Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей: ..способность к зеркальному отражению – G01N 21/55
Патенты в данной категории
СЕНСОРНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЦЕЛЕВОГО ВЕЩЕСТВА
Изобретение предназначено для определения целевого вещества в исследуемой области. Сенсорное устройство (100) содержит сенсорную поверхность (112) с исследуемой областью (113) и контрольной областью (120), а также контрольный элемент (121), размещенный в контрольной области (120). При этом контрольный элемент (121) адаптирован для защиты контрольной области (120) от целевого вещества (2), так чтобы свет, отраженный в контрольной области (120), при условии полного внутреннего отражения оставался не подвергнутым воздействию за счет присутствия или отсутствия целевого вещества (2). Это позволяет измерять свойство, обычно интенсивность света, отраженного на контрольную область (120), независимо от присутствия или отсутствия целевого вещества (2), что может быть использовано для выполнения улучшенной коррекции света, отраженного в исследуемой области (113). 3 н. и 10 з.п. ф-лы, 14 ил. |
2519505 патент выдан: опубликован: 10.06.2014 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАЛЫХ КОНЦЕНТРАЦИЙ МОЛЕКУЛ ЛЕТУЧИХ ВЕЩЕСТВ В ГАЗОВОЙ СРЕДЕ
Изобретение относится к оптике и аналитической технике и может быть использовано для определения наличия следовых количеств летучих веществ, вызывающих поверхностную оптическую сенсибилизацию галоидного серебра. Способ основан на измерении параметров поверхностного плазмонного резонанса и определении по ним концентрации летучих веществ. После воздействия света на слой галоидного серебра и образования в его микрокристаллах центров скрытого изображения этот слой подвергается фотографическому проявлению. Изобретение позволяет повысить чувствительность сенсора до величин порядка 106-1010 см-3. |
2510014 патент выдан: опубликован: 20.03.2014 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СВЕТОВОЗВРАЩЕНИЯ
Способ включает освещение образца, регистрацию отраженного излучения, усреднение измерений по различным точкам образца. Выбирают углы освещения образца исходя из углов наблюдения i= i/2, где i - угол наблюдения i-го фотоприемника, включая i=0. Первое измерение производят при =0 и =0, оценивают полуширину w индикатрисы рассеяния I( ) при =0 по уровню 0,1 от максимального значения. Изменяют угол освещения i на i+1 и повторяют регистрацию усредненных значений, пока в диапазоне от =0 до =2 w распределение I( ) не станет двумодальным с локальным минимумом с величиной менее 15-20% от величины 0,5·(I( =0, =0)+I(2 w)). Определяют вид индикатрисы рассеяния относительно направления зеркального отражения I( -2 ) и аппроксимируют ее функцией fA(x), где х= -2 . Определяют величины интенсивности в направлении зеркального отражения Im( ) и аппроксимируют эту функцию в диапазоне от >w/2 (или 15°) до 45° функцией IA ( ). Производят экстраполяцию IA( ) в область <w/2 и определяют величину IA( =0). Определяют световозвращенную и диффузную составляющие как разность Ii=I( =0, =0)-IA( =0); для ненулевого (стандартного) угла s вычисляют как Ii=I( =0, = S)-fA( S)·IA( S). Если Ii( =0)<<IA( =0), то исследованный образец не обладает истинным световоз-вращением. Технический результат - увеличение точности измерений, определение соотношения световозвращенной и диффузной составляющих и диаграммы направленности и минимизация времени измерений. 7 ил. |
2497091 патент выдан: опубликован: 27.10.2013 |
|
УСТРОЙСТВО МИКРОЭЛЕКТРОННОГО ДАТЧИКА
Изобретение относится к оптическому устройству для обеспечения нераспространяющегося излучения, в ответ на падающее излучение, в объеме регистрации, который содержит целевой компонент в среде, причем, по меньшей мере, один плоскостной размер (W1) объема регистрации меньше дифракционного предела. Дифракционный предел определяется длиной волны излучения и средой. Нераспространяющееся излучение обеспечивается структурами, образующими отверстие, причем наименьший плоскостной размер отверстия W1 меньше дифракционного предела. Объем регистрации обеспечен между структурами, образующими отверстие. Структуры, образующие отверстие, дополнительно определяют наибольший плоскостной размер отверстия W2; причем наибольший плоскостной размер отверстия больше дифракционного предела. Источник предусмотрен для излучения пучка излучения, имеющего длину волны, падающий на оптическое устройство, направление падения которого не параллельно внеплоскостному нормальному направлению, для обеспечения нераспространяющегося излучения в объеме регистрации, в ответ на излучение, падающее на оптическое устройство. Плоскость падения параллельна наибольшему плоскостному размеру отверстия. Изобретение обеспечивает увеличение эффективности возбуждения без необходимости использовать более высокие интенсивности для регистрации целевых компонентов. 3 н. и 10 з.п. ф-лы, 7 ил. |
