Спектрометрия, спектрофотометрия, монохроматоры, измерение цвета: ..интерферометрическая спектрометрия – G01J 3/45
Патенты в данной категории
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИНФРАКРАСНЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПЛАЗМОНОВ ПО РЕАЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ
Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов оптическими методами, а именно к способу измерения длины распространения поверхностных плазмонов, направляемых этой поверхностью. Способ включает измерение интенсивности излучения вдоль трека плазмонов и расчет значения длины распространения по результатам измерений. При этом проводят измерение интенсивности объемного излучения, порожденного плазмонами на естественных неоднородностях поверхности, представляющих собой статистически равномерно распределенные вариации оптических постоянных и шероховатости. Измерения осуществляют за пределами поля плазмонов. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 1 ил. |
2512659 патент выдан: опубликован: 10.04.2014 |
|
ИЗОБРАЖАЮЩИЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР
Изобретение может быть использовано для регистрации спектров источников излучения, в том числе для регистрации малых атмосферных примесей с подвижных носителей. Фурье-спектрометр построен на основе двухлучевого интерферометра с поперечным сдвигом интерферирующих лучей и содержит расположенные по ходу луча входную апертуру, входной объектив, двухлучевой интерферометр с поперечным сдвигом интерферирующих лучей, Фурье-объектив и многоэлементное матричное фотоприемное устройство. Между входной апертурой и входным объективом, а также между Фурье-объективом и многоэлементным матричным фотоприемным устройством установлены под одинаковыми углами к оптической оси плоские поворотные зеркала, снабженные интегрированной электроприводной динамической системой. Оси поворота зеркал лежат в плоскости самих зеркал, проходят через оптическую ось и перпендикулярны плоскости, в которой имеет место поперечный сдвиг интерферирующих лучей. Технический результат - повышение спектрального разрешения и упрощение системы сканирования. 1 ил. |
2498239 патент выдан: опубликован: 10.11.2013 |
|
ПЛАЗМОННЫЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР ТЕРАГЕРЦОВОГО ДИАПАЗОНА
Изобретение относится к оптическим методам исследования поверхности металлов и полупроводников. Спектрометр содержит источник объемного излучения, светоделитель, расщепляющий излучение на измерительный и реперный пучки, зеркало, твердотельный проводящий образец с двумя сопряженными скругленным ребром плоскими гранями, размещенный на одной из этих граней элемент преобразования излучения измерительного пучка в поверхностный плазмон (ПП), размещенный на второй грани образца элемент преобразования ПП в объемное излучение, выполненный в виде примыкающего к грани и перемещаемого вдоль трека ПП плоского зеркала, ориентированного перпендикулярно треку и наклонно к грани, второй светоделитель, совмещающий пучки и сопряженный с наклонным зеркалом, перемещаемым вместе со вторым светоделителем вдоль поверхности образца, фокусирующий объектив, фотоприемное устройство, второй объектив, размещенный на пути совмещенных пучков, устройство обработки информации, линию задержки, состоящую из четырех уголковых зеркал, попарно расположенных на пути пучков. Уголковые зеркала, отражающие измерительный пучок, сопряжены с наклонным зеркалом и вторым светоделителем, а источник излучения имеет сплошной спектр. Изобретение направлено на сокращение времени измерений спектра комплексного показателя преломления поверхностных плазмонов. 4 ил. |
2477842 патент выдан: опубликован: 20.03.2013 |
|
СПОСОБ ДИСПЕРСИОННОЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТРИИ В НЕПРЕРЫВНОМ ШИРОКОПОЛОСНОМ ИЗЛУЧЕНИИ
Изобретение относится к оптическим методам исследования материалов, а именно к определению спектров комплексной диэлектрической проницаемости или оптических постоянных. Способ заключается в размещении в каждом плече двухлучевого интерферометра по одному идентичному герметичному контейнеру с прозрачными окнами, в одном из которых в измерительном плече размещают прозрачный образец исследуемого вещества. В контейнере опорного плеча размещают эталонное тело, толщиной, равной толщине образца, и изготовленное из вещества, с показателем преломления n0, монотонно зависящим от частоты излучения и отличающимся от показателя преломления исследуемого вещества n в пределах полосы излучения не более чем на величину (n-n0)= |
2468344 патент выдан: опубликован: 27.11.2012 |
|
СПОСОБ АНАЛИЗА СПЕКТРОВ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ
Изобретение относится к измерительной технике. Способ заключается в разложении спектров люминесценции на гауссианы путем подбора параметров гауссианов с учетом значений амплитуд экспериментальных точек в спектре люминесценции; значений расчетных амплитуд, а также с учетом коэффициента пропорциональности между амплитудой сигнала и количеством зарегистрированных фотонов и с учетом величины стандартного отклонения погрешности измерения амплитуды сигнала, связанного с шумами аппаратуры. Технический результат: повышение надежности и точности автоматизированного анализа спектров люминесценции. |
