Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей: ..выявление дефектов, трещин или загрязнений – G01N 21/88
Патенты в данной категории
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ДЕФЕКТОВ НА МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЯХ
Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и предназначено для определения дефектов и трещин на поверхности металлического оборудования и трубопроводов. На поверхность контролируемого объекта наносят напылением наночастицы золота цилиндрической формы длиной не более 100 нм и с толщиной слоя, обеспечивающей заполнение полостей потенциальных трещин, после чего производят сушку поверхности с последующим удалением с нее слоя напыления. Затем осуществляют построчное сканирование поверхности объекта лучом фемтосекундного лазера и одновременно регистрируют интенсивность сигнала двухфотонной люминесценции в каждой исследуемой области с фиксированием местоположения указанной области, соответствующего координате объекта, и формируют двумерный массив значений интенсивности сигнала двухфотонной люминесценции с получением карты распределения интенсивностей свечения наночастиц, возбуждаемых лазерным излучением. Изобретение позволяет диагностировать поверхностные дефекты в металлоконструкциях с обеспечением ранней диагностики дефектов. 2 з.п. ф-лы, 7 ил. |
2522709 патент выдан: опубликован: 20.07.2014 |
|
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ВНЕШНЕГО КОМПОЗИЦИОННОГО АРМИРОВАНИЯ СТРОИТЕЛЬНЫХ КОНСТРУКЦИЙ
Изобретение относится к области разработки, производства и монтажа строительных конструкций преимущественно из бетона, покрытого армирующим композиционным материалом. Способ контроля внешнего композиционного армирования строительных конструкций включает тепловое нагружение контролируемой поверхности, облучение контролируемой поверхности когерентным лазерным излучением, регистрацию поля перемещений и обнаружение дефектов композиционного армирования по наличию аномалий интерференционных полос. При этом тепловое нагружение выполняют лучом лазера с длиной волны, обеспечивающей максимальное поглощение энергии контролируемым композиционным покрытием и пятном прогрева меньше поперечного размера допустимого дефекта, энергию прогрева дозируют длительностью импульса излучения. Проводят поточечное сканирование исследуемой поверхности, а поле перемещений регистрируют методом высокоскоростной электронной корреляционной спекл-интерферометрии. Изобретение позволяет повысить эффективность способа, сократить время подготовительных операций, а также увеличить достоверность обнаружения дефектов. 2 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2519843 патент выдан: опубликован: 20.06.2014 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКОЙ ДЕТАЛИ
Изобретение относится к области силовой лазерной оптики и касается способа определения плотности дефектов поверхности оптической детали. Способ включает в себя облучение участков поверхности оптической детали пучком импульсного лазерного излучения с гауссовым распределением интенсивности, регистрацию разрушения поверхности, наиболее удаленного от точки максимальной интенсивности пучка лазерного излучения, определение соответствующего этому разрушению значения интенсивности пучка i, определение зависимости плотности вероятности f( ) разрушения поверхности оптической детали от интенсивности излучения и выбор наименьшего значения интенсивности пучка imin. Плотность дефектов поверхности оптической детали D определяется по формуле: , где r0 - радиус пучка по уровню exp(-1) от максимальной интенсивности пучка излучения. Технический результат заключается в повышении точности и уменьшении трудоемкости измерений. 3 ил. |
2515119 патент выдан: опубликован: 10.05.2014 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТА ПОВРЕЖДЕНИЯ ОПТИЧЕСКОГО ВОЛОКНА
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для локализации места повреждения оптического волокна. Согласно способу измеряют контрольную и текущую поляризационные характеристики обратного рассеяния оптического волокна. При измерении текущей характеристики с помощью контроллера поляризации изменяют состояние поляризации оптического излучения на входе оптического волокна и рассчитывают коэффициенты корреляции контрольной и текущей поляризационных характеристик вдоль длины оптического волокна. По полученным характеристикам участок с повреждением определяют как участок, на котором коэффициент корреляции изменяется на величину, превышающую пороговое значение. Расстояние до места повреждения определяют как расстояние до точки пересечения характеристик изменения коэффициента корреляции контрольной и текущей поляризационных характеристик обратного рассеяния вдоль длины оптического волокна при максимальном значении коэффициента корреляции на ближнем и дальнем конце, соответственно. Технический результат - исключение погрешностей вносимых изменением состояния поляризации при повторных подключениях оптического рефлектометра и снижение погрешности при определении расстояния до места повреждения волокна. 1 ил. |