2494374 патент выдан: опубликован: 27.09.2013 |
|
СИСТЕМА БИОДАТЧИКА НА ОСНОВЕ НАРУШЕННОГО ПОЛНОГО ВНУТРЕННЕГО ОТРАЖЕНИЯ (НПВО) И СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СИГНАЛА ДАТЧИКА, ОСНОВАННОГО НА НПВО
Изобретение относится к системе биодатчика на основе нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО). Система с НПВО содержит два источника света, средство включения и выключения первого и второго источников света в противофазе, объем образца с примыкающей чувствительной поверхностью, детектор для обнаружения света, отраженного от чувствительной поверхности. Чувствительная поверхность освещается первым источником света с соблюдением условия полного внутреннего отражения и генерированием затухающего ноля с некоторой длиной затухания в пределах объема образца. Система дополнительно содержит средство изменения длины затухания затухающего поля и средство корреляции обнаруживаемых сигналов с изменением длины затухания затухающего поля. Изобретение обеспечивает повышение чувствительности системы. 2 н. и 4 з.п. ф-лы, 6 ил. |
2492450 патент выдан: опубликован: 10.09.2013 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ГЕТЕРОСТРУКТУР
Изобретение относится к области измерений неоднородностей поверхностей гетероструктур. Способ заключается в измерении в геометрии на отражение сигнала второй гармоники от поверхности образца, облучаемой пикосекундными лазерными импульсами мощностью, необходимой для генерации второй оптической гармоники, но не превосходящей мощности пробоя. При этом направление поляризации линейно-поляризованного излучения накачки плавно изменяется с помощью вращения полуволновой пластины. Одновременно с изменением направления поляризации излучения накачки вращается анализатор, пропускающий излучение второй гармоники, для определения морфологических особенностей составляющих слой полупроводниковых кристаллов. Сканирование слоя микрокристаллов при изменении расстояния от фокусирующей линзы до образца в условиях жесткой фокусировки позволяет определить качество гетероструктуры по толщине. Изобретение обеспечивает повышение качества наносимых слоев гетероструктур за счет измерения интенсивности распределения локальных электромагнитных полей на поверхности микрослоя и определения кристаллографических и морфологических характеристик составляющих слой микрокристаллов. 1 з.п. ф-лы, 9 ил., 1 табл. |
2491679 патент выдан: опубликован: 27.08.2013 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ПРОНИКНОВЕНИЯ ПОЛЯ ТЕРАГЕРЦОВЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПЛАЗМОНОВ В ОКРУЖАЮЩУЮ СРЕДУ
Изобретение относится к оптическим методам контроля поверхности металлов и полупроводников в терагерцовом диапазоне спектра и может найти применение в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек, в методах по обнаружению неоднородностей (на) проводящей поверхности, в инфракрасной (ИК) рефрактометрии металлов для определения их диэлектрической проницаемости, в ИК сенсорных устройствах и контрольно-измерительной технике. Способ включает измерение интенсивности поля поверхностных плазмонов (ПН) в плоскости падения излучения, генерирующего пучок лучей ПП, и расчет значения 5 по результатам измерений, для чего ПП преобразуют в объемную волну на линии фронта, принадлежащей выбранной плоскости поперечного сечения пучка, фокусируют волну в линию, лежащую в плоскости падения, и измеряют распределение интенсивности излучения на этой линии и угол наклона лучей волны к поверхности, направляющей ПП. Изобретение позволяет уменьшить время измерений. 2 ил. |
2491533 патент выдан: опубликован: 27.08.2013 |
|
МИКРОЭЛЕКТРОННОЕ СЕНСОРНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ЧАСТИЦ-МЕТОК