2412452 патент выдан: опубликован: 20.02.2011 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА ГРЕБЕНКИ ЧАСТОТ ЛАЗЕРА С САМОСИНХРОНИЗАЦИЕЙ МОД
При реализации способа значение сдвига определяется при обработке спектра излучения лазера. Указанную обработку спектра осуществляют при пропускании излучения лазера через перестраиваемый на несколько длин волн интерферометр с регистрацией сигнала фотодетектором. Сдвиг гребенки частот лазера с самосинхронизацией мод определяют по полученному расстоянию между максимумами огибающей гребенки полос и полосы пропускания интерферометра с максимальной интенсивностью. Технический результат заключается в обеспечении измерения сдвига гребенки частот лазера с самосинхронизацией мод даже в том случае, когда ее ширина меньше октавы. 1 ил. |
2410653 патент выдан: опубликован: 27.01.2011 |
|
ГЕТЕРОДИННЫЙ СПЕКТРОМЕТР ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
Изобретение относится к области спектрометров-детекторов электромагнитного излучения, работающих в гигагерцовом-терагерцовом диапазонах частот. Сущность изобретения: гетеродинный спектрометр электромагнитного излучения, включающий калибровочный генератор излучения известной частоты, элемент, смешивающий излучение известной частоты от калибровочного генератора с исследуемым излучением неизвестной частоты, прибор для измерения спектров в частотном диапазоне устройства, нелинейный рабочий элемент, представляющий собой полупроводниковую наноструктуру с двумерным заряженным слоем с, как минимум, двумя контактами к двумерному заряженному слою, систему охлаждения нелинейного рабочего элемента, дополнительно содержит источник магнитного поля, перпендикулярного плоскости двумерного заряженного слоя. В качестве системы охлаждения нелинейного рабочего элемента использованы система азотного или Пельтье охлаждения, а полупроводниковая наноструктура включает в себя дефект/дефекты, представляющие собой любую неоднородность в топологии или параметрах двумерного заряженного слоя или его диэлектрического окружения. Технический результат изобретения заключается в увеличении разностной частоты работы гетеродинного спектрометра, повышении его рабочей температуры, в упрощении системы охлаждения рабочего элемента и возможности функционирования прибора в магнитном поле. 4 ил. |
2402749 патент выдан: опубликован: 27.10.2010 |
|
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО СПЕКТРАЛЬНОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ
Изобретение относится к оптической низкокогерентной рефлектометрии со спектральным способом приема и может быть использовано для получения изображения, свободного от когерентных помех, связанных с наличием самоинтерференции рассеянного от объекта исследования излучения и наличием паразитных отражений в оптическом тракте системы. Осуществляют два или более последовательных измерения спектра интерференции. Во время, по крайней мере, одного измерения спектра интерференции с помощью блока управления интерференцией излучения осуществляется модуляция фазы между интерферирующими частями излучения по определенному закону в течение времени экспозиции, что приводит к усреднению фазы полезной интерференции, а во время, по крайней мере, одного дополнительного измерения спектра интерференции фаза между интерферирующими частями излучения в течение времени экспозиции не модулируется. Фаза между интерферирующими частями излучения в дополнительных измерениях спектра интерференции может устанавливаться различной. Изобретение позволяет получать изображения с полным устранением когерентных помех без потерь мощности рассеянного исследуемым объектом излучения при значительных скоростях движения в объекте. 2 н. и 8 з.п. ф-лы, 3 ил. |
2399029 патент выдан: опубликован: 10.09.2010 |
|
ОТОБРАЖАЮЩИЙ СПЕКТРОМЕТР
Устройство относится к области оптического приборостроения. Отображающий спектрометр содержит интерферометр 1, образованный двумя параллельными пластинами, на которые нанесено отражающее покрытие, объектив 2, входное окно 3, полосовой фильтр 4, матричный приемник излучения 5 и монитор тепловизора 6. Предложен оптимальный расчет расстояния между пластинами интерферометра d, фокусного расстояния объектива F и угла наклона интерферометра к оптической оси объектива |
2377510 патент выдан: опубликован: 27.12.2009 |
|
ШИРОКОДИАПАЗОННЫЙ ФУРЬЕ-ГИПЕРСПЕКТРОМЕТР