2503939 патент выдан: опубликован: 10.01.2014 |
|
СПОСОБ ДИСТАНЦИОННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СРЕДЫ ОТКРЫТОГО ВОДОЕМА
Способ относится к области океанографических измерений и может быть использован для контроля состояния открытых водоемов, вызванного их загрязнением, при проведении экологических и природоохранных мероприятий, а также для мониторинга гидрологических характеристик. Поверхность исследуемого водоема непрерывно в надир облучают лазером и регистрируют блики зеркального отражения от поверхности. В моменты регистрации бликов зеркального отражения увеличивают мощность излучения лазера до уровня, позволяющего измерять спектр комбинационного рассеяния из водной толщи. Измеряют спектр комбинационного рассеяния из водной толщи и по нему определяют характеристики среды водоема, например химические, биологические параметры, температуру. Технический результат заключается в повышении точности определения вертикальных распределений характеристик исследуемой водной среды за счет устранения влияния на результат измерений возмущений поверхности, созданных ветровыми волнами и зыбью. |
2503041 патент выдан: опубликован: 27.12.2013 |
|
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОЧИСТКИ КРИСТАЛЛОВ АЛМАЗОВ
Изобретение относится к обогащению полезных ископаемых и может быть использовано для контроля качества очистки алмазов. Способ включает отбор контрольной пробы очищенных кристаллов природных алмазов и определение загрязнений и примесей. Контрольную пробу очищенных кристаллов природных алмазов повторно подвергают полному циклу очистки. До и после проведения повторной очистки осуществляют регистрацию спектров поглощения кристаллов алмазов контрольной пробы и определение численного значения цветовых координат кристаллов алмазов и содержания в контрольной пробе кристаллов алмазов с различным видом загрязнений до и после повторной очистки. О качестве основной очистки судят по значимости различий между расчетными показателями, которую оценивают по t-критерию Стьюдента. Технический результат - повышение эффективности и точности контроля качества используемого процесса очистки кристаллов алмазов. 1 з.п. ф-лы, 1 табл. |
2498276 патент выдан: опубликован: 10.11.2013 |
|
СПОСОБ ОЦЕНКИ ЭФФЕКТИВНОСТИ ОЧИСТКИ ПРИРОДНЫХ АЛМАЗОВ
Изобретение относится к обогащению полезных ископаемых и может быть использовано для контроля качества очистки алмазов. Способ включает отбор контрольной пробы очищенных кристаллов природных алмазов и определение загрязнений и примесей. После проведения очистки осуществляют регистрацию спектров поглощения кристаллов алмазов контрольной пробы и определение в информационном массиве цвета кристаллов алмазов и содержания в контрольной пробе кристаллов алмазов с различным видом загрязнений до и после очистки. Об эффективности очистки судят по отношению количества очистившихся кристаллов к количеству кристаллов алмазов с загрязнением до очистки, выраженному в процентах. Изобретение позволяет повысить эффективность и точность контроля процесса очистки. 1 табл. |
2495405 патент выдан: опубликован: 10.10.2013 |
|
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ДЕТАЛЕЙ ИЗ ПОЛИМЕРНЫХ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ
Изобретение относится к способам оперативного диагностирования деталей из полимерных композиционных материалов (ПКМ) в эксплуатации и может быть использовано для выявления появляющихся дефектов изделий, агрегатов, узлов и деталей в авиакосмической, авиационной, судостроительной и других отраслях машиностроения. Сущность: в композицию, используемую для формирования контролируемого объекта, вводят стекловолокно как материал, аналогичный используемому в качестве наполнителя для формирования каркасной матрицы детали, выполненное с возможностью канализации через него светового луча. При этом используют цельные отрезки стекловолокна длиной, большей длины детали, которые размещают с пересечением траекторий вероятного формирования дефектов, в объеме детали, не подвергающемся обработке. О наличии дефекта судят по отсутствию прохождения светового луча или снижению яркости исходящего светового потока. Технический результат: обеспечение оперативного выявления дефектов. 5 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2488772 патент выдан: опубликован: 27.07.2013 |