Группа изобретений относится к области аналитической химии. Микроэлектронное сенсорное устройство для обнаружения целевых компонентов, содержащих частицы-метки (1), включает: носитель (11), содержащий камеру (2) для пробы с прозрачной стенкой для наблюдения, имеющей на свой внутренней стороне поверхность (12) связывания, на которой могут собираться целевые компоненты, а на своей внешней стороне оптическую структуру; источник (21) света для излучения входного светового пучка (L1) в носитель так, что световой пучок претерпевает полное внутреннее отражение в исследуемой области (13) на поверхности связывания; светоприемник (31) для определения количества света в выходном световом пучке (L2), который содержит, по меньшей мере, некоторую часть света, претерпевшего полное внутреннее отражение. Группа изобретений относится также к носителю (11, 111, 211, 311, 411, 511) для исследования пробы для микроэлектронного сенсорного устройства по п. 1 формулы изобретения, планшету с лунками, содержащему множество указанных носителей и способу обнаружения целевых компонентов, содержащих частицы-метки (1), с помощью указанного устройства путем соотнесения количества света во входном световом пучке (L1) с измеренным количеством света в выходном световом пучке (L2). Группа изобретений обеспечивает повышение чувствительности и точности анализа. 4 н. и 10 з.п. ф-лы, 18 ил. |
2487338 патент выдан: опубликован: 10.07.2013 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ ЗЕРКАЛ
Способ может быть использован для измерения абсолютных значений коэффициентов отражения зеркал, особенно зеркал, обладающих высоким коэффициентом отражения. В способе устанавливают два контролируемых зеркала параллельно, вводят вспомогательное зеркало, формируют многократное отражение от них потока излучения в виде параллельного пучка лучей, который претерпевает минимальное и максимальное количество отражений при одинаковой длине хода луча. Поток излучения отражается n раз от первого контролируемого зеркала, (n-1) раз от вспомогательного зеркала и один раз от второго контролируемого зеркала. Регистрируют отраженный от трех зеркал поток излучения. Меняют местами контролируемые зеркала и регистрируют соответствующий поток излучения. Коэффициенты отражения зеркал 1 и 2 рассчитывают по формулам: где 1 и 2 - коэффициенты отражения первого и второго контролируемых зеркал; n - максимальное количество отражений от контролируемых зеркал; а и b - потоки излучения, претерпевшие соответственно минимальное и максимальное количество отражений от контролируемых зеркал; с - поток излучения, отраженный от трех зеркал; d - поток излучения, отраженный от трех зеркал после перестановки контролируемых зеркал. Технический результат - повышение точности измерений и расширение технических возможностей способа. 4 ил. |
2467309 патент выдан: опубликован: 20.11.2012 |
|
СПОСОБ ДИСТАНЦИОННОГО ОБНАРУЖЕНИЯ НЕФТЯНЫХ ЗАГРЯЗНЕНИЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ВОДЫ
Изобретение относится к измерительной технике. Способ включает облучение поверхности воды в ультрафиолетовом диапазоне на длине волны возбуждения возб и регистрацию интенсивности флуоресцентного излучения I( 1) и I( 2) от исследуемой водной поверхности в двух узких спектральных диапазонах с центрами на длинах волн 1, 2. Проводят сравнение измеренной относительной флуоресценции с пороговыми значениями. Конкретные значения порогов зависят от конкретной длины волны возбуждения возб и определяются из условия максимальной вероятности правильного обнаружения при приемлемом значении вероятности ложных тревог. 1 ил., 2 табл. |
2440566 патент выдан: опубликован: 20.01.2012 |
|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АБСОЛЮТНОГО ЗНАЧЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ ЗЕРКАЛ
Изобретение относится к фотометрии и спектрофотометрии и предназначено для измерения абсолютного значения коэффициента отражения зеркал со сферической или параболической формой поверхности. Способ заключается в том, что в качестве исследуемых используют два зеркала, освещают параллельным потоком излучения первое по ходу потока исследуемое зеркало, совмещают фокусы исследуемых зеркал и отраженный от второго исследуемого зеркала параллельный поток излучения направляют плоским зеркалом на объектив фотоприемной системы. Измеряют поток излучения, направляют параллельный поток излучения плоским зеркалом на объектив фотоприемной системы и измеряют опорный поток излучения в отсутствии исследуемых зеркал. Преобразуют параллельный поток излучения в сходящийся, совмещают фокус объектива с фокусом первого исследуемого зеркала, параллельный поток излучения, отраженный от первого исследуемого зеркала, направляют плоским зеркалом на объектив фотоприемной системы и измеряют соответствующий поток излучения, устанавливают вместо первого исследуемого зеркала второе и аналогично измеряют соответствующий поток излучения. Изобретение позволяет повысить точность измерений. 1 ил. |