Использование: для осуществления измерений в оптической спектрометрии. Сущность заключается в том, что широкодиапазонный Фурье-гиперспектрометр состоит из спектрального блока, выполненного в виде собственно Фурье-спектрометра, содержащего оптически связанные источник входного излучения, интерферометрический блок, содержащий два плоских зеркала и светоделитель между ними, первое внеосевое эллипсоидное зеркало на входе светоделителя и второе внеосевое параболоидное зеркало на выходе светоделителя, и позиционно-чувствительный фотоприемник, при этом перед спектральным блоком установлен объектив в виде зеркальной оптической системы без экранирования и с ходом лучей, близким к телецентрическому, а в этом спектральном блоке последовательно установлены общие для сквозного оптического тракта первое внеосевое зеркало, выполненное параболоидным, первый дихроичный элемент и набор спектральных модулей с фотоприемными устройствами, причем все модули установлены после первого дихроичного элемента с отражающим покрытием для более коротковолновых поддиапазонов, при этом в каждом модуле анаморфизирующие элементы установлены на входах каждого из интерферометрических блоков, а после вторых внеосевых параболоидных зеркал могут быть установлены вторые дихроические элементы, при этом все параболоидные зеркала выполнены в виде внеосевых сегментов одного зеркала, набор спектральных модулей может быть переменным, а все оптические элементы могут быть выполнены из материалов с высокой радиационной устойчивостью к воздействию космического излучения. Технический результат: обеспечение возможности работы в широком спектральном диапазоне одновременно в нескольких спектральных каналах. 2 ил. |
2344383 патент выдан: опубликован: 20.01.2009 |
|
ОТОБРАЖАЮЩИЙ СПЕКТРОМЕТР (ВАРИАНТЫ)
Изобретение относится к области оптического приборостроения. В спектрометре интерферометры, зеркала которых не имеют отражающих покрытий, установлены по отношению к оси оптической системы, вдоль которой распространяется фильтруемое излучение, под углом |
2331049 патент выдан: опубликован: 10.08.2008 |
|
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР
Изобретение относится к области технической физики, связанной с разработкой видеоспектральной аппаратуры, предназначенной в первую очередь для решения задач дистанционного зондирования Земли с подвижных платформ. Интерференционный спектрометр содержит расположенные по ходу луча входную диафрагму, коллимирующий объектив и светоделитель, выполненный из двух подобных призм, рабочие грани которых алюминированы, а угол между алюминированными и прозрачными гранями больше прямого. В заднем фокусе входного объектива находится щель, размещенная в плоскости входной грани блока призм, ширина щели равна ширине пикселов используемого матричного фотоприемника. Входная грань призменного светоделителя алюминирована, а между выходным объективом, имеющим входную щель в своем переднем фокусе, и матричным фотоприемником устанавливается цилиндрическая линза, причем матричный фотоприемник расположен в ее задней фокальной плоскости. Изобретение позволяет получить гиперспектральный куб данных, включающий кроме спектрального разрешения также и пространственное разрешение по двум координатам пространства предметов. 1 ил. |
2313070 патент выдан: опубликован: 20.12.2007 |
|
АНАЛИЗАТОР СПЕКТРА ИЗЛУЧЕНИЙ
Изобретение относится к области спектроскопии. Анализатор содержит лазер с блоком питания, первую и вторую фокусирующие системы, фотоприемник на приборах с зарядовой связью (ПЗС) и с управляемой по длине ( |
2310175 патент выдан: опубликован: 10.11.2007 |
|
ИНТЕРФЕРОМЕТР
Изобретение относится к области спектрального анализа. Интерферометр содержит оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и периодическую решетчатую структуру, расположенную между источником светового излучения и отражающим зеркалом. Периодическая решетчатая структура образована системой токопроводящих электродов, нанесенных на или в тонкий (менее ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
2188402 патент выдан: опубликован: 27.08.2002 |
|
ИНТЕРФЕРОМЕТР Изобретение относится к области спектрального анализа. Интерферометр содержит оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и фотодетектор, выполненный в виде периодической решетчатой структуры с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов упомянутой решетчатой структуры на прозрачную пластинку. Интерферометр дополнительно снабжен второй периодической решетчатой структурой с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов с таким же периодом, как у первой решетчатой структуры, при этом вторая периодическая решетчатая структура размещена в плоскости первой периодической решетчатой структуры на той же прозрачной пластинке, а штрихи второй периодической решетчатой структуры расположены параллельно штрихам первой периодической решетчатой структуры со смещением на половину периода. Технический результат: существенное повышение точности измерений при измерении постоянной составляющей анализируемого излучения за счет учета фонового излучения 1 ил. | 2188401 патент выдан: опубликован: 27.08.2002 |
|
ИНТЕРФЕРОМЕТР И СПЕКТРОМЕТР ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ФУРЬЕ Интерферометр содержит расщепитель луча (ВS) и два сканирующих зеркала (М1, М2), которые расположены параллельно на общем скользящем элементе, который может линейно перемещаться. Интерферометр дополнительно содержит два компенсирующих зеркала (М3, М4), расположенные между расщепителем луча (ВS) и сканирующими зеркалами (М1, М2). Расщепитель луча (ВS) и каждое из компенсирующих зеркал (М3, М4) расположены ортогонально. Интерферометр имеет хороший допуск на неточности в перемещении сканирующих зеркал (М1, М2). Интерферометр можно применять для изготовления компактного и недорогостоящего спектрометра преобразования Фурье. 2 с. и 4 з.п. ф-лы, 5 ил. | 2150090 патент выдан: опубликован: 27.05.2000 |
