Фотометрия, например фотографические экспозиметры: ..с помощью электрических детекторов излучения – G01J 1/16

Изобретение относится к способам измерения параметров инфракрасных матричных фотоприемных устройств (ИК ФПУ), работающих в режиме накопления. Способ измерения квантовой эффективности и темнового тока фоточувствительных элементов матричных ИК ФПУ включает установку ФПУ на заданном расстоянии от излучающей поверхности протяженного абсолютно черного тела (АЧТ), выставление первой заданной температуры излучения АЧТ и регистрацию величины сигналов всех фоточувствительных элементов (ФЧЭ) при нулевом времени накопления и заданном времени накопления. Затем устанавливают вторую заданную температуру излучения АЧТ, отличающуюся от первой на заданную величину Т, и регистрируют величины сигналов всех ФЧЭ при заданном времени накопления, по трем измеренным массивам сигналов автоматически рассчитывают величины квантовых эффективностей и темновых токов ФЧЭ. Технический результат заключается в обеспечении возможности автоматизации способа измерения квантовой эффективности и темнового тока ФПУ, а также в обеспечении возможности уменьшения времени измерения квантовой эффективности и темнового тока ФПУ и, кроме того, в обеспечении возможности повышения надежности измерения квантовой эффективности и темнового тока ФПУ. 1 з.п. ф-лы, 3 табл.

Изобретение относится к области световых измерений и может быть использовано при измерении яркости покрытий проезжей части автомобильных дорог и улиц. Сущность изобретения: в качестве объекта измерения используется эталонный образец с покрытием, идентичным по типу покрытию измеряемого участка полотна дороги и являющимся ровным, сухим, чистым, однородным и накатанным, который располагают над точкой измерения, при этом верхнюю плоскость образца устанавливают параллельно плоскости полотна дороги, а яркомер нацеливают оптической осью на эталонный образец под регламентируемым углом к верхней плоскости образца и располагают на таком удалении от образца, при котором измерительное поле яркомера полностью вписывается в площадь верхней поверхности эталонного образца. Техническим результатом является повышение точности измерений и сокращение трудозатрат. 6 з.п. ф-лы, 5 ил.