способ визуализации изображений объектов, эмитирующих заряженные частицы, и устройство для реализации способа
Классы МПК: | H01J37/285 эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы H01J31/50 электронно-оптические преобразователи или видеоусилители, те приборы с оптическим, рентгеновским и тому подобным входом и оптическим выходом |
Автор(ы): | Маркин А.И., Черковец В.Е. |
Патентообладатель(и): | Государственный научный центр Российской Федерации Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований |
Приоритеты: |
подача заявки:
2001-02-19 публикация патента:
10.08.2003 |
Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам. Техническим результатом является получение изображений больших площадей исследуемых объектов, эмитирующих заряженные частицы. В способе визуализации на регистрирующем устройстве изображений исследуемых объектов, эмитирующих заряженные частицы, ограничивают их поперечное смещение путем создания магнитного поля в рабочей области движения частиц от объекта к регистрирующему устройству. Магнитное поле формируют равномерно возрастающим в рабочей области от исследуемого объекта в направлении к регистрирующему устройству. Устройство содержит полую многовитковую катушку для создания плавно возрастающего магнитного поля в рабочей области, элемент для крепления исследуемого объекта или узел крепления устройства перед исследуемой поверхностью объекта и регистрирующее устройство. Катушка выполнена с возрастающим количеством ампер-витков в направлении от объекта к регистрирующему устройству. Магнитная система может быть выполнена либо в виде соленоида, либо в виде стержня с остаточной намагниченностью. Данные магнитные системы транспортировки обеспечивают структуру возрастающего магнитного поля в рабочей области в виде сходящихся относительно продольной оси устройства силовых линий малой кривизны. Рабочая область между исследуемым объектом и регистрирующим устройством имеет форму усеченного конуса, где исследуемый объект с элементом крепления расположены у основания конуса с большим сечением, а регистрирующее устройство установлено у основания конуса с меньшим сечением. 2 с. и 4 з.п. ф-лы, 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2
Формула изобретения
1. Способ визуализации изображений объектов, эмитирующих заряженные частицы, при котором ограничивают поперечное смещение частиц путем создания магнитного поля, равномерно изменяющегося вдоль пути продвижения частиц от исследуемого объекта к устройству регистрации при выполнении условия адиабатической инвариантности движения заряженных частиц в магнитном поле, отличающийся тем, что магнитное поле формируют возрастающим в сторону размещения устройства регистрации в виде сходящихся магнитных силовых линий. 2. Устройство для реализации способа, содержащее систему транспортировки и подобного изображения от исследуемого объекта к устройству регистрации, отличающееся тем, что система транспортировки выполнена в виде фокусирующей магнитной системы со сходящимися к устройству регистрации силовыми линиями магнитного поля, при этом устройство регистрации размещено в камере. 3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что система транспортировки выполнена в виде многовитковой осесимметричной катушки, установленной соосно с камерой, с ее внешней стороны, и имеющей равномерно возрастающее в сторону размещения устройства регистрации количество ампер-витков. 4. Устройство по п.2, отличающееся тем, что система транспортировки выполнена в виде соленоида, обращенного торцем к устройству регистрации. 5. Устройство по п.2, отличающееся тем, что система транспортировки выполнена в виде стержня с остаточной намагниченностью, обращенного торцом к устройству регистрации. 6. Устройство по любому из пп.2-5, отличающееся тем, что камера выполнена вакуумированной.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам, и раскрывает способ визуализации изображений исследуемых объектов. Известен способ визуализации изображений распределения активности

