Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  ,21/00 или  ,22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения: ..с использованием электронного или ионного микроскопа – G01N 23/225

Группа изобретений относится к газозаряжающему контейнеру, аппарату атомного зонда, содержащему указанный контейнер, и способу анализа положения водорода в материале с использованием данного аппарата атомного зонда. Контейнер включает держатель образца, который удерживает игловидный материал и имеет тепловой контакт с игловидным материалом, и охлаждающую часть, которая охлаждает игловидный материал и держатель образца. Также контейнер содержит часть, подающую газообразный дейтерий, которая заряжает газообразный дейтерий в игловидный материал, и нагревающую часть, которая нагревает концевую часть игловидного материала и блокирует тепло после нагрева, когда газообразный дейтерий заряжен в игловидный материал. При этом игловидный материал охлаждается и удерживается держателем образца. Концевая часть игловидного материала охлаждается путем блокировки тепла, выделяемого нагревающей частью при охлаждении держателя образца охлаждающей частью, после того как игловидный материал нагрет нагревающей частью. Достигаемый при этом технический результат заключается в предотвращении загрязнения образца при измерении атомным зондом и в предохранении дейтерия от вытекания из образца. 4 н. и 3 з.п. ф-лы, 9 ил., 6 пр.

Изобретение относится к области электронного приборостроения, а более конкретно - к конструкции детекторов электронов, и может найти преимущественное использование в электронных микроскопах. Детектор электронов выполнен в виде двояковыпуклого оптически прозрачного диска с коническим углублением по его центру, при этом поверхность диска, обращенная к пучку детектируемых электронов, имеет покрытие в виде расположенных в последовательном порядке слоев, из которых внешний слой является дифракционной решеткой, а внутренний слой является сцинтиллятором, выполненным с возможностью испускания фотонов при попадании на него детектируемых электронов; поверхность конического углубления покрыта отражающей металлической пленкой; на внешнем ребре диска размещен световод, выполненный с возможностью передачи фотонов в приемник-анализатор. Технический результат - повышение эффективности сбора детектируемых электронов и увеличение количества фотонов, поступающих в световод после испускания их сцинтиллятором. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.

В основу изобретения положена задача повышения точности формирования топографического изображения объекта в цифровой форме путем получения микрорельефа его поверхности за счет топографического контраста, обусловленного сбором и регистрацией зондом с измерительной головкой сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) вторичных электронов, эмиссия которых происходит в результате неупругого взаимодействия сфокусированного пучка электронов РЭМ. Сбор и регистрацию вторичных электронов осуществляют зондом измерительной головки СТМ, установленным от поверхности объекта на минимальном расстоянии, позволяющем регистрировать ток вторичных электронов. При этом регистрацию осуществляют синхронизированно с режимом сканирования растрового электронного микроскопа. 2 н.п. ф-лы, 8 ил.

Изобретение относится к физическим методам анализа состава и структуры вещества, а именно к применению метода вторично-ионной масс-спектрометрии для анализа структурно-энергетического состояния поверхностного слоя вещества, и может быть использовано в структурообразовании и повышении износостойкости новых материалов при изготовлении деталей ответственного назначения. Способ масс-спектрометрического анализа твердого вещества заключается в облучении поверхности образца пучком первичных ионов в вакуумной камере, измерении токов вторичных ионов, по которым определяют компонент вещества с максимальным процентным содержанием, при этом одновременно анализируют, по крайней мере, два образца с различным содержанием легирующих и модифицирующих добавок, а для компонента с максимальным процентным содержанием измеряют ток вторичных ионов при изменении энергии первичного пучка, по полученной зависимости определяют максимальное значение тока для каждого образца, по результатам сравнения полученных значений судят об относительных структурно-энергетических характеристиках образцов твердого вещества. Технический результат заключается в получении данных об относительных изменениях структурно-энергетических характеристик исследуемых веществ. 3 з.п. ф-лы, 1 табл., 1 ил.