2424503 патент выдан: опубликован: 20.07.2011 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МНОГОТОЧЕЧНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ
Изобретение относится к способу и устройству для исследования материала образца с помощью матрицы световых пятен (501) подсветки образца, создаваемых затухающими волнами. Матрица исходных световых пятен (510) формируется многоточечным формирователем, например многомодовым интерферометром (106), и отображается в световые пятна (501) подсветки образца в слое (302) образца (микро)линзами (202, 203) или посредством эффекта Тальбота. Входной световой поток (504) от исходных световых пятен (510) формируется так, чтобы он целиком претерпевал полное внутреннее отражение на поверхности раздела между прозрачной пластиной носителя (301) и слоем (302) образца. Таким образом, световые пятна (501) подсветки образца составлены только из затухающих волн и заключены в ограниченном объеме. В предпочтительном случае применения флуоресценция индуцированная в световых пятнах (501) подсветки образца, регистрируется с пространственным разрешением решеткой ПЗС (401). Изобретение позволяет повысить точность исследования. 4 н. и 33 з.п. ф-лы, 8 ил. |
2414695 патент выдан: опубликован: 20.03.2011 |
|
СПОСОБ ФОТОМЕТРИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ ФАЗОВЫХ ПРЕВРАЩЕНИЙ В ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ ПО ДАННЫМ АНАЛИЗА СПЕКТРОВ ЯРКОСТИ ОТРАЖЕНИЯ СВЕТА ОТ ИХ ПОВЕРХНОСТИ
Изобретение относится к способам определения физических условий, при которых в металлах и сплавах происходят фазовые превращения. Способ основан на совместном анализе изображения фрагментов поверхности исследуемого материала и спектров яркости отражения от них видимого света, отснятых до и после внешнего физического воздействия, вызывающего фазовый переход. Обработка результатов исследования производится по специальным компьютерным программам. Изобретение позволяет упростить диагностику фазовых превращений, повысить точность и степень автоматизации обработки результатов экспериментов. 11 ил. |
2387978 патент выдан: опубликован: 27.04.2010 |
|
НЕКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕФТЯНЫХ ЗАГРЯЗНЕНИЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ВОДЫ
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оперативного обнаружения разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах. Способ включает облучение исследуемой водной поверхности воды импульсным оптическим пучком с перестраиваемой в узком спектральном диапазоне длиной волны излучения, регистрацию излучения, отраженного от водной поверхности, определение по данным измерений зависимости мощности отраженного излучения от длины волны и нахождение на основе этой зависимости коэффициента отражения и его второй производной по длине волны. О наличии нефтяной пленки на водной поверхности судят по выполнению одновременно двух соотношений, в которые входят коэффициенты отражения от исследуемой и чистой водной поверхности и вторые производные по длине волны коэффициента отражения от исследуемой и чистой водной поверхности. Изобретение позволяет обнаруживать тонкие пленки нефтепродуктов (с толщиной от десятых долей мкм до единиц мкм) с вероятностью правильного обнаружения, близкой к единице. 1 табл., 2 ил. |
2387977 патент выдан: опубликован: 27.04.2010 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ НА ПОГЛОЩЕНИЕ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ
Изобретение относится к измерительной технике. Способ характеризуется тем, что направляют пучок излучения лазерного резонатора на наклонный торец установленной в нем плоскопараллельной пластины с углом у основания 0, на часть одной из плоскостей которой нанесена испытуемая тонкая пленка в виде клина с углом при его вершине , минимальной толщиной d и максимальной 3d. Перемещают пластину в направлении, перпендикулярном оси лазерного резонатора и проводят измерение энергии или мощности излучения, выходящего из лазерного резонатора, при различных толщинах клина пленки в точке отражения, и по максимуму разницы измеренных величин судят о поглощении пленкой оптического излучения. Технический результат - повышение точности определения потерь на поглощение в тонких пленках. 3 ил. |
2377543 патент выдан: опубликован: 27.12.2009 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ НА ПОГЛОЩЕНИЕ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ
