Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки: .конструктивные элементы – H01J 49/02

МПКРаздел HH01H01JH01J 49/00H01J 49/02
Раздел H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
H01 Основные элементы электрического оборудования
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
H01J 49/00 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки
H01J 49/02 .конструктивные элементы

Патенты в данной категории

БИПОЛЯРНЫЙ ИОНИЗАЦИОННЫЙ ИСТОЧНИК

Изобретение относится к газовому анализу и может быть использовано для одновременной ионизации в положительной и отрицательной модах частиц веществ, находящихся в газе, в том числе в воздухе. Сущность изобретения: биполярный ионизационный источник включает камеру ионизации, продуваемую потоком газа, содержащего микропримеси анализируемых веществ, источник ультрафиолетового излучения, облучающий анализируемый газ, устройство разделения и регистрации ионов, соединенное с камерой ионизации, побудитель потока газа, обеспечивающий транспортировку положительных и отрицательных ионов в потоке газа из камеры ионизации в устройство разделения и регистрации ионов. Дополнительно в камеру ионизации введен эмиттер, обдуваемый потоком газа и испускающий электроны под действием ультрафиолетового излучения. Изобретение позволяет расширить перечень анализируемых веществ, регистрируемых с использованием предлагаемого нерадиационного ионизационного источника, а также повысить эффективность ионизации микропримесей анализируемых веществ. 8 з.п. ф-лы, 2 ил.

2475882
патент выдан:
опубликован: 20.02.2013
УСТРОЙСТВО ОРТОГОНАЛЬНОГО ВВОДА ИОНОВ В ИОН-ДРЕЙФОВЫЙ ИЛИ МАСС-СПЕКТРОМЕТР

Изобретение относится к области масс- и ион-дрейфовой спектрометрии, найдет широкое применение при решении задач органической и биоорганической химии, иммунологии, биотехнологии и медицины при ионизации исследуемых веществ методом «электроспрей» и других. Устройство сепарации и ортогонального ввода ионов выполнено в виде Т-образного сочленения газодинамического и входного каналов, при этом входной канал состоит из диафрагмы и электростатической линзовой системы. Электрическое поле линзовой системы ортогонального канала затягивает ионы в дрейфовую область, а большие капли летят в первоначальном направлении. Технический результат - уменьшение засорения элементов входных интерфейсов, зарядки их элементов, уменьшение шумов в регистрируемом спектре. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

2451364
патент выдан:
опубликован: 20.05.2012
УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ИОННЫХ ТОКОВ МАСС-СПЕКТРОМЕТРОВ

Использование: атомная промышленность в области определения изотопного состава химических элементов. Техническим результатом является повышение чувствительности, уменьшение нестабильности путем стабилизации температурного режима, уменьшение эффектов выгорания исследуемых препаратов в источнике ионов масс-спектрометра. Позиционно-чувствительный детектор ионов низких энергий содержит микроканальные пластины и оптиковолоконный соединитель с нанесенным слоем люминофора на торец обращенный к микроканальной пластине и линейное многоэлементное фотоприемное устройство на основе приборов с зарядовой связью длиной, близкой к диаметру микроканальной пластины, которое помещается в термостат на основе твердотельного холодильника из элементов Пельтье. 3 ил.
2187862
патент выдан:
опубликован: 20.08.2002
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ АНАЛИЗАТОРА КВАДРУПОЛЬНОГО ФИЛЬТРА МАСС

Использование. Способ изготовления анализатора квадрупольного фильтра масс предназначен для использования в области динамической масс-спектрометрии при создании квадрупольных фильтров масс. Целью изобретения является увеличение разрешающей способности и чувствительности анализатора квадрупольного фильтра масс, увеличение механической прочности и вибропрочности, упрощение и удешевление производства. Сущность изобретения: изготавливается с высокой точностью металлическая форма, внешние поверхности которой соответствуют внутренним поверхностям анализатора, закрепляют на форме изоляторы, наносят на форму, например, путем электрического осаждения, промежуточный слой металла толщиной 5-10 мкм с температурой плавания не более 400oC, например, индия, а затем наносят основной слой металла, например, путем электрического осаждения, толщиной не менее 0,1 мм для обеспечения требуемой прочности анализатора, удаляют металл в местах соединения различных электродов, после чего форму удаляют. 1 ил.
2091902
патент выдан:
опубликован: 27.09.1997
Наверх