В=B0{(L+a)[r2+(L+a)2]-1/2-L[r2+L2]-1/2},
где В0 - индукция магнитного поля на оси торца магнитной системы (Тл);
r - радиус бесконечно тонких витков с током или стержня (2r=d);
L - расстояние вдоль продольной оси устройства между торцом соленоида (стержня) и исследуемым объектом;
а - длина соленоида. Устройство может быть снабжено ускоряющей электростатической системой 10, предназначенной для увеличения продольной скорости частиц, имеющих недостаточные для эффективной регистрации начальные скорости. Система 10 выполнена в виде сетки, соединенной с источником напряжения. Электростатическая система не является обязательной при достаточных для регистрации потоках эмитируемых частиц из эмиттера. Способ визуализации изображений объектов, эмитирующих заряженные частицы, реализуют следующим образом. Предварительно в камере (рабочей области между эмиттером и экраном) создают благоприятные вакуумные условия от 105 до 10-5 Па в зависимости от энергетического спектра эмитируемых частиц и требований по разрешению, а также условий эксплуатации системы регистрации. Затем подают ток в катушку магнитной системы 2 для создания заданных значений магнитного поля или поле заранее уже создано в случае использования стержня с остаточной намагниченностью. Далее на экране регистрируют заряженные частицы, движущиеся от эмиттера к экрану в созданном возрастающем в направлении размещения экрана 3 магнитном поле, например от 0,0001 до 10 Тл, при соблюдении адиабатической инвариантности движения заряженных частиц, задаваемой условием: смещение частицы вдоль магнитного поля за один оборот должно быть меньше ларморовского радиуса движения частицы в магнитном поле, т.е. выполняется условие [4]:

где v

v

В1 - величина магнитного поля в области размещения объекта;
В2 - величина магнитного поля в области размещения экрана. Или в общем виде условие имеет вид:
|(rл/B)|


где rл - ларморовский радиус заряженных частиц в магнитном поле В. Следствием этого условия является следующее соотношение между ларморовскими радиусами частиц в области экрана (r2) и в области объекта (r1):
r2=r1(B1/B)2 1/2, (*)
где r1 - ларморовский радиус вращения частиц в области размещения объекта;
r2 - ларморовский радиус вращения частиц в области экрана. Вторым соотношением, связывающим значения магнитного поля и геометрические размеры в области экрана и в области исследуемого объекта, является условие сохранения потока магнитного поля:
B1


где S1 - площадь поперечного сечения, пронизываемого силовыми линиями магнитного поля в области размещения объекта;
S2 - площадь поперечного сечения, пронизываемого силовыми линиями магнитного поля в области размещения экрана. Это условие дает соотношение между линейными размерами b1, b2 в областях размещения эмиттера и экрана, т.е. между

b2=b1(B1/B2)1/2. (**)
Сравнение формул (*) и (**) указывает на то, что если ларморовские окружности вращения частиц в области слабого магнитного поля не пересекаются, то они не пересекаются и в области, где магнитное поле велико и где соответствующие ларморовские радиусы меньше в (B2/B1)0,5 раз. При этом все элементы объекта оказываются уменьшенными на экране в (В2/В1)0,5 раз в соответствии с формулой (**). В результате, например, при В1=0,001 Tл и В2=10 Тл при начальном поперечном линейном размере объекта ~0,5 м получается изображение размером ~10 мм и соответственно уменьшение в ~100 раз. Разрешение на экране определяется ларморовским радиусом частиц максимального магнитного поля rл2 = mv








Создание магнитного поля, равномерно возрастающего вдоль продольной оси системы от эмиттера 5 к экрану 3, позволяет существенно уменьшать линейный размер изображения (до 102 и более раз) при сохранении плотности тока частиц в потоке. В результате сокращения линейных размеров изображения существенно расширяется область применения, например проведение обследования больших поверхностей объектов. Предлагаемый способ позволяет существенно упростить задачу контролируемого поиска, например,


1. С. А. Gentile et. al. A Visual Detection System for Determining Tritium Surfase Deposition Emploing Phosphor Coated Materials. Prepared for the U.S. Departament of Energy, PPPL-3371, October, 99. 2. Патент России 2101800 от 21.06.1996, Н 01 J 37/285, 31/50. 3. З. Лейзеганг. Электронная микроскопия. M., 1960. 4. Л. А. Арцимович. Управляемые термоядерные реакции. М.: Физматгиз, 1961.
Класс H01J37/285 эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы
Класс H01J31/50 электронно-оптические преобразователи или видеоусилители, те приборы с оптическим, рентгеновским и тому подобным входом и оптическим выходом