способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов и устройство для реализации способа
Классы МПК: | H01J37/285 эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы H01J31/50 электронно-оптические преобразователи или видеоусилители, те приборы с оптическим, рентгеновским и тому подобным входом и оптическим выходом |
Автор(ы): | Маркин А.И., Утюгов Е.Г., Черковец В.Е. |
Патентообладатель(и): | Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований |
Приоритеты: |
подача заявки:
1996-06-21 публикация патента:
10.01.1998 |
Назначение: электронная техника. Сущность изобретения: способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов, эмитирующих заряженные частицы, при котором ограничивают поперечное смещение частиц путем создания магнитного поля вдоль пути продвижения частиц от исследуемого объекта к экрану. Магнитное поле формируют равномерно убывающим от места размещения объекта в направлении к экрану с соблюдением выполнения условия адиабатической инвариантности движения заряженных частиц в магнитном поле. Магнитный эмиссионный микроскоп содержит полую многовитковую катушку для создания магнитного поля, элемент для крепления исследуемого объекта и экран, катушка выполнена с убывающим количеством витков в соответствии с расчетной закономерностью, обеспечивающей создание траекторий магнитных силовых линий в виде расходящихся относительно оси прямых, полость внутри катушки имеет конусообразную форму и в ней установлена вакуумная камера в виде усеченного конуса, элемент для крепления исследуемого объекта расположен у основания камеры, имеющего меньшее сечение, а экран установлен у основания камеры с большим сечением. Изобретение позволяет осуществлять увеличение изображений исследуемых объектов одновременно с улучшением разрешающей способности, а также получать структуру объекта по глубине. 2 с. и 3 з.п. ф-лы, 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2
Формула изобретения
1. Способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов, эмиттирующих заряженные частицы, при котором ограничивают поперечное смещение частиц путем создания магнитного поля вдоль пути продвижения частиц от исследуемого объекта к экрану, отличающийся тем, что магнитное поле формируют равномерно убывающим от места размещения объекта в направлении к экрану при условии выполнения адиабатической инвариантности движения заряженных частиц в магнитном поле. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в случае эмиссии исследуемым объектом заряженных частиц (электронов или позитронов) из
Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов. Известен способ получения изображения объектов, эмитирующих электроны посредством электронного эмиссионного микроскопа [1] В этом способе электроны, испускаемые поверхностью объекта, ускоряют электрическим полем. Увеличение изображения эмитирующей поверхности получают посредством электростатической или магнитной оптики. В имерсионном объективе ускоряющее электрическое поле одновременно действует как объективная линза. Разрешение этого эмиссионного микроскопа определяется напряженностью электрического поля, полушириной энергетического распределения электронов, эмитируемых объектом, а также формой изучаемого микрообъекта. Недостатком этого известного решения является большое время экспозиции вследствие уменьшения эмитируемого потока электронов из-за его диафрагмирования для получения наилучшего разрушения, малая глубина, доступная для исследования объекта до 100-500 ангстрем, а также ограниченность применения. Известен также способ визуализации пространственного распределения радиоактивных элементов [2] существо первого варианта которого заключается в том, что излучаемые исследуемым объектом в результате радиоактивного распада электроны ускоряют в электрическом поле и фиксируют на фосфоресцирующем экране в виде скрытого изображения, считываемого после экспозиции системой лазерного сканирования. Разрешение, достигаемое этим способом, определяется отношением средней поперечной скорости электрона к его продольной скорости, приобретенной в электрическом поле. Для достижения высокой разрешающей способности в нем требуется создание электрического поля с напряжением порядка 1 МВ, прикладываемым к промежутку в несколько сантиметров, что технологически трудно достижимо. В этом же способе описан второй вариант, наиболее близкий к предложенному и взятый нами в качестве прототипа, в котором поперечное смещение электронов ограничивают однородным магнитным полем, что приводит к ограниченному вращательному движению электронов по винтовой траектории с ларморовским радиусом, определяемым величиной магнитного поля и энергией электронов. Это известное решение обладает высокой разрешающей способностью и позволяет увеличить чувствительность за счет уменьшения потерь электронов при удалении экрана от исследуемого объекта. В данном случае разрешение обратно пропорционально магнитному полю, т.е. улучшается с увеличением магнитного поля. Недостатком прототипа является невозможность получения увеличенного изображения исследуемого объекта, поскольку применение электростатической линзы, указанное для первого варианта этого способа, в сильном магнитном поле невозможно. Кроме того, прототип не допускает дальнейшего повышения разрешающей способности и получения структуры объекта по его глубине из-за интегрального характера лазерного считывания информации на экране без разделения отдельных импульсов информации по времени, а, следовательно, и по энергии электронов. Техническим результатом изображения является устранение указанных недостатков прототипа, а именно: возможность увеличения изображения исследуемого объекта и повышение разрешающей способности. Кроме того, изобретение предполагает исследование объектов, эмитирующих любые заряженные частицы, а не только электроны, что позволит расширить область применения, а также получать структуру объекта по глубине. Для достижения указанного технического результата в обозначенном известном способе визуализации на экране изображений исследуемых объектов, эмитирующих заряженные частицы, при котором поперечное смещение частиц ограничивают путем создания магнитного поля вдоль пути продвижения частиц от исследуемого объекта к экрану, предложено магнитное поле формировать равномерно убывающим от места размещения объекта в направлении к экрану с соблюдением условия адиабатической инвариантности движения заряженных частиц в магнитном поле. В случае эмиссии исследуемыми объектами в качестве заряженных частиц электронов или позитронов из


