Контроль правильности работы запоминающих устройств, испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы: ..функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания (POST) или распределенные испытания – G11C 29/08

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования и определения запасов надежности карт полупроводниковой памяти. Техническим результатом является обеспечение возможности определения запаса надежности тестируемого устройства. Система состоит из автомата управления, контроллера интерфейса Ethernet, оперативного запоминающего устройства, контроллера интерфейса карты полупроводниковой памяти, блока регистров управления, блока формирования и измерения временных параметров интерфейса карты памяти с разрешением 2,5 нс, умножителя частоты на основе фазовой автоподстройки частоты, блока управления устройством ввода и устройством индикации, блока приемопередатчика последовательного интерфейса, программируемой логической интегральной схемы, микросхемы приемопередатчика интерфейса Ethernet, вторичного источника питания, постоянной перепрограммируемой памяти, преобразователя уровня напряжения интерфейса карты памяти, тактового генератора 25 МГц, устройства ввода, устройства индикации, датчика температуры карты памяти, управляемого источника питания с выходным напряжением от 1 В до 5 В, датчика тока и контактного устройства для подключения карты полупроводниковой памяти. 1 ил.