|
СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИ
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области неразрушающего контроля параметров полупроводниковых материалов, и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов в кремниевых слитках перед разрезанием слитков на пластины. Способ включает облучение объекта в n-точках непрерывным зондирующим ИК-излучением L1 с длиной волны 1 5,0 мкм, регистрацию интенсивности In прошедшего через объект излучения L1 и математическую обработку результатов регистрации. При этом объект дополнительно облучают пересекающим излучение L1 импульсным ИК-излучением L2 с длиной волны 2=1,0÷1,3 мкм, длительностью импульса 2=0,8÷1,0 мс и частотой следования импульсов 2=0,6÷1,0 мкс, регистрацию интенсивности In осуществляют в период между импульсами излучения L2. Визуализацию распределения структурных дефектов в объеме объекта осуществляют по отношению In/I max, где Imax - максимальное из зарегистрированных значений In. Изобретение обеспечивает прямую визуализацию распределения структурных дефектов в объеме кремния. 1 ил. |
2486630 патент выдан: опубликован: 27.06.2013 |
|
СПОСОБ РАСПОЗНАВАНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПРИЗНАКОВ МЕТАЛЛУРГИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ, В ЧАСТНОСТИ ЗАГОТОВОК, ПОЛУЧЕННЫХ НЕПРЕРЫВНОЙ РАЗЛИВКОЙ, И ПРОКАТНЫХ ИЗДЕЛИЙ, А ТАКЖЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА
При способе распознавания поверхностных признаков металлургических изделий, в частности заготовок, полученных непрерывной разливкой, или прокатных изделий определенный фрагмент поверхности (12, 12') изделия облучается по меньшей мере от двух источников излучения различной длины волны с разных направлений, а облучаемый фрагмент поверхности фиксируется с помощью оптоэлектроники. На поверхность (12, 12') изделия под одинаковым углом ( ) направлены три источника (21, 22,) света, расположенные в трех плоскостях (Е1, Е2, Е3 ,), образующих между собой угол 120° и перпендикулярных к поверхности (12, 12') изделия. Таким образом, за очень короткое время может быть получена и записана полезная информация о металлургических изделиях, так чтобы они могли быть безошибочно идентифицированы, и, соответственно, могли быть определены состояние и структура поверхности. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 5 ил. |
2480738 патент выдан: опубликован: 27.04.2013 |
|
СПОСОБ ЛОКАЛИЗАЦИИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ В ИНФРАКРАСНОМ ИЗЛУЧЕНИИ
Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхностей металлов и полупроводников. Способ включает воздействие на поверхность зондирующим излучением, для которого металл имеет отрицательную действительную часть диэлектрической проницаемости, преобразование излучения в набор пучков поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), направляемых поверхностью, освещение контролируемого участка поверхности этими пучками, регистрацию пучков совокупностью приемников пучков и обработку результатов измерений. Преобразование излучения в ПЭВ завершают на прямой линии, перпендикулярной плоскости падения. Пучки формируют параллельными и примыкающими друг к другу. Освещение участка пучками производят поочередно с двух противоположных направлений, а регистрацию пучков осуществляют над участком в ряде плоскостей, перпендикулярных трекам ПЭВ, путем измерения распределения интенсивности поля ПЭВ в окружающей среде, фиксируя в моменты регистрации расстояние, пробегаемое ПЭВ, и координаты приемников в плоскости регистрации. Изобретение обеспечивает повышение точности локализации неоднородностей металлизированной поверхности. 2 ил. |
2479833 патент выдан: опубликован: 20.04.2013 |
|
УСТАНОВКА ДЛЯ ИМИТАЦИИ И КОНТРОЛЯ ЗАПОТЕВАНИЯ СТЕКОЛ ЗАЩИТНЫХ ОЧКОВ
Изобретение направлено на определение основных защитных и эксплуатационных показателей защитных очков, применяемых при наличии запотевания смотровых стекол в условиях их реальной эксплуатации. Установка состоит из макета головы человека, системы подачи в нее увлажненного воздуха и светоизмерительной цепи. В светоизмерительную цепь дополнительно введены заслонка-модулятор, располагаемая между источником света и пустотелым макетом головы с защитными очками, зеркальный отражатель, устанавливаемый за пустотелым макетом головы, и координатно-чувствительный приемник. Технический результат - повышение чувствительности и объективности контроля запотевания смотровых стекол защитных очков. 1 ил. |
2478933 патент выдан: опубликован: 10.04.2013 |
|
СПОСОБ ТЕСТИРОВАНИЯ СВЕТОВОДОВ С НЕДОСТУПНЫМ ТОРЦОМ ВВОДА-ВЫВОДА ИЗЛУЧЕНИЯ
