Устройства для определения электрических свойств, устройства для определения местоположения электрических повреждений, устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах: ..приборов без их удаления из схемы, частью которой они являются, например компенсация влияния окружающих элементов – G01R 31/27

Способ предназначен для определения вольтамперных, вольт-фарадных и других характеристик таких устройств, как полупроводниковые диоды, транзисторы. На систему воздействуют сигналом, отражающим реальный режим эксплуатации системы. В качестве отклика выбирают временные ряды напряжения и тока. В соответствии с выбранной эквивалентной схемой с помощью законов Кирхгофа составляют модельные уравнения. Характеристики модельных уравнений определяют с помощью реконструкции по измеренным временным рядам. Способ позволяет измерять параметры нелинейных устройств в произвольном режиме эксплуатации. 7 ил.