсов с эталонным значением и по результату сравнения принимают решение о наличии полезного сигнала на входе фотоприемника. В случае регистрации непрерывного инфракрасного излучения поступающее на фотоприемник излучение модулируют с последующим синхронным с частотой модуляции детектированием смеси промодулированного сигнала и шума. Изобретение позволяет повысить чувствительность обнаружения. 1 з.п. ф-лы, 1 ил., 1 табл. |
2498236 патент выдан: опубликован: 10.11.2013 |
|
СПОСОБ РАДИАЦИОННОЙ КАЛИБРОВКИ СПУТНИКОВОГО СЕНСОРА ВЫСОКОГО ПРОСТРАНСТВЕННОГО РАЗРЕШЕНИЯ
Изобретение относится к области космических технологий, в частности к способам полетной калибровки спутниковых сенсоров оптического диапазона в абсолютных энергетических единицах, и может быть использовано для калибровки спутниковых сенсоров высокого пространственного разрешения. Способ радиационной калибровки включает измерение сигнала спутниковым сенсором и одновременные подспутниковые наземные измерения коэффициентов яркости и альбедо подстилающей поверхности. Измеряют оптическую толщину атмосферы и освещенность, создаваемую солнцем на тестовом участке, размер которого соответствует пространственному разрешению сенсора. Измерения проводят на двух (или более) тестовых участках с различающимися альбедо подстилающей поверхности и рассчитывают калибровочный коэффициент по зависимости измеренного сигнала на входе спутникового сенсора от коэффициента яркости подстилающей поверхности. Изобретение позволяет повысить точность абсолютной энергетической калибровки и упростить процедуру калибровки. |
2432554 патент выдан: опубликован: 27.10.2011 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЯРКОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ОБЪЕКТОВ В ОПТИЧЕСКОМ ДИАПАЗОНЕ СПЕКТРА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение предназначено для исследования яркостных характеристик красок, покрытий, средств оптической маскировки в видимом и инфракрасном диапазонах оптического спектра с целью оценки заметности объектов на окружающем фоне. Определение уровней яркости целей и фонов осуществляется путем ослабления сигналов на входе фотоприемного устройства до порогового уровня чувствительности фотоприемного устройства при помощи ослабляющих светофильтров и визуальной регистрации достижения этого уровня на мониторе измерительного устройства путем сравнения полей яркости целей, фонов и эталонных отражателей. Устройство для осуществления измерений включает эталонный отражатель, выполненный из двух частей, одна из которых окрашена белой краской, а вторая - черной, набор ослабляющих светофильтров, поворотную станину с установленными на ней кассетой для светофильтров и фотоэлектрическим регистратором с монитором отображения. Изобретение обеспечивает возможность проведения измерений в широком диапазоне дальностей без необходимости построения градуировочных графиков. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2378625 патент выдан: опубликован: 10.01.2010 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОРАССЕЯНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ
Изобретение относится к области измерений характеристик светорассеяния оптико-электронных приборов (ОЭП) и может быть использовано в технике экспериментального измерения индикатрисы отражения, пеленгационной характеристики и эффективной площади рассеяния ОЭП в лабораторных условиях. Устройство содержит источник излучения (лазер), формирующую систему, два светоделителя, инспектируемый и эталонный световозвращатели, приемный коллиматор, два прозрачных матовых экрана, две проекционных системы, две матрицы ПЗС, подключенные к микропроцессору, и монитор. Эталонный световозвращатель установлен рядом с входным зрачком инспектируемого световозвращателя в пучке излучения. Первый матовый прозрачный экран, первая проекционная система и первая матрица ПЗС последовательно установлены на пути распространения выходящего из приемного коллиматора пучка излучения. Второй матовый прозрачный экран, вторая проекционная система и вторая матрица ПЗС последовательно установлены на пути распространения отраженного от плоскопараллельной пластины пучка. Изобретение позволяет повысить точность измерения характеристик светорассеяния ОЭП за счет снижения систематических погрешностей, связанных с зависимостью текущего значения эталонных отражателей ЭПР от дальности их локации. 13 ил., 1 табл. |