Изобретение относится к измерительной технике. Устройство включает лазерный резонатор с активным элементом, средствами его накачки и управления, средства измерения энергии или мощности лазерного излучения и установленную в резонаторе с возможностью ее перемещения перпендикулярно его оси относительно падающего на ее наклонный торец пучка излучения плоскопараллельную пластину с углом у основания 0, при этом на часть задней поверхности плоскопараллельной пластины нанесена испытуемая тонкая пленка в виде клина с углом при его вершине , с минимальной толщиной d и максимальной 3d. Технический результат - упрощение конструкции и повышение точности определения потерь на поглощение в тонких пленках. 3 ил. |
2377542 патент выдан: опубликован: 27.12.2009 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АЛЬБЕДО ЗЕМЛИ
Изобретение относится к космической технике. Способ определения альбедо Земли включает последовательное размещение над отражающей поверхностью не менее чем в двух пространственных положениях чувствительной к регистрируемой радиации аппаратуры. Определяют моменты нахождения Солнца в зенитной области над снабженным одной или несколькими солнечными батареями (СБ) космическим аппаратом (КА), движущимся по околокруговой орбите вокруг Земли, на двух последовательных витках орбиты. В момент нахождения Солнца в зенитной области над КА при прохождении подсолнечной точки первого витка орбиты разворачивают СБ в рабочее положение, соответствующее совмещению нормали к их рабочей поверхности с направлением на Солнце. В момент нахождения Солнца в зенитной области над КА при прохождении подсолнечной точки следующего витка орбиты разворачивают СБ в положение, соответствующее совмещению нормали к их рабочей поверхности с противосолнечным направлением. Измеряют значения тока от СБ в каждом из описанных положений СБ. Определяют значение альбедо Земли А по формуле: A=(I2-KI1)/(I 1-KI2), где I1, 2 - значения тока от СБ, измеренные в моменты прохождения подсолнечных точек соответственно на первом и последующем витках орбиты; К - заданный коэффициент выходной мощности тыльной поверхности панелей СБ относительно выходной мощности их рабочей поверхности. Техническим результатом является упрощение определения альбедо Земли. 3 ил. |
2353920 патент выдан: опубликован: 27.04.2009 |
|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АЛЬБЕДО ЗЕМЛИ
Изобретение относится к космической технике. Способ включает последовательное размещение над отражающей поверхностью не менее чем в двух пространственных положениях чувствительной к регистрируемой радиации аппаратуры и определение моментов нахождения Солнца в зенитной области над снабженным двумя или более солнечными батареями (СБ) космическим аппаратом (КА). В момент прохождения подсолнечной точки витка орбиты при нахождении Солнца в зенитной области над КА разворачивают первую СБ в рабочее положение, соответствующее совмещению нормали к ее рабочей поверхности с направлением на Солнце. Другую СБ разворачивают в положение, соответствующее совмещению нормали к ее рабочей поверхности с противосолнечным направлением. Измеряют значения тока от каждой СБ. Определяют значение альбедо Земли А по формуле: A=(KI2-K2I 1)/(I1-KK1I2), где I 1,2 - измеренные значения тока от СБ, нормали к рабочим поверхностям которых совмещены соответственно с направлением на Солнце и с противосолнечным направлением; К - заданный коэффициент выходной мощности рабочей поверхности первой СБ относительно выходной мощности рабочей поверхности второй СБ; К1,2 - заданные коэффициенты выходной мощности тыльной поверхности соответственно первой и второй СБ относительно выходной мощности рабочей поверхности соответствующей СБ. Техническим результатом является упрощение определения альбедо Земли. 2 ил. |
2351919 патент выдан: опубликован: 10.04.2009 |
|
ДВУХУГЛОВОЙ ДИСТАНЦИОННЫЙ СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕФТЯНЫХ ЗАГРЯЗНЕНИЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ВОДЫ
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оперативного обнаружения разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах. Способ заключается в облучении поверхности и приеме отраженного сигнала, которые осуществляют для двух углов. В качестве параметров отраженного излучения выбирают мощности сигналов, полученных при облучении поверхности вертикально вниз и под углом к вертикали, а о наличии нефтяной пленки судят по выполнению одновременно двух соотношений: P oM>PowMw и M<Mw где: |
2347210 патент выдан: опубликован: 20.02.2009 |
|
СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ БИОЛОГИЧЕСКИХ, ХИМИЧЕСКИХ И БИОХИМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ НА ГРАНИЦЕ ЖИДКОСТЬ-ФОТОННЫЙ КРИСТАЛЛ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к области биологических, химических и биохимических поверхностных сенсоров, основанных на возбуждении поверхностных волноводных электромагнитных волн на границе раздела жидкость-твердое тело. Сущность изобретения заключается в том, что по крайней мере часть данного твердого тела вблизи данной границы раздела составляют из слоев с периодически меняющимися показателями преломления, т.е. в качестве твердого тела используют "фотонный кристалл", причем толщину слоев выбирают таким образом, чтобы данное электромагнитное излучение возбуждало более чем одну поверхностную волноводную моду на данной границе раздела жидкость-фотонный кристалл. Одновременная регистрация двух или более поверхностных волноводных мод с разными глубинами проникновения электромагнитной волны в объем жидкости позволяет разделить поверхностные и объемные эффекты. 2 с.п. ф-лы, 6 ил. |
2341785 патент выдан: опубликован: 20.12.2008 |
|
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОТОЧНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОГО ИЗДЕЛИЯ
Изобретение относится к определению характеристик поверхностного слоя металлургического изделия, в частности гальванического покрытия стальных полос. Изделие подвергают воздействию излучения (23) с заданной длиной волны от источника (24). Излучение направляют ортогонально поверхности изделия и измеряют энергию излучения, отраженного от нее в ортогональном направлении, чтобы исключить изменения коэффициента отражения, связанные с морфологическими характеристиками поверхности. Эти операции выполняют при помощи оптических волокон, концы которых (21, 31) предварительно освобождают от обычной фокусирующей оптики, чтобы поместить их как можно ближе друг к другу и параллельно друг другу. Такой контроль обеспечивает получение однородной и воспроизводимой продукции. 3 с. и 7 з.п. ф-лы, 4 ил. |
2316756 патент выдан: опубликован: 10.02.2008 |
|
КОРОТКОБАЗНЫЙ ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЗВРАТНО-ОТРАЖАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СВЕТОВОЗВРАЩАЮЩИХ ИЗДЕЛИЙ
Изобретение относится к короткобазным приборам измерения и контроля возвратно-отражающей способности автодорожных информационных знаков и автомобильных световозвращателей. Короткобазный прибор содержит светонепроницаемый корпус, источник света, устройство базирования испытуемого образца, фотоприемник и светоделитель. Также прибор снабжен дополнительным контрольным каналом, ось которого совпадает с изображением оси главного канала в зеркале светоделителя, при этом в корпусе прибора на оси контрольного канала выполнено наблюдательное отверстие, открытое во время настройки прибора для измерений при заданном значении угла расхождения и закрытое в рабочем режиме для защиты от внешней засветки изнутри дополнительным фотоэлементом сравнения. Технический результат заключается в увеличении точности измерений возвратно-отражающей способности световозвращающих изделий. 5 ил. |
2311631 патент выдан: опубликован: 27.11.2007 |
|
ПОРТАТИВНЫЙ ПРИБОР КОНТРОЛЯ И ИЗМЕРЕНИЯ ВОЗВРАТНО-ОТРАЖАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СВЕТОВОЗВРАЩАЮЩИХ ИЗДЕЛИЙ
Портативный прибор для измерения силы возвратно-отраженного света, предназначенный для контроля качества световозвращающих изделий, содержит в светонепроницаемом корпусе источник света для освещения световозвращающего образца, устройство базирования образца под заданным углом освещения, фотоприемник для приема возвратно-отраженного излучения и полупрозрачное зеркало, обеспечивающее согласование пространственно разнесенных каналов излучения и фотоприема с каналом освещения-отражения образца. Входное отверстие фотоприемника выполнено на сменном светонепроницаемом экране, и его зоны светопропускания смещены от оси фотоприема на расстояние, пропорциональное требуемому углу расхождения, при этом между экраном и светочувствительным элементом фотоприемника размещена собирающая линза. Технический результат - увеличение точности измерений. 2 з.п. ф-лы, 6 ил. |
2302624 патент выдан: опубликован: 10.07.2007 |
|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИДЕНТИФИКАЦИИ И КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ЖИДКОСТЕЙ
Изобретение относится к физическим экспресс-методам диагностики жидкостей. Идентификация и контроль качества жидкости проводятся по индивидуальным особенностям процесса развития и релаксации термокапиллярного отклика, наблюдаемого в отраженном от жидкой поверхности пучке считывающего лазера. Функции индуцирующего лазера выполняет источник тепловых импульсов на основе элемента Пельтье, который может воздействовать на жидкость как локальным повышением, так и понижением температуры. Техническим результатом является упрощение процесса контроля параметров, индуцирующих конвекцию воздействий, и расширение режимов воздействий на жидкость. 2 ил. |
