способ измерения коэффициента отражения
Классы МПК: | G01N21/55 способность к зеркальному отражению |
Автор(ы): | Вакуленко Олег Васильевич[UA], Одарич Владимир Андреевич[UA], Стащук Василий Степанович[UA] |
Патентообладатель(и): | Киевский университет им.Т.Шевченко (UA) |
Приоритеты: |
подача заявки:
1988-07-29 публикация патента:
20.04.1995 |
Использование: в приборах для измерения оптических параметров материалов. Сущность изобретения: в качестве эталона выбирают плоскопараллельную пластину из высокопреломляющего и прозрачного полупроводникового вещества и измеряют интенсивности света, отраженного и прошедшего через эту пластину, что позволяет устранить непроизводительную операцию контроля коэффициента отражения эталона во времени. 1 ил.
Рисунок 1
Формула изобретения
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ, заключающийся в том, что измеряют сигналы пропорциональные отраженным потокам излучения от последовательно вводимых в пучок излучения исследуемого образца и образца сравнения, изготовленного из непоглощающего и нерассеивающего материала, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности способа, в пучок излучения, отраженный от исследуемого образца, устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал пропорциональный прошедшему потоку излучения через образец сравнения, а коэффициент отражения Rx определяют по формулеОписание изобретения к патенту
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при контроле нанесения отражающих покрытий в процессе изготовления оптических элементов и устройств. Известен способ измерения коэффициента отражения, по которому измеряют световые потоки, отраженные от поверхности исследуемого образца и образца сравнения, которым является светоделительная пластина [1]Недостатком этого способа является необходимость независимого определения коэффициента пропускания светоделительной пластины. В качестве прототипа выбран способ, по которому производят последовательные измерения световых потоков, отраженных от исследуемого образца и образца сравнения, изготовленного из непоглощающего и нерассеивающего материала [2]
Недостатком прототипа является низкая экспрессность, вызванная необходимостью определения пропускания образца сравнения, что требует изменения геометрии измерительной схемы и дополнительного количества измерений. При этом также уменьшается точность. Целью изобретения является повышение экспрессности, что позволит повысить выход оптических отражательных деталей. Цель достигается тем, что по способу, заключающемуся в том, что измеряют сигналы IRx и IRэ, пропорциональные потоки излучения, отраженным от последовательно вводимых в пучок излучения исследуемого образца и образца сравнения, изготовленного из непоглощающего и нерассеивающего материала, в пучок излучения, отраженный от исследуемого образца, устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал ITэ, пропорциональный прошедшему потоку излучения через образец сравнения, а коэффициент отражения Rx определяют по формуле
Rx (1)
Заявляемый способ измерения коэффициента отражения заключается в следующем. Устанавливают пластину из исследуемого вещества в световой поток с интенсивностью Io и измеряют сигнал IRx, соответствующий интенсивности потока, отраженного от образца. В этом случае искомый коэффициент отражения
Rx (2)
Затем в отраженный от исследуемого образца световой пучок устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал ITэ, соответствующий интенсивности света, прошедшего через образец сравнения. Для пропускания образца сравнения получают
Tэ (3)
После этого убирают исследуемый образец, вместо него в то же положение устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал IRэ, соответствующий интенсивности отраженного от образца сравнения света. Для коэффициента отражения образца сравнения получают
Rэ (4)
Для непоглощающего и нерассеивающего материала образца сравнения выполняется соотношение
Rэ + Тэ 1 (5)
Из уравнений (2)-(4) получают уравнение (1) для искомого коэффициента отражения. Таким образом, реализация способа в указанной последовательности операций позволяет исключить отражение и пропускание образца сравнения без изменения геометрии схемы и уменьшить число измерений до трех вместо четырех, как в прототипе, что и обеспечивает положительный эффект увеличение экспрессности способа по сравнению с прототипом. Отличительным от прототипа признаком является дополнительная операция, которая включает установку образца сравнения в отраженный от исследуемого образца пучок и измерение интенсивности света, прошедшего через образец сравнения. В указанной совокупности операций этот отличительный признак обеспечивает решение технической задачи с положительным эффектом. Изобретение можно осуществить с помощью отражательной приставки, схема которой приведена на чертеже, где 1 источник, 2 исследуемый образец, 3 образец сравнения в одном из трех положений, 4 спектрофотометр. Приставка работает следующим образом. На столик приставки устанавливают исследуемый образец 2 и измеряют интенсивность IRx пучка света, отраженного от поверхности образца. Устанавливают образец 3 сравнения на пути отраженного пучка и измеряют интенсивность света ITэ, отраженного от исследуемого образца и прошедшего через образец сравнения 3. Убирают исследуемый образец, на его место устанавливают образец сравнения и измеряют интенсивность света IRэ, отраженного от образца сравнения. Вычисляют коэффициент отражения по соотношению (1). Таким образом, измерение искомого коэффициента отражения и измерение пропускания образца сравнения выполняются в заявляемом решении с помощью одного и того же устройства без изменения геометрии измерительной схемы, за счет чего уменьшается время реализации способа по сравнению с прототипом.
Класс G01N21/55 способность к зеркальному отражению