Контроль правильности работы запоминающих устройств, испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы: ......доступ одновременно к множеству разрядов – G11C 29/34

Представленное изобретение относится к способу тестирования многопортовых массивов памяти на рабочей частоте. Техническим результатом является сокращение времени тестирования массивов памяти. Способ тестирования массива памяти включает, во время режима теста: одновременную запись первого шаблона данных по первому адресу в массив памяти через первый порт записи и второго шаблона данных по второму адресу в массив памяти через второй порт записи, причем первый шаблон данных отличается от второго шаблона данных, считывание первого и второго шаблонов данных из массива памяти через, по меньшей мере, первый порт считывания, и одновременное сравнение первого шаблона данных, считанного из массива памяти, с первым шаблоном данных, записанным в массив памяти, на первом компараторе и сравнение второго шаблона данных, считанного из массива памяти, со вторым шаблоном данных, записанным в массив памяти, на втором компараторе, который является отличным от первого компаратора, не в режиме теста: прием постоянного шаблона данных на вход данных первого компаратора. 3 н. и 17 з.п. ф-лы, 4 ил.