2301415 патент выдан: опубликован: 20.06.2007 |
|
ДВУХСПЕКТРАЛЬНЫЙ ДИСТАНЦИОННЫЙ СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕФТЯНЫХ ЗАГРЯЗНЕНИЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ВОДЫ
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оперативного обнаружения разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах. Дистанционный способ обнаружения нефтяных загрязнений на водной поверхности включает зондирование исследуемой водной поверхности воды импульсным оптическим пучком на двух длинах волн, регистрацию излучения, отраженного от водной поверхности, и анализ отношения мощностей лазерных сигналов, полученных от исследуемой водной поверхности, к соответствующим мощностям лазерных сигналов, полученным от чистой водной поверхности. О наличии нефтяной пленки на водной поверхности судят по выполнению одновременно двух соотношений:
где
1, 2 - длины волн зондирования; Р( 1,2), Рw( 1,2), - мощности лазерных сигналов на длинах волн 1, 2, полученные от исследуемой и от чистой водной поверхности. Техническим результатом является повышение достоверности обнаружения нефтяных загрязнений на поверхности воды. 1 ил. |
2298169 патент выдан: опубликован: 27.04.2007 |
|
РЕФЛЕКТОМЕТР НА ОСНОВЕ МНОГОХОДОВОЙ ОПТИЧЕСКОЙ СХЕМЫ
Использование: для высокоточного измерения коэффициента отражения зеркал и коэффициента пропускания прозрачных образцов. Рефлектометр содержит источник монохроматического излучения, проекционную оптическую систему, два объектива, коллектив, приемную оптическую систему, поворотную каретку, основание для установки контролируемого зеркала, приемно-регистрирующий блок и два плоских зеркала, одно из которых расположено слева от первого объектива и нормаль к его отражающей поверхности параллельна оптической оси многоходовой оптической схемы, а другое плоское зеркало расположено справа от второго объектива и нормаль к его отражающей поверхности составляет некоторый угол с оптической осью многоходовой оптической схемы. Объективы и коллектив выполнены линзовыми, при этом объективы установлены по разные стороны от линзового коллектива, образуя конфокальную центрированную оптическую систему. Рефлектометр дополнительно снабжен кареткой, на которой установлена приемная оптическая система, и приводом прямолинейного поступательного перемещения каретки, а также плоскопараллельной светоделительной пластиной, объективом и фотоприемным устройством, установленными по ходу распространения излучения непосредственно за источником излучения. Также рефлектометр снабжен оправой для установки контролируемого прозрачного образца, размещенной между вторым объективом и плоским зеркалом. Техническим результатом является повышение точности измерения коэффициента отражения зеркал за счет увеличения числа проходов и упрощение юстировки и настройки оптической системы, а также расширение функциональных возможностей, связанных с обеспечением измерения с высокой точностью коэффициента пропускания прозрачных образцов. 2 з.п. ф-лы, 1 ил. |
2281476 патент выдан: опубликован: 10.08.2006 |
|
РЕФЛЕКТОМЕТР МНОГОКРАТНОГО ОТРАЖЕНИЯ НА ОСНОВЕ ПЛОСКИХ ЗЕРКАЛ
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для измерения коэффициентов отражения, близких к единице, различных зеркал. Рефлектометр многократного отражения содержит последовательно установленные источник излучения, формирующий параллельный пучок, модулятор с приводом, диафрагму размером "d×1", два плоских зеркала, фотоприемное устройство, усилитель и регистрирующее устройство. Также рефлектомер снабжен двумя пентапризмами, образующими оптический ромб, одна из которых неподвижна и установлена по ходу распространения пучка излучения за диафрагмой, кареткой, на которой установлена вторая пентапризма, направляющей, приводом возвратно-поступательного перемещения каретки, причем в крайнем нижнем положении каретки выходная грань установленной на ней пентапризмы обращена к отражающей поверхности первого зеркала, а в крайнем верхнем положении входная грань пентапризмы расположена на расстоянии "h" над отражающей поверхностью второго плоского зеркала, блоком синхронизации, один из входов которого связан с выходом привода перемещения каретки, а второй - с выходом привода модулятора, а также объективом, диаметр входного зрачка которого |