2329475 патент выдан: опубликован: 20.07.2008 |
|
УСТРОЙСТВО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭФФЕКТИВНОЙ ПЛОЩАДИ РАССЕЯНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОГО СРЕДСТВА
Изобретение относится к области измерений характеристик светорассеяния объектов. Устройство содержит расположенные по ходу зондирующего излучения лазер подсвета и светорасщепитель, между которыми последовательно установлены по ходу зондирующего лазерного излучения коллиматор и объектив с фокусным расстоянием, равным удвоенному расстоянию между светорасщепителем и держателем исследуемого оптико-электронного средства (ОЭС). Между светорасщепителем и фотоприемником по ходу ответвленного светорасщепителем отраженного от исследуемого ОЭС излучения установлен ослабитель лазерного излучения с коэффициентом пропускания, равным квадрату отношения фокусного расстояния объектива к удвоенной длине имитируемой измерительной трассы. Устройство обеспечивает практически полное устранение систематической погрешности, возникающей за счет искривленности волнового фронта зондирующего излучения в плоскости апертуры ОЭС, а также обеспечивает увеличение динамического диапазона измерений и повышение точности измерений за счет устранения негативного влияния отраженного излучения от оптической системы имитатора трассы. 3 ил. |
2284486 патент выдан: опубликован: 27.09.2006 |
|
ЭТАЛОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПЕРЕДАЧИ РАЗМЕРА ЕДИНИЦЫ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, ПОВЕРКИ И КАЛИБРОВКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, ОПТИЧЕСКИХ АТТЕНЮАТОРОВ И ИСТОЧНИКОВ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМАХ ПЕРЕДАЧИ
Устройство для повышения точности поверки и калибровки содержит стабилизированный источник лазерного излучения с выходным волоконно-оптическим (ВО) разъемом, регулируемый оптический аттенюатор с входным и выходным ВО разъемами, эталонный ваттметр со входньм оптическим разъемом, измерительный преобразователь, оптический вход которого снабжен ВО разъемом, а электрический выход подсоединен к осциллографу, четыре ВО выходных разъемов устройства для связи с поверяемыми объектами, дополнительно введенный монохроматор с осветителем и съемным ВО разъемом на входе и оптическим юстировочным элементом на выходе, снабженным ВО разъемом. Оптическая связь между элементами осуществлена пятью ВО кабелями, имеющими один из своих ВО выводов с возможностью установки в двух положениях для обеспечения программы указанной поверки и калибровки. Технический результат - повышение точности поверки и калибровки. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2271522 патент выдан: опубликован: 10.03.2006 |
|
ЛЮКССЕКУНДОМЕР ТРОЯНА
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотометрии в качестве средства измерений световой экспозиции, создаваемой источниками оптического излучения. Задачей, решаемой данным изобретением, является разработка средства измерения световой экспозиции, преимущественно для протяженных источников оптического излучения. Технический результат данной разработки достигается тем, что в устройстве для исследования энергетических и временных характеристик лазерного излучения входное окно выполнено в виде блока диафрагм, имеющих различные размеры отверстий таким образом, что края диафрагм расположены на двух конических поверхностях, симметричных относительно оптической оси, при этом вершины конических поверхностей обращены в разные стороны, отверстие, образованное точками пересечения конических поверхностей, совпадает с отверстием минимальной диафрагмы, образующие конических поверхностей составляют с оптической осью угол , определяемый из соотношения , где Dпэ - размер отверстия приемника энергии; мд - размер минимального отверстия блока диафрагм; H - расстояние от отверстия приемника энергии до диафрагмы с минимальным отверстием, а чувствительный элемент выполнен в виде полого конуса и редуцирован светофильтром. 1 ил. |
2081402 патент выдан: опубликован: 10.06.1997 |
|