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества световодов с непрозрачной защитной оболочкой и одним недоступным торцом ввода-вывода излучения. Способ тестирования световодов с недоступным торцом ввода-вывода излучения заключается в введении зондирующего излучения в доступный торец, по меньшей мере, одного световода и регистрацию с помощью фотоприемника отраженного излучения через тот же торец световода. Предварительно на недоступный торец световода наносят отражающий цветной слой или устанавливают его вплотную или с зазором к отражающей цветной поверхности, зондирование световода осуществляют белым светом, регистрацию отраженного излучения осуществляют фотоприемником с цветной ПЗС-матрицей, а затем визуально по цвету изображения доступного торца световода или по параметру цветности этого изображения, определяемого с помощью ПЭВМ, судят о целостности или дефектности световода. Технический результат заключается в обеспечении возможности расширения области применения способа тестирования световодов с одним доступным торцом ввода-вывода излучения на световоды малой длины (до 1,5-10 м), а также увеличении производительности процесса тестирования и в его техническом упрощении. 1 з.п. ф-лы, 4 ил. |
2477847 патент выдан: опубликован: 20.03.2013 |
|
УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СТЕКЛА
Устройство может быть использовано в дефектоскопии оптических материалов по таким показателям, как пузырность, бессвильность, посечки. Устройство содержит источник лазерного излучения, зеркало, которым сфокусированное лазерное излучение направляется на контролируемый объект, и конденсор, собирающий диффузно-отраженный сигнал на фотоприемник. Выход фотоприемника через две схемы совпадения соединен со входами первого генератора. Вторые входы схем совпадения соединены с выходами блока управления. Выход первого генератора соединен со входом источника лазерного излучения и через третью схему совпадения - со счетным входом счетчика. Второй вход третьей схемы совпадения и вход сброса счетчика соединяются с выходами блока управления, выход переполнения счетчика соединяется со входом сброса триггера, а его установочный вход соединен с выходом блока управления. Выход триггера через четвертую схему совпадения соединен со счетным входом счетчика результата, второй вход четвертой схемы совпадения соединен с выходом генератора стабильной частоты, входы сброса и реверса счетчика результата соединены с выходами схемы управления. Выход счетчика результата через пятую и шестую схемы совпадения соединяется со входами блоков выделения разрывов передней и задней поверхностей объекта, выходы которых являются выходами всего устройства, а вторые входы пятой и шестой схем совпадения соединяются с выходами блока управления. Технический результат - расширение области использования устройств для контроля качества стекла. 6 ил. |
2475726 патент выдан: опубликован: 20.02.2013 |
|
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ЭКСПРЕСС-КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ И УСТРОЙСТВО, ЕГО РЕАЛИЗУЮЩЕЕ
Способ включает исследование остаточных напряжений на участке в пределах исследуемой зоны объекта с помощью технологии спекл-интерферометрии. Облучение спекл-интерферометром сварной точки с зоной термического влияния и сбор интерферограмм производят в процессе образования сварного соединения, используя перепад температуры в период охлаждения сварной точки после ее получения, путем двукратной экспозиции за цикл изготовления следующей точки сварного соединения. Устройство содержит источник излучения - одночастотный лазер, спекл-интерферометр, аппарат для контактной сварки и регистрирующее устройство с пультом управления. Спекл-интерферометр и источник излучения выполнены в виде модуля, который работает согласованно с электродами контактной сварки в цикле изготовления сварных точек. Технический результат - расширение технологических возможностей, улучшение качества и уменьшение времени на проведение неразрушающего экспресс-контроля и снижение энергетических затрат на его осуществление. 2 н.п. ф-лы, 1 ил. |
2475725 патент выдан: опубликован: 20.02.2013 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИСТОЧНИКОВ ВЫБРОСОВ В АТМОСФЕРУ ПО ИЗОБРАЖЕНИЯМ МЕГАПОЛИСОВ