|
ИНФРАКРАСНЫЙ ЭКСПРЕСС-АНАЛИЗАТОР Использование: изобретение относится к области физики, в частности к классу спектральных приборов и может быть использовано для количественного экспресс-анализа сельскохозяйственных и пищевых продуктов в ближней инфракрасной области спектра, а при соответствующем программном обеспечении позволит анализировать фармацевтическую, химическую и другие виды продукции. Сущность изобретения: в инфракрасном экспресс-анализаторе расширен рабочий диапазон спектра (750 - 2700 нм), введена система поворотных зеркал, снабженная электронным блоком управления и интегрирующей сферой, которая дополнительно оснащена двумя фотоприемниками с термоэлектрическими охладителями. Использование внутренней стенки сферы с золотым покрытием в качестве эталона позволит значительно повысить стабильность и точность измерения 100%-го отражения. Для повышения точности и термостабильности фотометрических характеристик и воспроизводимости длин волн в экспресс-анализаторе использовано три вида материалов с близким к нулю температурным коэффициентов линейного расширения, а именно: общее основание, корпусные детали интерферометра и интегрирующей сферы выполнены из ситалла, светоделитель, подвижное и неподвижное зеркала интерферометра и зеркала системы поворотных зеркал выполнены из кварца, а крепежные детали - из суперинвара. 1 з.п.ф-лы, 2 ил. | 2108553 патент выдан: опубликован: 10.04.1998 |
|
ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения. Сущность изобретения состоит в том, что в Фурье-спектрометр, содержащий оптически связанные источник излучения, два плоских зеркала, светоделитель и позиционно чувствительный линейный фотоприемник, введены внеосевые эллиптическое и параболическое зеркала. Первое размещено на входе светоделителя таким образом, что отображает входную апертуру спектрометра, находящуюся в первом фокусе эллипса, во второй его фокус, расположенный симметрично между плоскими зеркалами. Второе - на выходе светоделителя, так, что источник расположен в первой фокальной плоскости, а фотоприемник - в задней фокальной плоскости. 1 ил. | 2100786 патент выдан: опубликован: 27.12.1997 |
|
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР
Изобретение относится к технической физике, связанной с разработкой спектральной аппаратуры, предназначенной для регистрации спектров оптического диапазона длин волн сильнопоглощающих веществ и объектов любой протяженности. Сущность изобретения: двухлучевой интерферометр прибора выполнен в виде призмы полного внутреннего отражения, состоящей из двух полупризм, каждая из которых представляет собой четырехгранник, у которого два угла прямые, а острый равен 45oC, склеенных по светоделительной грани таким образом, что острые углы в сумме составляют прямой угол, при этом относительный показатель преломления каждой из призм определяется соотношением n![]() |
2083960 патент выдан: опубликован: 10.07.1997 |
|
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР Использование: изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле и испытаниях оптических изделий и исследованиях оптических неоднородностей в прозрачных средах, в частности в газодинамических и баллистических экспериментах. Сущность заключается в том, что двухлучевой интерферометр содержит осветительную систему, состоящую из источника монохроматического излучения и коллиматора, опорную и объективную ветви, включающие в себя четыре дифракционные решетки, три из которых рельефно-фазовые, сопрягающий объектив, регистрирующее устройство, а также компенсатор оптической разности хода, установленный в опорной ветви, и диафрагму, установленную перед регистрирующим устройством. Первая решетка по ходу излучения выполнена объемной пропускающей голограммной, четвертая решетка - рельефно-фазовой голограммной, обе они установлены навстречу одна другой рабочими поверхностями с возможностью их одновременного согласованного поворота вокруг осей, параллельных их штрихам и расположенных вблизи центров решеток. 2 ил. | 2075063 патент выдан: опубликован: 10.03.1997 |
|
ИНТЕРФЕРОМЕТР Использование: в оптической микроскопии для измерения оптической разности фаз с точностью порядка 10-3 - 10-4 рад. Сущность изобретения: в интерферометре делитель освещающей волны и устройство сдвига частоты выполнены в виде оптической интегральной схемы на одномодовых полосковых волноводах с волоконно-оптическим торцевым вводом. При этом указанная интегральная схема содержит волноводный разветвитель входного волновода на два волновода, выходящих открытыми концами на свободный торец интегральной схемы, и расположенный на этих волноводах (или одном из них) фазовый модулятор. 1 ил. | 2067291 патент выдан: опубликован: 27.09.1996 |
|