где v

v

B1 величина магнитного поля в области размещения исследуемого объекта;
B2 величина магнитного поля в области размещения экрана. Следствием этого условия является соотношение между ларморовскими радиусами частиц в области экрана и в области исследуемого объекта

где r1 ларморовский радиус вращения частиц в области размещения исследуемого объекта;
r2 ларморовский радиус вращения частиц в области размещения экрана. Вторым условием, связывающим значения магнитного поля и геометрические размеры в области экрана и в области исследуемого объекта, является условие сохранения потока магнитного поля
B1


где S1 площадь поперечного сечения, пронизываемого силовыми линиями магнитного поля в области размещения объекта;
S2 площадь поперечного сечения, пронизываемого силовыми линиями магнитного поля в области размещения экрана. Это условие дает соотношение между линейными размерами в областях размещения экрана и исследуемого объекта, т.е. между


Сравнение формул (*) и (**) однозначно указывает на то, что если ларморовские окружности вращения частиц в области сильного магнитного поля не пересекаются, то они не пересекаются и в области, где магнитное поле мало и где соответствующие ларморовские радиусы больше в





П=Pm/P


где П степень поляризации ядер;
Pm проекция усредненного по всем ядрам магнитного момента ядра на направление магнитного поля B1;
P магнитный момент ядра;
T температура захолаживания объекта. В данном случае разрешение может достигать величины, сравнимой с размером атома или выше, и определяется не величиной ларморовского радиуса бета-частиц, а степенью поляризации ядер. Достигнутые в предложенном способе и устройстве результаты по визуализации и увеличению изображений с большой разрешающей способностью широкого спектра объектов, эмитирующих заряженные частицы, позволяют реализовать новые возможности, в частности при исследовании материалов, содержащих радиоактивные вещества, сложных структур на поверхностях твердых тел, в ядерной физике и медицине. Источники информации
1. Лейзеганг З. Электронная микроскопия. М. 1960. 2. Патент Франции N 2699004, кл. H 01 J 31/50 08.12.92. 3. Арцимович Л.А. Управляемые термоядерные реакции. М. Физматгиз, 1961. 4. Джеффрис К. Динамическая ориентация ядер. М. Мир, 1965.
Класс H01J37/285 эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы
Класс H01J31/50 электронно-оптические преобразователи или видеоусилители, те приборы с оптическим, рентгеновским и тому подобным входом и оптическим выходом