Изобретение относится к области экологии, в частности к дистанционным методам мониторинга природных сред, и может найти применение в системах санитарно-эпидемиологического контроля промышленных регионов. Предлагается способ определения источников выбросов в атмосферу по изображениям мегаполисов. Дистанционно получают спектрозональный снимок региона высокого разрешения ( 2 м/пиксель), содержащий контрольные промышленные площадки, в виде цифровых значений спектральной яркости изображения I(x,y) в красной полосе видимого диапазона (570 670 нм). Выделяют контуры на изображениях методами пространственного дифференцирования с установленными градациями яркости, проводят линеаментный анализ градиентных полей внутри выделенных контуров и получают графические образы источников выбросов в виде ориентированных линеаментов. Точку пересечения линеаментов отождествляют с местоположением источника выбросов. Осуществляют нормирование значений яркости пикселей изображения относительно максимальной яркости и калибровку яркостей пикселей в значениях ПДК по их значениям для контрольных площадок. Технический результат заключается в повышении статистической устойчивости, оперативности и достоверности результатов оценки экологического состояния атмосферы мегаполисов. 7 ил., 1 табл. |
2463630 патент выдан: опубликован: 10.10.2012 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОРРОЗИОННОГО СОСТОЯНИЯ ПОДЗЕМНОЙ ЧАСТИ ЖЕЛЕЗОБЕТОННЫХ ОПОР ЛИНИЙ ЭЛЕКТРОПЕРЕДАЧ И КОНТАКТНОЙ СЕТИ
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения коррозионного состояния подземной части железобетонных опор линий электропередач и контактной сети без их откопки. В предлагаемом способе определения коррозионного состояния подземной части железобетонных опор линий электропередач и контактной сети, содержащем визуальное обследование подземной части железобетонной опоры, через вентиляционное отверстие внутрь опоры помещают видеоэндоскопическую систему. При этом с помощью системы освещения обеспечивают необходимый уровень освещенности внутренней поверхности опоры, с помощью системы управления эндоскопом перемещают его таким образом, чтобы обследовать всю внутреннюю поверхность опоры от поверхности грунта до основания опоры. Причем видеоинформацию о состоянии внутренней поверхности выводят на экран оператору и передают системе обработки изображений для автоматического распознавания дефектов и определения их размеров, по наличию и размеру трещин и бурых пятен на внутренней поверхности опоры судят о коррозионном состоянии подземной части железобетонной опоры. Техническим результатом изобретения является повышение точности и уменьшение трудоемкости при определении коррозионного состояния подземной части железобетонных опор визуальным методом. 1 ил. |
2460062 патент выдан: опубликован: 27.08.2012 |
|
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УЗЛОВ МОТОРНО-ТРАНСМИССИОННОГО БЛОКА ТРАНСПОРТНОГО СРЕДСТВА ПРИ УХУДШЕНИИ КАЧЕСТВА ТОПЛИВА
Изобретение относится к способу защиты узлов моторно-трансмиссионного блока транспортного средства с тепловым двигателем до или во время его пуска при ухудшении качества топлива в топливном баке и системе подачи топлива в двигатель. Способ предусматривает этап диагностирования вида и степени ухудшения качества топлива и этап активации системы защиты узлов моторно-трансмиссионного блока по результатам этапа анализа. Этап диагностирования основан на измерении взаимодействия между электромагнитным излучением и молекулами, входящими в состав топлива, причем указанное измерение выполняется специальной системой анализа, которая содержит микроанализатор, обеспечивающий измерение взаимодействия между электромагнитным излучением и молекулами, входящими в состав топлива. При этом указанное измерение основано на спектральном анализе в ближней инфракрасной области образующих топливо углеводородов. Технический результат заключается в обеспечении возможности превентивной защиты узлов моторно-трансмиссионного блока при ухудшении качества топлива. 13 з.п. ф-лы, 5 ил., 1 табл. |
2450146 патент выдан: опубликован: 10.05.2012 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОДЛОЖЕК
Изобретение относится к оптическому приборостроениию. Устройство позволяет контролировать качество поверхности подложек и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д. На подставке располагается исследуемая подложка. В верхней относительно подложки полуплоскости установлены два источника света, оснащенные рассеивающими фильтрами, так чтобы горизонтальные проекции осей этих источников были перпендикулярны. Под подложкой соосно с видеокамерой установлен третий источник света. Описанное расположение источников света повышает точность и производительность и позволяет измерять шероховатость большего числа видов подложек. 2 з.п. ф-лы, 3 ил. |
2448341 патент выдан: опубликован: 20.04.2012 |
|
УСТРОЙСТВО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПУТЕМ АНАЛИЗА РАССЕЯНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ
