Контроль правильности работы запоминающих устройств, испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы: .устройства для разработки схем тестирования, например подпрограмм тестирования (DFT) – G11C 29/54
Раздел G ФИЗИКА
G11 Накопление информации
G11C Запоминающие устройства статического типа
G11C 29/00 Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы
G11C 29/54 .устройства для разработки схем тестирования, например подпрограмм тестирования (DFT)