2281471 патент выдан: опубликован: 10.08.2006 |
|
СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИИ БИОЛОГИЧЕСКИХ, ХИМИЧЕСКИХ И БИОХИМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ НА ГРАНИЦЕ ЖИДКОСТЬ-ТВЕРДОЕ ТЕЛО И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к области регистрации биологических, химических и биохимических процессов на границе жидкость - твердое тело, т.е. к области биологических, химических и биохимических поверхностных сенсоров, основанных на возбуждении поверхностных электромагнитных волн на поверхности твердого тела. Сущность изобретения заключается в том, что изменение фазы поверхностной (или волноводной) волны измеряют посредством интерференции между сигнальной волной (плазмонной или волноводной), распространяющейся вдоль исследуемой поверхности, и объемной опорной волной, распространяющейся в жидкости непосредственно над поверхностью под малым углом к данной поверхности. То есть при данном способе регистрации обе интерферирующие волны проходят через жидкостную ячейку, одна в виде поверхностной волны (плазмонной или волноводной), а вторая - в виде объемной волны прямо над поверхностью. В результате изменение объемных характеристик жидкости, таких как показатель преломления, воздействует на обе волны - сигнальную поверхностную и объемную опорную, и данное воздействие взаимно компенсируется в регистрируемом интерференционном сигнале. Технический результат заключается в уменьшении чувствительности к объемным свойствам жидкости, при сохранении высокой чувствительности к свойствам поверхностного слоя. 2 н. и 4 з.п. ф-лы, 10 ил.
|
2251681 патент выдан: опубликован: 10.05.2005 |
|
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО ПЛАЗМОННОГО РЕЗОНАНСА Изобретение может быть использовано в биологических, биохимических и химических исследованиях, таких как измерение незначительных конформационных изменений в молекулах и в реакциях переноса электронов. Свет от светового источника (14) фокусируется призмой на тонкую металлическую пленку (15), на которой адсорбированы детектируемые молекулы. Полное внутреннее отражение лазерного падающего луча собирается не одноэлементными или матричными фотодетекторами, которые широко использовались в предшествующих работах, а дифференциальным позиционно-чувствительным или чувствительным к интенсивности фотодетектирующим устройством (12). Отношение дифференциального сигнала к суммарному сигналу от указанного дифференциального позиционно-чувствительного или чувствительного к интенсивности фотодетектирующего устройства позволяет точно измерить сдвиг угла поверхностного плазмонного резонанса, вызываемый адсорбцией молекул на металлических пленках (15) или конформационными изменениями в указанных адсорбированных молекулах. Изобретение не требует численной аппроксимации для определения угла резонанса, а указанное устройство является компактным и нечувствительным к фоновому излучению. 5 с. и 34 з.п. ф-лы, 10 ил. | 2226684 патент выдан: опубликован: 10.04.2004 |
|
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ИММУНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫХ АНАЛИЗОВ Изобретение относится к устройству и способу, специально предназначенным для проведения количественных иммунофлуоресцентных анализов посредством возбуждения быстро исчезающего поля. Такие иммунофлуоресцентные тесты могут быть основаны на широком круге известных биохимических анализов общих систем рецептор - лиганд. Для этой цели свет по меньшей мере одного источника света направлен под углом на пограничную поверхность двух сред, которые имеют различные показатели преломления. Здесь выбран источник света, испускающий практически монохроматический свет, с длиной волны, которая является подходящей для возбуждения маркирующего вещества. Свет направлен на пограничную поверхность, расположенную между оптически прозрачной подложкой, сделанной из материала, показатель преломления n1 которого больше показателя преломления n2 материала над пограничной поверхностью, и имеющей форму кюветы приемной зоной для образца. Приемная зона покрыта покрывающей пластиной, расположенной с противоположной от подложки стороны, причем между подложкой и покрывающей пластиной расположен по меньшей мере один функциональный слой, а детектор для обнаружения флуоресцентного излучения расположен с той же стороны подложки, что и источник света. Технический результат - упрощение проведения различных видов анализов. 2 с. и 14 з.п.ф-лы, 17 ил. | 2194972 патент выдан: опубликован: 20.12.2002 |
|