Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности, исследование диффузионных эффектов, анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов, исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне: .Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда – G01N 13/10

Измерительное устройство содержит дисковидную несущую плату (1), множество кантилеверных матриц (3), расположенных на дисковидной несущей плате (1), с их главными осями, совмещенными с радиальным направлением несущей платы, средство вращения дисковидной несущей платы (1) с кантилеверными матрицами (3), устройство позиционирования кантилеверных матриц (3) и оптическую измерительную головку (7), расположенную в положении, соответствующем кантилеверным матрицам (3), и измеряющую перемещение кантилевера (2). Измерительное устройство последовательно измеряет изменения частоты и амплитуды кантилевера (2) в зависимости от поворота дисковидной несущей платы (1). Техническим результатом изобретения является упрощение устройства. 3 н. и 36 з.п. ф-лы, 17 ил.

Сканирующий зондовый микроскоп содержит средство привода, обеспечивающее детектируемое взаимодействие между зондом и образцом, средство придания колебаний либо зонду, либо образцу, механизм детектирования зонда и механизм обратной связи, обеспечивающий регулирование расстояния, отделяющего зонд и образец. Средство придания колебаний обеспечивает относительное колебательное движение зонда по занятой образцом поверхности так, что зонд выполняет по существу линейную развертку поверхности образца. Во время сканирования поверхности образца участок сканирования охватывается за счет упорядоченного расположения строк сканирования, каждая из которых снимается при колебании либо зонда, либо образца на его резонансной частоте или около его резонансной частоты, так что двойная амплитуда колебания равна максимальной длине строки сканирования, а их упорядоченное расположение обеспечивается действием средства привода. Обеспечивается более быстрое получение данных о взаимодействии образец-зонд и за счет этого повышение скорости считывания или записи информации. 3 н. и 20 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к обнаружению и идентификации веществ с чувствительностью к отдельным молекулам. Согласно изобретению используют консольную матрицу и подложку. Консольная матрица содержит консоли, каждая из которых имеет зонд. Подложка расположена под консольной матрицей. Подложка имеет поверхности, соответствующие зонду каждой консоли. Оконечности зондов консолей расположены с нанометрическими зазорами относительно соответствующих поверхностей подложки, что позволяет обеспечить захват, обнаружение и идентификацию по меньшей мере одного неизвестного вещества, находящегося на соответствующих поверхностях подложки, даже если вещество представлено единственной молекулой. 5 н. и 20 з.п. ф-лы, 9 ил.

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может использоваться на любом приборе из семейства сканирующих зондовых микроскопов, возможно также применение способа на растровом электронном микроскопе. Коррекция дрейфа осуществляется в автоматическом режиме. Вызываемые дрейфом искажения описываются линейными преобразованиями, которые справедливы в случае, когда скорость дрейфа микроскопа изменяется достаточно медленно. В качестве исходных данных используется одна или две пары встречно-сканированных изображений (ВСИ) рельефа поверхности. При встречном сканировании перемещение по строке растра и перемещение от строки к строке в одном изображении производят в направлении, противоположном направлению перемещения в другом. Согласно предложенному способу для исправления искажений необходимо в каждом ВСИ распознать одну и ту же особенность поверхности и определить ее латеральные координаты. Находя коэффициенты линейных преобразований, производят коррекцию ВСИ в латеральной и вертикальной плоскостях. Совместив исправленные ВСИ, выполняют усреднение рельефа в области их перекрытия. Способ позволяет оценивать погрешность исправления дрейфа и получать исправленные изображения, погрешность в которых не превышает некоторого заранее заданного значения. 21 з.п. ф-лы, 23 ил., 4 табл.

Изобретение применимо к сканирующему зондовому микроскопу, измерителю колебаний, анализатору поверхностей и граничных поверхностей электрической схемы, детектору массы, сети электронных схем, фильтру для захвата вещества, а также к измерениям температуры, распределению температуры в электронных устройствах и распределению температуры и метаболизма в биологических материалах. Техническим результатом изобретения является повышение надежности измерений. Трехмерная структура образована высоконадежными сверхтонкими кремниевыми проволоками размером порядка от нанометров до микрометров, сформированными влажным травлением с использованием кристалличности монокристаллического материала, при этом две проволоки образуют тонкую катушку. 9 н. и 19 з.п. ф-лы, 31 ил.

Изобретение относится к протеомике и медицинской диагностике. Регистрация макромолекул и их комплексов осуществляется с использованием сканирующей зондовой микроскопии и биочипа, представляющего иммобилизованное поле молекул, способных ковалентно или нековалентно взаимодействовать с исследуемыми макромолекулами и/или их комплексами, на подложке из слюды, с поверхностью, обработанной в плазме электрического разряда посредством прикладывания постоянного или низкочастотного напряжения к разрядному промежутку подложки с образцом и химически модифицированной силаном, при котором биочип помещают в раствор, содержащий исследуемые макромолекулы и/или их комплексы, и за счет ковалентного или нековалентного взаимодействия с иммобилизованными на подложке молекулами исследуемые макромолекулы и их комплексы вылавливают и после отмывки поля от неспецифических комплексов регистрируют. Использование способа позволяет повысить чувствительность метода сканирующей зондовой микроскопии при проведении протеомных исследований и медицинской диагностики. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе. Устройство управления скоростью сканирования туннельного микроскопа, вход которого подключен к системе стабилизации высоты острия микроскопа, содержит последовательно соединенные дифференциатор, экстраполятор и формирователь модуля. Регулировка величины интервала экстраполяции осуществляется источником, подключенным к экстраполятору. Выход формирователя модуля соединен с дифференциальным усилителем, на второй вход которого поступает сигнал установки. Выход дифференциального усилителя подключен к цепи из последовательно соединенных ограничителя, интегратора и блока управления переводом строки, в которой выходы интегратора и блока управления переводом строки являются выходами строчной и кадровой развертки микроскопа соответственно. Технический результат: повышение точности управления скоростью сканирования. 2 ил.