Устройство неразрушающего контроля детали (4), подвергаемой механическим напряжениям, путем анализа рассеяния излучения, при этом упомянутое устройство (1) содержит средства измерения, выполненные с возможностью определения поля излучения поверхности упомянутой детали, при этом упомянутые средства измерения интегрированы в гибкую подложку (2), предназначенную для покрытия поверхности упомянутой контролируемой детали и повторяющую форму детали. Упомянутые средства измерения содержат сеть микродатчиков (3) излучения, при этом каждый микродатчик (3) излучения содержит элемент, выполненный с возможностью преобразования излучения, излучаемого поверхностью упомянутой детали, в электрические заряды, при этом упомянутый элемент соединяют с устройством переноса электрических зарядов для приема электрических зарядов или мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов и сеть оптоэлектронных микродатчиков (6), наложенную на упомянутую мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов. Технический результат - осуществление контроля, позволяющего отслеживать усталостное состояние детали и отслеживать соответствие конструкции регламентным требованиям, предъявляемым к летательному аппарату на разных стадиях срока его службы. 23 з.п. ф-лы, 6 ил. |
2439545 патент выдан: опубликован: 10.01.2012 |
|
ОСВЕТИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ
Изобретение относится к осветительному устройству для цилиндрических объектов. Осветительное устройство содержит цилиндрический светильник с расположенной внутри него цилиндрической щелевой диафрагмой, в котором светильник содержит цилиндрический источник света с расположенным в нем цилиндрическим диффузором и в котором щелевая диафрагма является снабженным проходящими в осевом направлении щелями цилиндром, щели которого расположены так, что входящие перпендикулярно оси (О) щелевой диафрагмы через щели лучи сходятся внутри щелевой диафрагмы в расположенной на расстоянии от оси цилиндра точке. Технический результат - создание осветительного устройства, способа исследования поверхности и соответствующего компьютерного программного продукта, с помощью которых можно обнаруживать дефекты поверхности цилиндрических объектов. 4 н. и 10 з.п. ф-лы, 7 ил. |
2426981 патент выдан: опубликован: 20.08.2011 |
|
СВАРОЧНЫЙ ИНСТРУМЕНТ
Изобретение относится к сварочному устройству точечной сварки, в частности к сварочным клещам. Устройство содержит держатель для электрода для контактной сварки, устройство позиционирования проводимой мимо электрода ленты для производства изображения (20) сварной точки, и для анализа изображения (20) предусмотрено устройство (22) обработки данных. Устройство (22) выполнено с оптическим блоком (23) сбора данных, содержащим, по меньшей мере, состоящую из регистрирующего средства (25) и объектива (26) камеру (24). Блок (23) сбора данных содержит осветительное устройство (27) с диффузором (28) для рассеянного и гомогенного освещения изображения (20) точечной сварки на ленте (10). В результате достигается точность контроля за сварной точкой, обеспечена возможность автоматизированного контроля на непосредственном участке места сварки. 22 з.п. ф-лы, 4 ил. |
2410218 патент выдан: опубликован: 27.01.2011 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ В ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЯХ
Изобретение относится к устройствам для контроля поверхности цилиндрических объектов и, в частности, может быть использовано в производстве ядерного топлива при контроле внешнего вида топливных таблеток. Устройство содержит последовательно установленные узлы: контроля целостности изделий, два узла разделения изделий на два потока, установленные на каждом потоке узел контроля боковой поверхности и узел контроля торцевой поверхности изделий, а также узел объединения потоков изделий. Узел контроля целостности изделий содержит ПЗС-камеру. Каждый узлы разделения и объединения потоков содержат оптический датчик и упор для формирования и отсечения столба изделий заданной длины. Узел контроля боковой поверхности содержит вращающиеся валки, средство освещения контролируемых изделий и ПЗС-линейку. Узел контроля торцевых поверхностей содержит ротор, разделенный проточкой на две части, в каждой из которых выполнены пазы для размещения изделий, две ПЗС-камеры со встроенным излучателем для контроля изделий. Все узлы контроля также снабжены средствами сдува бракованных изделий. Технический результат - автоматизированный, оперативный, высоконадежный контроль цилиндрических объектов на наличие и характер поверхностных дефектов, высокая производительность технологической операции контроля. 5 з.п. ф-лы, 8 ил. |
2400704 патент выдан: опубликован: 27.09.2010 |
|
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ
Изобретение относится к средствам оптического контроля. Способ неразрушающего контроля заключается в подготовке объекта контроля, съемке и наблюдении объекта на участках оптического диапазона от крайнего ультрафиолетового излучения до дальнего инфракрасного излучения с помощью сверхширокополосного зеркального оптического объектива. При этом фиксируют изображение объекта контроля с использованием, по меньшей мере, одного матричного приемника в, по меньшей мере, одной камере, с возможностью одновременной или отдельной работы камер, передают полученную информацию о контролируемом объекте с помощью интерфейса на ЭВМ, расшифровывают и анализируют полученное изображение, оценивают результаты контроля и определяют техническое состояние объекта. Изобретение позволяет расширить функциональные возможности контроля и упростить процесс контроля объекта. 4 ил. |
2394227 патент выдан: опубликован: 10.07.2010 |
|
УСТАНОВКА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ЧИПОВ КАСКАДНЫХ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ НА ОСНОВЕ СОЕДИНЕНИЙ Al-Ga-In-As-P
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного неразрушающего контроля качества чипов полупроводниковых фотопреобразователей, в частности солнечных элементов. Установка для тестирования чипов каскадных фотопреобразователей на основе соединений Al-Ga-In-As-Р включает лазер (1) с длиной волны излучения 0,40-0,55 мкм, модулятор (2) излучения, линзу (3), платформу (6) для размещения матрицы (5) тестируемых чипов (4), объектив (7), оптические фильтры (8, 9), пропускающие в диапазоне 0,6-0,8 мкм, светонепроницаемый круглый экран (10) и фотоприемник (11), фоточувствительный к излучению с длинами волн более 0,6 мкм, установленные на одной оптической оси. Экран (10) установлен перед фотоприемником (11) и закрывает его центральную часть от попадания фотолюминесцентного излучения из облучаемого участка чипа в фотоприемник, подключенный через узкополосный усилитель (12) к контроллеру (13) с блоком памяти (14). В качестве упомянутого лазера использован лазер с длиной волны излучения 0,53 мкм, выполненный из алюмоиттриевого граната, легированного неодимом, включающий устройство удвоения частоты. Также установка снабжена двумя шаговыми двигателями, подключенными к контроллеру, для возвратно-поступательного перемещения основания в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Технический результат заключается в разработке установки, которая бы позволила упростить процесс тестирования и сократить время, затрачиваемое на проверку отдельных чипов. 2 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2391648 патент выдан: опубликован: 10.06.2010 |
|
СПОСОБ ТЕСТИРОВАНИЯ ЧИПОВ КАСКАДНЫХ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ НА ОСНОВЕ СОЕДИНЕНИЙ Al-Ga-In-As-P И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного неразрушающего контроля качества чипов полупроводниковых фотопреобразователей. Способ тестирования чипов каскадных фотопреобразователей на основе соединений Al-Ga-In-As-P включает облучение участка поверхности тестируемого чипа лазерным излучением с длиной волны (0,40-0,55) мкм, направление возникающего в необлученном участке чипа фотоэлектролюминесцентного излучения на фотоприемник, имеющий фоточувствительность к излучению с длиной волны более 0,6 мкм, измерение интенсивности фотоэлектролюминесцентного излучения и определение качества чипа. Устройство для тестирования содержит лазер с длиной волны излучения 0,40-0,55 мкм, линзу, платформу для размещения матрицы тестируемых чипов, установленную на основании, объектив, оптический фильтр и фотоприемник, фоточувствительный к излучению с длинами волн более 0,6 мкм, установленные на одной оптической оси, и экран. Фотоприемник подключен через усилитель к контроллеру с блоком памяти. Технический результат - разработка такого бесконтактного способа тестирования чипов каскадных ФП на основе соединений Al-Ga-In-As-P и устройства для его осуществления, которые бы позволили упростить процесс тестирования и сократить время, затрачиваемое на проверку отдельных чипов. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2384838 патент выдан: опубликован: 20.03.2010 |
|
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ТРЕЩИНООБРАЗОВАНИЯ В МЕТАЛЛОКОНСТРУКЦИЯХ
