способ измерения коэффициента отражения

Классы МПК:G01N21/55 способность к зеркальному отражению
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Киевский университет им.Т.Шевченко (UA)
Приоритеты:
подача заявки:
1988-07-29
публикация патента:

Использование: в приборах для измерения оптических параметров материалов. Сущность изобретения: в качестве эталона выбирают плоскопараллельную пластину из высокопреломляющего и прозрачного полупроводникового вещества и измеряют интенсивности света, отраженного и прошедшего через эту пластину, что позволяет устранить непроизводительную операцию контроля коэффициента отражения эталона во времени. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ, заключающийся в том, что измеряют сигналы способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603 пропорциональные отраженным потокам излучения от последовательно вводимых в пучок излучения исследуемого образца и образца сравнения, изготовленного из непоглощающего и нерассеивающего материала, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности способа, в пучок излучения, отраженный от исследуемого образца, устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603 пропорциональный прошедшему потоку излучения через образец сравнения, а коэффициент отражения Rx определяют по формуле

способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при контроле нанесения отражающих покрытий в процессе изготовления оптических элементов и устройств.

Известен способ измерения коэффициента отражения, по которому измеряют световые потоки, отраженные от поверхности исследуемого образца и образца сравнения, которым является светоделительная пластина [1]

Недостатком этого способа является необходимость независимого определения коэффициента пропускания светоделительной пластины.

В качестве прототипа выбран способ, по которому производят последовательные измерения световых потоков, отраженных от исследуемого образца и образца сравнения, изготовленного из непоглощающего и нерассеивающего материала [2]

Недостатком прототипа является низкая экспрессность, вызванная необходимостью определения пропускания образца сравнения, что требует изменения геометрии измерительной схемы и дополнительного количества измерений. При этом также уменьшается точность.

Целью изобретения является повышение экспрессности, что позволит повысить выход оптических отражательных деталей.

Цель достигается тем, что по способу, заключающемуся в том, что измеряют сигналы IRx и I, пропорциональные потоки излучения, отраженным от последовательно вводимых в пучок излучения исследуемого образца и образца сравнения, изготовленного из непоглощающего и нерассеивающего материала, в пучок излучения, отраженный от исследуемого образца, устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал I, пропорциональный прошедшему потоку излучения через образец сравнения, а коэффициент отражения Rx определяют по формуле

Rx способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603 (1)

Заявляемый способ измерения коэффициента отражения заключается в следующем.

Устанавливают пластину из исследуемого вещества в световой поток с интенсивностью Io и измеряют сигнал IRx, соответствующий интенсивности потока, отраженного от образца. В этом случае искомый коэффициент отражения

Rx способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603 (2)

Затем в отраженный от исследуемого образца световой пучок устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал I, соответствующий интенсивности света, прошедшего через образец сравнения. Для пропускания образца сравнения получают

Tэ способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603 (3)

После этого убирают исследуемый образец, вместо него в то же положение устанавливают образец сравнения и измеряют сигнал I, соответствующий интенсивности отраженного от образца сравнения света. Для коэффициента отражения образца сравнения получают

Rэ способ измерения коэффициента отражения, патент № 2033603 (4)

Для непоглощающего и нерассеивающего материала образца сравнения выполняется соотношение

Rэ + Тэ 1 (5)

Из уравнений (2)-(4) получают уравнение (1) для искомого коэффициента отражения.

Таким образом, реализация способа в указанной последовательности операций позволяет исключить отражение и пропускание образца сравнения без изменения геометрии схемы и уменьшить число измерений до трех вместо четырех, как в прототипе, что и обеспечивает положительный эффект увеличение экспрессности способа по сравнению с прототипом.

Отличительным от прототипа признаком является дополнительная операция, которая включает установку образца сравнения в отраженный от исследуемого образца пучок и измерение интенсивности света, прошедшего через образец сравнения. В указанной совокупности операций этот отличительный признак обеспечивает решение технической задачи с положительным эффектом.

Изобретение можно осуществить с помощью отражательной приставки, схема которой приведена на чертеже, где 1 источник, 2 исследуемый образец, 3 образец сравнения в одном из трех положений, 4 спектрофотометр.

Приставка работает следующим образом.

На столик приставки устанавливают исследуемый образец 2 и измеряют интенсивность IRx пучка света, отраженного от поверхности образца. Устанавливают образец 3 сравнения на пути отраженного пучка и измеряют интенсивность света I, отраженного от исследуемого образца и прошедшего через образец сравнения 3. Убирают исследуемый образец, на его место устанавливают образец сравнения и измеряют интенсивность света I, отраженного от образца сравнения. Вычисляют коэффициент отражения по соотношению (1).

Таким образом, измерение искомого коэффициента отражения и измерение пропускания образца сравнения выполняются в заявляемом решении с помощью одного и того же устройства без изменения геометрии измерительной схемы, за счет чего уменьшается время реализации способа по сравнению с прототипом.

Класс G01N21/55 способность к зеркальному отражению

сенсорное устройство для определения целевого вещества -  патент 2519505 (10.06.2014)
способ определения малых концентраций молекул летучих веществ в газовой среде -  патент 2510014 (20.03.2014)
способ измерения параметров световозвращения -  патент 2497091 (27.10.2013)
устройство микроэлектронного датчика -  патент 2494374 (27.09.2013)
система биодатчика на основе нарушенного полного внутреннего отражения (нпво) и способ обнаружения сигнала датчика, основанного на нпво -  патент 2492450 (10.09.2013)
способ измерения локальных электромагнитных полей на поверхности гетероструктур -  патент 2491679 (27.08.2013)
способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду -  патент 2491533 (27.08.2013)
микроэлектронное сенсорное устройство для обнаружения частиц-меток -  патент 2487338 (10.07.2013)
способ измерения коэффициентов отражения зеркал -  патент 2467309 (20.11.2012)
способ дистанционного обнаружения нефтяных загрязнений на поверхности воды -  патент 2440566 (20.01.2012)
Наверх