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля усталостных повреждений металлоконструкций, предельным состоянием которых является усталость или исчерпание трещиностойкости при длительной эксплуатации. Согласно изобретению способ диагностики трещинообразования в металлоконструкциях заключается в том, что определяют наиболее вероятные места разрушения металлоконструкции, подготавливают контрольные площадки в этих местах, исследуют поверхности контрольных площадок, по которым судят об образовании макротрещины при достижении ими своего максимального значения. Особенность способа заключается в том, что дополнительно исследуют профиль поверхности контрольных площадок вблизи концентратора напряжений перпендикулярно предполагаемому направлению развития трещины, на котором дополнительно проводят измерение среднего арифметического из абсолютных значений отклонений профиля параметра шероховатости на выбранной базовой длине, изменение которого служит мерой степени поврежденности узла исследуемой металлоконструкции. Это повышает надежность контроля благодаря возможности наблюдения кинетики процесса накопления усталостного повреждения во времени. 5 ил., 1 табл. |
2384813 патент выдан: опубликован: 20.03.2010 |
|
ОПТИЧЕСКИЙ ДАТЧИК ДЕФОРМАЦИИ
Изобретение относится к оптическим датчикам, предназначенным для измерения деформации твердых тел и амплитуды движений, и может быть использовано в медицинской и метрологической технике. Согласно изобретению оптический датчик деформации состоит из оптически связанных источника импульсного или статического светового излучения широкого или узкого участка спектра, многомодового световода и оптического детектора. При этом многомодовый световод изготовлен из эластичного материала, на удлиняющейся поверхности которого расположены повторяющиеся объемные выемки. Многомодовый световод может быть изготовлен из полимерного материала и может быть окружен эластичной защитной оболочкой. В недеформируемой области многомодового световода около источника светового излучения может быть установлен дополнительный оптически связанный детектор светового излучения. Технический результат - создание компактного и простого датчика деформации, позволяющего регистрировать деформацию на протяженном участке и одновременно имеющего улучшенные технические характеристики. 6 з.п. ф-лы, 10 ил. |
2381489 патент выдан: опубликован: 10.02.2010 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК
Изобретение относится к измерительной технике в области микроэлектроники и предназначено для измерения чистоты поверхности подложек. Способ заключается, в том, что наносят каплю жидкости на поверхность исследуемой подложки. Далее освещают ее потоком света с равномерным распределением интенсивности по сечению светового потока. Потом фиксируют интенсивность светового потока фотоприемной матрицей, с помощью которой определяют параметры растекания капли жидкости. И проводя сравнение полученных параметров с эталонными судят о чистоте поверхности подложки. В качестве параметра контроля степени чистоты используют длину канала смачиваемости и его ширину при условии выполнения неравенства 16°< <56°, где угол наклона поверхности подложки к горизонту. При этом строят эталонную зависимость параметров растекания капли жидкости от чистоты поверхности подложки, нанесением на которую численных значений ширины или длины канала смачиваемости определяют численное значение чистоты поверхности подложки. Целью предложенного изобретения является повышение точности измерения чистоты поверхности подложки и увеличение производительности. 6 ил. |
2380684 патент выдан: опубликован: 27.01.2010 |
|
ДЕФЕКТОСКОП
Изобретение относится к способу обнаружения поверхностных дефектов деталей в виде несплошности материала. Дефектоскоп содержит излучатель электромагнитных волн и фотоприемник отраженного сигнала. В качестве излучателя электромагнитных волн используется лазер, имеющий видимый диапазон электромагнитных волн со слабой интенсивностью. В качестве фотоприемника отраженного от поверхности контролируемой детали сигнала используется фотодиод. Дефектоскоп также содержит усилитель этого сигнала, компаратор, формирующий сигнал «дефект» в виде короткого одиночного импульса, когда падающий от лазера луч падает на дефект на поверхности контролируемой детали, ждущий мультивибратор, преобразующий короткий одиночный импульс в импульс значительной длительности, достаточной для восприятия органами зрения и слуха оператора, световой индикатор, включающийся от сигнала «дефект», и устройство для перемещения контролируемой детали. Причем сформированный в фотоприемнике отраженным от поверхности контролируемой детали излучением сигнал поступает в усилитель, а с усилителя в компаратор. Затем с компаратора на ждущий мультивибратор, с него на световой индикатор и одновременно на звуковой генератор, далее на звуковой преобразователь. При этом контролируемая деталь приводится в движение устройством для перемещения таким образом, чтобы фокус падающего от лазера луча оставался на поверхности контролируемой детали. Технический результат - расширение области применения эксплуатационных возможностей устройства. 3 ил. |
2375702 патент выдан: опубликован: 10.12.2009 |
|